热控器件阻值测量系统技术方案

技术编号:16967496 阅读:37 留言:0更新日期:2018-01-07 05:17
本发明专利技术公开了一种热控器件的阻值测量系统,包括测控控制器、夹具、电阻测试卡、热电偶测试卡等,其中,夹具为压扣式或按压式,形成40路以上的阵列,电阻测量时,测控控制器指定阵列中对应夹具的测量通道,电阻测试卡通过DO控制多路矩阵开关卡闭合指定的相应测量通道,建立指定通道的测量回路,由电阻测试卡测量电阻阻值Rx,并通过接口反馈给测控控制器,完成一个通道的测量,直至完成所有测量通道的测量。本发明专利技术采用单通道压扣式,操作简便,接触面积大,连接牢靠且体积小,重量轻,便于移动和快速部署。

Thermal control device resistance measurement system

The invention discloses a resistance measurement system of a thermal control device includes control, controller, fixture, resistance test card, thermocouple test card, the fixture for the buckle type or press type, form an array of more than 40 channels, resistance measurement, measurement and measurement channel controller specified in the array corresponding fixture, resistance test the card is controlled by DO multiplex matrix switch card corresponding measuring channel closure is specified, the measuring circuit establishes the specified channel, by the resistance test card measure resistance value Rx, and to control the controller through the interface of feedback, measurement of a single channel, until the completion of all measurement measurement channel. The invention adopts single channel button type, simple operation, large contact area, reliable connection, small volume, light weight, easy movement and rapid deployment.

【技术实现步骤摘要】
热控器件阻值测量系统
本专利技术属于航天器器件电阻测量
,具体来说,本专利技术涉及一种是适用于热控器件的电阻值测量设备。
技术介绍
在工程中多采用万用表来测量电子器件的电阻值,通常,都是一个电子器件进行一次测量,当面对航天器中多个热控器件的电阻值测量时,需要能够一次测量多个被测件。这时,显然上述利用万用表的电子器件电阻值的测量方法不能满足新的测量要求。为此,单次获得多个热控器件的电阻值测量是目前工程
中需要迫切解决的技术难题。鉴于人工利用万用表来测量电阻值存在效率低下,后期数据处理复杂,人工测量容易出错等弊端,需要采用数字化的方式来进行测量,同时,可视化都是未来测量的趋势,本系统就是一个典型的传统测量系统的数字化产物,本专利技术电阻值的传统测量模式向数字化测量提出了有益的借鉴。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术的专利技术目的在于提供一种热控器件的阻值测量系统,该系统通过配置多块电阻测量模块达到通道数量的设计要求,并借助多卡控制更多的控制资源,使得阻值测量更加高效,快捷和准确。因此,本系统提供了一种热控器件的阻值测量系统,包括测控控制器、夹具、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡和电源模块,其中,夹具为压扣式或按压式,形成40路以上的阵列,电源模块分别为测控控制器、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡供电,测控控制器分别通过串口与电阻测试卡、热电偶测试卡进行电通信,电阻测量时,测控控制器指定阵列中对应夹具的测量通道,电阻测试卡通过DO控制多路矩阵开关卡闭合指定的相应测量通道,建立指定通道的测量回路,由电阻测试卡测量指定通道的电阻阻值Rx,并将测量值通过RS232通信接口反馈给测控控制器,完成一个通道的测量,同时,多路矩阵开关卡用于夹具接口至电阻测试卡和电偶测试卡之间的切换,在电阻测量的同时利用电偶测试卡获得对应温度并将温度值反馈给测控控制器;测控控制器根据被测件的情况,依次指定测量通道,完成所有测量通道的测量。其中,电偶测试卡为NI9213的电偶测试卡。其中,电阻测试卡包括开关切换功能和电阻测试功能。其中,整个测量系统集成在一个壳体上,40路以上阵列的夹具集成在一块基板上,基板可枢轴转动地设置在壳体一侧上。其中,热电偶测试卡由3块NI9213热电偶测量卡组成,每块卡16通道,共计48通道,用于测量48路热电偶输出电压。其中,电阻测试卡由一个电阻测量通路和40路多路矩阵开关卡。电阻测试卡提供1路电阻测试,通过多路矩阵开关卡扩展到40路测量。组成,多路切换卡具有四组,每组12路切换开关,通过多路切换,电阻测试卡可测量最多48通道电阻。其中,串口为RS232通信接口。与现有技术相比,本专利技术的系统中的测控软件基于Labview2013开发,用户界面友好,简洁,易于操作及维护;开发及运行环境为Window7。易于维护,功能强大,可靠性高;夹具采用单通道压扣式,操作简便,接触面积大,连接牢靠;体积小,重量轻,便于移动和快速部署;系统采用模块化开发,模块功能内聚,各模块之间松耦合;系统集成度高,集成了测控系统硬件、电阻测试卡、热电偶测试卡及多路矩阵开关卡等测控资源;可测量热电偶,热敏电阻,加热片,加热带等多种热控器件;可测量电阻、电压等多种类型输入信号。此外,本专利技术的优点包括:1.系统硬件采用模块化开发,便于维护及扩展;2.多达40路测量输入,可通过系统软件配置测量参数,测量过程自动控制,极大提高了测量效率;3.电阻测试卡具有自动量程切换,可根据被测件阻值选择适当量程;并且,电阻测试卡具有限流保护功能,能够有效保护被测件安全;4.能够测量多种类型热电偶,具有并行40通道热电偶测量输入。附图说明图1为本专利技术的热控器件阻值测量系统的结构示意图。具体实施方式以下介绍的是作为本专利技术所述内容的具体实施方式,下面通过具体实施方式对本专利技术的所述内容作进一步的阐明。当然,描述下列具体实施方式只为示例本专利技术的不同方面的内容,而不应理解为限制本专利技术范围。以下结合附图对本专利技术的实施方式作进一步地说明。参见图1,图1显示了本专利技术的热控器件阻值测量系统的结构,本专利技术的热控器件阻值测量系统主要包括测控控制器、夹具、电阻测试卡、NI9213的电偶测试卡、多路矩阵开关卡和电源模块,其中,夹具为压扣式或按压式,形成40路以上的阵列,电源模块分别为测控控制器、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡供电,测控控制器分别通过RS232通信接口与电阻测试卡、热电偶测试卡进行电通信,整个测量系统集成在一个壳体上,40路阵列的夹具集成在一块基板上,基板可枢轴转动地设置在壳体一侧上。电阻测量时,测控控制器指定阵列中对应夹具的测量通道,电阻测试卡通过DO控制多路矩阵开关卡闭合指定的相应测量通道,建立指定通道的测量回路,由电阻测试卡测量指定通道的电阻阻值Rx,并将测量值通过RS232通信接口反馈给测控控制器,完成一个通道的测量,同时,多路矩阵开关卡用于夹具接口至电阻测试卡和电偶测试卡之间的切换,在电阻测量的同时利用电偶测试卡获得对应温度并将温度值反馈给测控控制器;测控控制器根据被测件的情况,依次指定测量通道,完成所有测量通道的测量。在一具体实施方式中,电阻测试卡包括开关切换功能和电阻测试功能。在一具体实施方式中,热电偶测试卡由3块NI9213热电偶测量卡组成,每块卡16通道,共计48通道,用于测量48路热电偶输出电压,其中8个通道备用。在一具体实施方式中,电阻测试卡具有一个电阻测量通路,通过多路矩阵开关卡扩展到40路测量。此外,本专利技术的热控器件阻值测量系统的结构部分可进行一体化设计。结构部分集成了测控计算机及其附件、夹具、电源模块以及电阻测量模块。其中,箱体的一侧面上可分别设置两个可转动基板,其中一个基板用于设置热控控制器,另一个基板上课设置40路的夹具阵列,两基板可转动折叠关闭箱体,且箱体内部设置。测量过程说明:启动系统,带系统预热30分钟后开始测量;将被测件安装到输入通道夹具上,复检每个被测件可靠安装;打开系统软件,根据实际测试对象配置通道输入类型、数量及测量相关信息;启动测量,系统软件根据配置完成所有通道测量,并显示测量结果;测量完成后,操作人员运行数据管理模块,选择需要生成测试报表的测试名称,系统自动生成测试报表。尽管上文对本专利技术的具体实施方式进行了详细描述和说明,但是应该指明的是,本领域的技术人员可以依据本专利技术的精神对上述实施方式进行各种等效改变和修改,其所产生的功能作用在未超出说明书及附图所涵盖的精神时,均应在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
热控器件阻值测量系统

