用于测试装置的设备及方法制造方法及图纸
Equipment and methods used for testing devices
The present invention includes equipment and methods related to a testing device, such as measuring a device by measuring a signal emitted by a device. An apparatus may include: in the first part, comprising a plurality of side positioning to at least partially surrounding the device being tested and the wall; two part, which is electrically coupled to the first portion, wherein the second part configured to in X direction, Y direction and Z direction of movement.
【技术实现步骤摘要】
用于测试装置的设备及方法
本专利技术大体上涉及测试装置，且更特定来说，涉及通过测量由装置发射的信号来测试装置。
技术介绍
可测试例如在计算操作期间使用的电子装置的装置，以确定所述装置是否发射可干扰其它装置的信号。装置可发射电磁信号及/或射频信号。可设计装置使得电磁信号及/或射频信号处于不干扰其它装置的操作的电平。测试装备可用于测量从被测试装置发射的信号。测试装备可包含计算装备及电路以操作被测试装置并测量由被测试装置发射的电磁信号及/或射频信号。当测试用于电磁信号及/或射频信号发射的装置时，所述装置可与来自其它装置的电磁信号及/或射频信号的发射隔离，但测试仍受到来自执行测试的装备的发射的影响。使用无屏蔽测试装备的测试可包含归因于包含来自无屏蔽测试装备的电磁信号及/或射频信号发射的测试测量而可能不准确的结果。
技术实现思路
附图说明图1是根据本专利技术的数个实施例的电磁兼容性(EMC)测试设备的框图。图2A到2D是根据本专利技术的数个实施例的包含测试外壳的电磁兼容性(EMC)测试设备的一部分的框图。图3A到3D是根据本专利技术的数个实施例的包含测试外壳的电磁兼容性(EMC...
【技术保护点】
一种设备，其包括：第一部分，其包含经定位以至少部分地围绕被测试装置的数个侧壁；以及第二部分，其电耦合到所述第一部分，其中所述第二部分经配置以在x方向、y方向及z方向上移动。
【技术特征摘要】
2016.06.14 US 62/349,939;2017.05.26 US 15/606,1091.一种设备，其包括：第一部分，其包含经定位以至少部分地围绕被测试装置的数个侧壁；以及第二部分，其电耦合到所述第一部分，其中所述第二部分经配置以在x方向、y方向及z方向上移动。2.根据权利要求1所述的设备，其中导电带将所述第一部分电耦合到所述第二部分。3.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一部分的上表面经由金属垫片电耦合到所述第二部分。4.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一部分被焊接到所述第二部分以将所述第一部分电耦合到所述第二部分。5.根据权利要求1所述的设备，其中天线耦合到所述第二部分以测量来自所述设备内的所述被测试装置的电磁干扰EMI及/或射频RF噪声。6.根据权利要求1所述的设备，其中第二部分由导电织物构成。7.根据权利要求6所述的设备，其中所述导电织物耦合到天线并且经配置以使所述天线能够在所述设备内沿所述x方向、y方向及z方向移动。8.一种设备，其包括：第一部分，其包含经定位以至少部分地围绕被测试装置的数个侧壁；第二部分，其具有经定位以至少部分地围绕所述第一部分及所述被测试装置的数个侧壁，其中所述第二部分的所述侧壁经配置以相对于所述第一部分的所述数个侧壁在所述z方向上移动；第三部分，其位于所述第二部分的上表面上，其中所述第三部分包含开口；以及第四部分，其位于所述第三部分的上表面上，其中所述第四部分经配置以相对于所述第三部分的所述上表面在所述x方向及所述y方向上移动。9.根据权利要求8所述的设备，其中所述第一部分、所述第二部分、所述第三部分及所述第四部分围绕所述被测试装置，并且阻挡在所述第一部分、所述第二部分、所述第三部分及所述第四部分之外的电磁信号...
【专利技术属性】
技术研发人员：保罗·E·格雷戈里，朗东·K·理查兹，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：美国,US
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