一种PT100电阻测温方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种PT100电阻测温方法及系统，通过MCU芯片根据采样芯片对100Ω精密电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，得到温度校正值；再根据采样芯片对相应PT100电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，得到各个温度检测值；然后计算温度检测值减去温度校正值得到的差值，以差值更新相应的温度检测值；进而实现对于PT100电阻的测温校准，提高了采样精度，减小了现有技术中的采样偏差。

【技术实现步骤摘要】
一种PT100电阻测温方法及系统
本专利技术涉及电力电子
，特别涉及一种PT100电阻测温方法及系统。
技术介绍
通常，PT100电阻测温系统广泛应用于医疗、电机、工业等高精温度设备中，以使其应用设备能够根据检测得到的温度值来进行相关的控制及保护。图1是现有技术中该系统的结构示意图，包括：具有4路采样通道的采样芯片，和，与采样芯片进行通信的MCU(MicrocontrollerUnit，微控制单元)芯片；其中，MCU芯片通过SPI通讯读取采样芯片采集到的温电阻数字量之后，再通过查电阻-温度表得到对应的温度值。根据PT100电阻的温度-电阻特性可知，100Ω电阻对应的温度理论值为0℃，但是受采样芯片本身工艺及其外部环境的影响，在进行实际温度测量时，将100Ω精密电阻接到采样芯片的任一采样通道上，发现检测得到的温度值并不一定为0，最大误差达到3℃以上，而这样的采样偏差将会影响其应用设备的后续控制及保护逻辑。
技术实现思路
本专利技术提供一种PT100电阻测温方法及系统，以解决现有技术中存在较大采样偏差的问题。为实现上述目的，本申请提供的技术方案如下：一种PT100电阻测温方法，应用于P本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PT100电阻测温方法，其特征在于，应用于PT100电阻测温系统中的微控制单元MCU芯片；所述PT100电阻测温系统还包括：采样芯片及100Ω精密电阻；所述PT100电阻测温方法包括：根据所述采样芯片任一采样通道对所述100Ω精密电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，得到温度校正值；根据所述采样芯片其他采样通道对相应PT100电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，得到各个温度检测值；分别计算各个温度检测值减去所述温度校正值得到的差值，以各个差值更新相应的温度检测值。

【技术特征摘要】
1.一种PT100电阻测温方法，其特征在于，应用于PT100电阻测温系统中的微控制单元MCU芯片；所述PT100电阻测温系统还包括：采样芯片及100Ω精密电阻；所述PT100电阻测温方法包括：根据所述采样芯片任一采样通道对所述100Ω精密电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，得到温度校正值；根据所述采样芯片其他采样通道对相应PT100电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，得到各个温度检测值；分别计算各个温度检测值减去所述温度校正值得到的差值，以各个差值更新相应的温度检测值。2.一种PT100电阻测温方法，其特征在于，应用于PT100电阻测温系统中的MCU芯片；所述PT100电阻测温系统还包括：采样芯片、N个100Ω精密电阻、N个数控模拟开关及N个连接端子；N为正整数，是所述采样芯片的采样通道数量；所述PT100电阻测温方法包括：控制各个数控模拟开关内的通道选择，使各个所述采样通道分别对相应100Ω精密电阻和PT100电阻进行采样；根据采样得到的电阻值数字量分别进行查表，以得到相应温度校正值和温度检测值；分别计算各个温度检测值减去相应温度校正值得到的差值，以各个差值更新相应的温度检测值。3.根据权利要求2所述的PT100电阻测温方法，其特征在于，所述控制各个数控模拟开关内的通道选择，使各个所述采样通道分别对相应100Ω精密电阻和PT100电阻进行采样，包括：控制各个数控模拟开关内的通道选择，使各个所述采样通道先对相应100Ω精密电阻进行采样，再对相应PT100电阻进行采样。4.根据权利要求2或3所述的PT100电阻测温方法，其特征在于，所述根据采样得到的电阻值数字量分别进行查表，以得到相应温度校正值和温度检测值，包括：根据对相应100Ω精密电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，以得到相应温度校正值；根据对相应PT100电阻进行采样得到的电阻值数字量进行查表，以得到相应温度检测值。5.根据权利要求3所述的PT100电阻测温方法，其特征在于，在所述对相应PT100电阻进行采样之后，还包括：控制计数器开始计时；在所述以各个差值更新相应的温度检测值之后，还包括：判断所述计数器的计时是否超过预设时长；若所述计数器的计时超过所述预设时长，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾凡超，杨春源，施丽，汪令祥，
申请(专利权)人：阳光电源股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34