摩擦配向方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种摩擦配向方法及其装置。摩擦配向方法包括：在摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。本发明专利技术通过在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，并根据回弹力获得基板的摩擦痕迹，不仅实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量，而且实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦布缺陷。与现有技术相比，本发明专利技术由于是在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量和摩擦布缺陷，因而可以及时发现摩擦缺陷并进行相应的处理，减小了存在摩擦缺陷的基板的数量，最大限度地避免了浪费。

【技术实现步骤摘要】
摩擦配向方法及其装置
本专利技术涉及显示技术生产
，具体涉及一种摩擦配向方法及其装置。
技术介绍
液晶显示(LiquidCrystalDisplay，LCD)面板由阵列基板和彩膜基板对盒形成，在阵列基板和彩膜基板之间滴注有液晶。为了使液晶分子在没有电场的情况下按照一定的方向规则排列，阵列基板和彩膜基板的相对面上分别设置有配向膜，配向膜上设置有沿一定方向规则排列的沟槽，沟槽能使液晶分子在无电场的情况下，沿着沟槽按照设定的方向均匀的排列在基板表面，实现多个液晶分子的配向。通常，配向膜上的沟槽通过包裹在摩擦辊(Roller)上的摩擦布(RubbingCloth)以一定方向和压入量对涂覆并固化在基板上的配向膜进行摩擦形成。因此，摩擦配向工艺是制造液晶显示面板的一道重要工序，摩擦配向质量直接影响到液晶显示面板的品质。通常，阵列基板和彩膜基板的表面存在段差，段差是指基板经过多道工艺而形成的表面结构高低不平的状态。例如，每次干刻和湿刻后，因部分区域的图案被刻蚀掉会形成表面的高低不平。在摩擦配向过程中，当摩擦辊在基板表面沿设定的方向滚动时，基板表面段差会导致摩擦布出现局部多毛、少毛或损伤等缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种摩擦配向方法，其特征在于，包括：在摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。

【技术特征摘要】
1.一种摩擦配向方法，其特征在于，包括：在摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。2.根据权利要求1所述的摩擦配向方法，其特征在于，所述测量摩擦布的回弹力包括：采用回弹力测量装置对摩擦布的回弹力进行测量，并将测量结果发送给数据处理装置，测量结果包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力。3.根据权利要求2所述的摩擦配向方法，其特征在于，所述根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹包括：数据处理装置根据所述测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据所述摩擦布的回弹力获得所述摩擦位置的摩擦痕迹。4.根据权利要求1～3任一所述的摩擦配向方法，其特征在于，还包括：根据所述摩擦痕迹判断摩擦配向的质量。5.根据权利要求1～3任一所述的摩擦配向方法，其特征在于，还包括：判断所述回弹力超出预先设置的标准阈值时，对摩擦痕迹进行标记；根据所述标记确定摩擦布的缺陷点。6.根据权利要求1～3任一所述的摩擦配向方法，其特征在于，在对基板进行摩擦配向之前，还包括：测量摩擦布绒毛的特征长度；计算所述特征长度的均值和偏差值；判断所述偏差值是否小于或等于预先设置的标准偏差值，是则根据所述均值设置摩擦布的压入量，根据所述压入量控制摩擦布压入基板，开始摩擦配向；否则对摩擦布进行检查。7.一种摩擦配向装置，包括对基板进行摩擦配向处理的摩擦辊，其特征在于，还包括回弹力测量装置和数据处理装置，所述回弹力测量装置用于在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，所述数据处理装置与所述回弹力测量装置电连接，用于根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。8.根据权利要求7所述的摩擦配向装置，其特征在于，还包括显示装置，所述显示装置与所述数据处理装置电连接，用于显示所述基板的摩擦痕迹。9.根据权利要求7或8所述的摩擦配向装置，其特征在于，所述数据处理装置包括接收单元、判断单元、生成单元和存储...

【专利技术属性】
技术研发人员：井杨坤，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11