The utility model discloses a smart card test adapter, comprising induction zone isolation frame, panel, side panel, a fixing block, an upper panel, operation identification, induction zone is connected to the upper panel panel embedded below the induction zone panel and panel using interference fit connection, isolation frame connected to the top panel of nested the surface of the side plate and a fixed block integral structure, the side panels are connected to the fixed block front side panel is vertically connected with the upper panel, the fixing block through built-in buckle fixing buckled with the upper panel below the rear panel panel is arranged on the fixed buckle through the induction zone outside the operation identified by the binder attached to the induction panel on the surface, the operation is identified by induction zone isolation frame panel is arranged on the inner surface, the utility model realizes the smart card test induction test adapter, can display Whether the current induction state of the smart card is a smooth induction connection, the display result is accurate and clear, the user's operation judgment is convenient, and the use is more convenient and fast.
【技术实现步骤摘要】
一种智能卡测试适配器
本技术是一种智能卡测试适配器,属于智能卡测试适配器领域。
技术介绍
智能卡:内嵌有微芯片的塑料卡的通称。一些智能卡包含一个微电子芯片,智能卡需要通过读写器进行数据交互。智能卡配备有CPU、RAM和I/O,可自行处理数量较多的数据而不会干扰到主机CPU的工作。智能卡还可过滤错误的数据,以减轻主机CPU的负担。适应于端口数目较多且通信速度需求较快的场合,卡内的集成电路包括中央处理器CPU、可编程只读存储器EEPROM、随机存储器RAM和固化在只读存储器ROM中的卡内操作系统COS(。卡中数据分为外部读取和内部处理部分。现有技术公开申请号为CN201320793633.3的一种智能卡测试适配器,其包括电路板和与电路板相连的测试针组,当对多芯片智能卡中的芯片进行测试时可移动测试针组,使测试针组与多芯片智能卡中的芯片依次接触,通过电路板与芯片进行信息交互,从而达到对多芯片智能卡中的芯片进行测试的目的,本智能卡测试适配器能够适用于多芯片智能卡,相对于现有技术的智能卡读卡器而言,更具有通用性,但是该智能卡测试适配器测试使用时,测试适配器无法显示当前智能卡感应状态是否良好,导致使用者容易产生错误判断,为使用带来诸多不便。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足,本技术目的是提供一种智能卡测试适配器,以解决显示智能卡测试时感应状态的问题。为了实现上述目的,本技术目的提供的是一种智能卡测试适配器,其结构包括感应区面板、隔离框、侧面板、固定块、上面板、操作标识,所述感应区面板嵌入连接于上面板下方,所述感应区面板与上面板采用过盈配合连接,所述隔离框嵌套连接于上面板上表 ...
【技术保护点】
一种智能卡测试适配器,其结构包括感应区面板(1)、隔离框(2)、侧面板(3)、固定块(4)、上面板(5)、操作标识(6),所述感应区面板(1)嵌入连接于上面板(5)下方,所述感应区面板(1)与上面板(5)采用过盈配合连接,所述隔离框(2)嵌套连接于上面板(5)上表面,所述侧面板(3)与固定块(4)呈一体成型结构,所述侧面板(3)连接于固定块(4)前侧,所述侧面板(3)与上面板(5)呈垂直连接,所述固定块(4)通过内置卡扣固定扣合于上面板(5)下方后侧,所述固定块(4)通过上面板(5)设于感应区面板(1)外侧,所述操作标识(6)通过粘结剂贴合于感应区面板(1)上表面,所述操作标识(6)通过感应区面板(1)设于隔离框(2)内部表面,其特征在于:所述上面板(5)设有感应状态显示灯(50)、电源状态显示灯(51)、凹槽内壁(52),所述感应状态显示灯(50)嵌入连接于上面板(5)上方内部,所述电源状态显示灯(51)嵌入连接于上面板(5)上方内部,所述凹槽内壁(52)与上面板(5)呈一体成型结构,所述凹槽内壁(52)连接于上面板(5)上方;所述感应状态显示灯(50)由灯罩(500)、灯壳(501 ...
【技术特征摘要】
1.一种智能卡测试适配器,其结构包括感应区面板(1)、隔离框(2)、侧面板(3)、固定块(4)、上面板(5)、操作标识(6),所述感应区面板(1)嵌入连接于上面板(5)下方,所述感应区面板(1)与上面板(5)采用过盈配合连接,所述隔离框(2)嵌套连接于上面板(5)上表面,所述侧面板(3)与固定块(4)呈一体成型结构,所述侧面板(3)连接于固定块(4)前侧,所述侧面板(3)与上面板(5)呈垂直连接,所述固定块(4)通过内置卡扣固定扣合于上面板(5)下方后侧,所述固定块(4)通过上面板(5)设于感应区面板(1)外侧,所述操作标识(6)通过粘结剂贴合于感应区面板(1)上表面,所述操作标识(6)通过感应区面板(1)设于隔离框(2)内部表面,其特征在于:所述上面板(5)设有感应状态显示灯(50)、电源状态显示灯(51)、凹槽内壁(52),所述感应状态显示灯(50)嵌入连接于上面板(5)上方内部,所述电源状态显示灯(51)嵌入连接于上面板(5)上方内部,所述凹槽内壁(52)与上面板(5)呈一体成型结构,所述凹槽内壁(52)连接于上面板(5)...
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