一种测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种测试方法和装置，测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，与测试板建立连接，所述方法包括：设置ISI测试模式，所述ISI测试模式包括：SPI测试模式和TDM测试模式；确定是否进行所述SPI测试模式；当确定进行所述SPI测试模式时，测试SPI数据读写是否正确；当确定不进行所述SPI测试模式，或者当测试所述SPI数据读写正确时，进行所述TDM测试模式，测试TDM数据读写是否正确；当测试所述TDM数据读写错误时，确定所述测试装置的测试问题。

A test method and device

The embodiment of the invention discloses a method and apparatus for testing, test device pre download default logic and preset procedures, establish a connection with the test board, the method includes: setting the ISI test mode, including the ISI test mode: SPI test model and TDM test mode; determine whether the SPI test mode; when determination of the SPI test mode, test SPI data read and write is correct; when the uncertainty of the SPI test mode, or when testing the SPI data read and write correctly when the TDM test mode, test TDM data read and write is correct; when testing the TDM data read and write error sure, test the testing device.

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法和装置
本专利技术涉及通信领域，尤其涉及一种测试方法和装置。
技术介绍
随着芯片集成度大幅提高，集成电路设计正快速地向系统集成芯片(SOC，System-on-a-Chip)上转变。SOC技术将多个系统功能映射到单个芯片上，在开发周期、系统功能和性能方面有着无可比拟的优点。然而，随着SOC集成接口的增加，对各个接口的测试访问也变得更加困难，进而也就为SOC的测试带来了更大的困难。
技术实现思路
为解决现有存在的技术问题，本专利技术实施例提供一种测试方法和装置，通过对外设芯片设置，使得ISI接口的测试变得高效、可靠。为达到上述目的，本专利技术实施例的技术方案是这样实现的：本专利技术实施例提供一种测试方法，所述测试方法应用于测试装置，所述测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，与测试板建立连接，所述方法包括：设置集成串行接口ISI测试模式，所述ISI测试模式包括：串行外设接口SPI测试模式和时分复用TDM测试模式；确定是否进行所述SPI测试模式；当确定进行所述SPI测试模式时，测试SPI数据读写是否正确；当确定不进行所述SPI测试模式，或者当测试所述SPI数据读写正确时，进行所述TD本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于测试装置，所述测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，与测试板建立连接，所述方法包括：设置集成串行接口ISI测试模式，所述ISI测试模式包括：串行外设接口SPI测试模式和时分复用TDM测试模式；确定是否进行所述SPI测试模式；当确定进行所述SPI测试模式时，测试SPI数据读写是否正确；当确定不进行所述SPI测试模式，或者当测试所述SPI数据读写正确时，进行所述TDM测试模式，测试TDM数据读写是否正确；当测试所述TDM数据读写错误时，确定所述测试装置的测试问题。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于测试装置，所述测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，与测试板建立连接，所述方法包括：设置集成串行接口ISI测试模式，所述ISI测试模式包括：串行外设接口SPI测试模式和时分复用TDM测试模式；确定是否进行所述SPI测试模式；当确定进行所述SPI测试模式时，测试SPI数据读写是否正确；当确定不进行所述SPI测试模式，或者当测试所述SPI数据读写正确时，进行所述TDM测试模式，测试TDM数据读写是否正确；当测试所述TDM数据读写错误时，确定所述测试装置的测试问题。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，包括：所述测试装置预先下载系统集成芯片SOC逻辑，进行复位设置，通过trace32下载arm程序。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试SPI数据读写是否正确，包括：将第一预设数组中的输入数据写入所述测试板的寄存器，每写入一个第一数据至所述寄存器，读取写入所述第一数据后所述寄存器的第一输出数据，所述第一数据为所述第一预设数组中的任意一个数据；当所述第一数据与所述第一输出数据相同时，确定所述SPI数据读写正确；当所述第一数据与所述第一输出数据不同时，确定所述SPI数据读写错误。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试TDM数据读写是否正确，包括：通过SPI接口设置所述测试板为TDM数据回环；设置n个输出数组和n个输入数组，每一个所述输出数组中的数据为递增的数据序列，所述输入数组中的数据为相同的预设数据；n为大于等于3的自然数；分别发送所述n个输出数组中的数据至所述测试板，读取所述测试板发送的TDM数据，所述TDM数据替换所述预设数据存储于所述输入数组，其中，每发送一个所述输出数组，打开发送中断；当发送至所述测试板第二数据与接收所述测试板发送的第一TDM数据相同，确定所述TDM数据读写正确，其中，所述第二数据为所述n个输出数组中的任意一个数据，所述第一TDM数据为发送所述板第二数据至所述测试板后所述测试板环回发送的TDM数据；当所述第二数据与所述第一TDM数据不同时，确定所述TDM数据读写错误。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试SPI数据读写是否正确之后，包括：当测试所述SPI数据读写错误时，确定测试问题，通过trace32下载arm程序，设置ISI测试模式重新进行测试；在所述当测试所述TDM数据读写错误时，确定所述测试装置的测试问题之后，包括：通过trace32下载arm程序，设置ISI测试模式重新进行测试。6.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，与测试板建立连...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢春，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44