【技术保护点】
热控器件的阻值测量系统,包括测控控制器、夹具、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡和电源模块,其中,夹具为压扣式或按压式,形成40路以上的阵列,电源模块分别为测控控制器、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡供电,测控控制器分别通过串口与电阻测试卡、热电偶测试卡进行电通信,电阻测量时,测控控制器指定阵列中对应夹具的测量通道,电阻测试卡通过DO控制多路矩阵开关卡闭合指定的相应测量通道,建立指定通道的测量回路,由电阻测试卡测量指定通道的电阻阻值Rx,并将测量值通过RS232通信接口反馈给测控控制器,完成一个通道的测量,同时,多路矩阵开关卡用于夹具接口至电阻测试卡和电偶测试卡之间的切换,在电阻测量的同时利用电偶测试卡获得对应温度并将温度值反馈给测控控制器;测控控制器根据被测件的情况,依次指定测量通道,完成所有测量通道的测量。

【技术特征摘要】
1.热控器件的阻值测量系统,包括测控控制器、夹具、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡和电源模块,其中,夹具为压扣式或按压式,形成40路以上的阵列,电源模块分别为测控控制器、电阻测试卡、热电偶测试卡、多路矩阵开关卡供电,测控控制器分别通过串口与电阻测试卡、热电偶测试卡进行电通信,电阻测量时,测控控制器指定阵列中对应夹具的测量通道,电阻测试卡通过DO控制多路矩阵开关卡闭合指定的相应测量通道,建立指定通道的测量回路,由电阻测试卡测量指定通道的电阻阻值Rx,并将测量值通过RS232通信接口反馈给测控控制器,完成一个通道的测量,同时,多路矩阵开关卡用于夹具接口至电阻测试卡和电偶测试卡之间的切换,在电阻测量的同时利用电偶测试卡获得对应温度并将温度值反馈给测控控制器;测控控制器根据被测件的情况,依次指定测...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯涛李志明黄垒江大为刘小义鹿旭东祝国辉郭洺宇徐珍胡全忠吴小洲梁园园
申请(专利权)人:北京卫星环境工程研究所
类型:发明
国别省市:北京,11

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