一种测试结果统计分析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试结果统计分析方法及装置，该方法包括：对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到包括案例数、测试问题解决总时长、测试工作量、测试缺陷数和测试问题数的初步统计分析结果；建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到包括测试率、测试问题平均解决时长、测试案例平均异常率、测试缺陷遗漏率和测试异常发现率的目标统计分析结果。进而实现了提高测试结果分析效率和分析准确性的目的。

A method and device for statistical analysis of test results

The invention discloses a method and a device for statistical analysis of test results, the method includes: processing of test results obtained in the form of data, preliminary statistics, the number of test cases including problem solving, the total length of the test workload, test number and the number of defects testing results; establish analysis model the statistics, through the statistical analysis and calculation model, the preliminary statistical analysis results were calculated, including testing rate, test duration, average resolution test case average abnormal rate, missing rate and abnormal test test defects found results analysis of target rate statistics. Furthermore, the purpose of improving the efficiency and accuracy of the analysis of the test results is realized.

【技术实现步骤摘要】
一种测试结果统计分析方法及装置
本专利技术涉及产品测试
，特别是涉及一种测试结果统计分析方法及装置。
技术介绍
随着计算机的发展，越来越多的产品变为了网络产品或者是无形产品，例如各种软件。而软件也从普通的计算机软件，发展到银行或者商场的终端系统软件。在每个软件产品或者其他类似的产品及项目上市之前，往往会对其产品性能等一系列的指标进行测试，得到产品的测试结果。然后，对产品的测试结果进行统计分析可以发现产品的设计缺陷或者问题，进而可以对缺陷和问题进行对应的解决来完善产品的性能。但是，现有针对测试结果的统计分析过程，并没有标准的统计分析方法，也没有建立标准的统计分析工具。同时，当测试人员对测试结果进行分析时，往往会因为主观判断影响分析结果。综上所述，现有的测试结果的统计分析方法，会导致分析得到测试结果的缺陷数或问题数的时间，以及发现问题后的问题解决时长等花费较多的时间，而且会出现分析结果不准确的现象。
技术实现思路
针对于上述问题，本专利技术提供一种测试结果统计分析方法及装置，实现了提高测试结果分析效率和分析准确性的目的。为了实现上述目的，根据本专利技术的第一方面，提供了一种测试结果统计本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试结果统计分析方法，其特征在于，该方法包括：对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果，其中，所述初步统计分析结果包括案例数、测试问题解决总时长、测试工作量、测试缺陷数和测试问题数；建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到目标统计分析结果，其中，所述目标统计分析结果包括测试率、测试问题平均解决时长、测试案例平均异常率、测试缺陷遗漏率和测试异常发现率。

【技术特征摘要】
1.一种测试结果统计分析方法，其特征在于，该方法包括：对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果，其中，所述初步统计分析结果包括案例数、测试问题解决总时长、测试工作量、测试缺陷数和测试问题数；建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到目标统计分析结果，其中，所述目标统计分析结果包括测试率、测试问题平均解决时长、测试案例平均异常率、测试缺陷遗漏率和测试异常发现率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果之前，该方法还包括：预设测试功能点数和测试应发现缺陷数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对获取到的测试结果表单中的数据进行处理，得到初步统计分析结果，包括：获取测试结果表单，其中，所述测试结果表单包括测试问题、项目信息、测试工作量、问题提出日期和问题解决日期；根据所述项目信息进行统计分析，得到测试的案例数；对每个问题的解决时长进行加和计算，得到测试问题解决总时长；依据问题缺陷定义表单，对所述测试问题进行分析，得到测试缺陷数；对所述测试问题进行数量统计，得到测试问题数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述建立统计分析计算模型，通过所述统计分析计算模型，对所述初步统计分析结果进行计算，得到目标统计分析结果，包括：建立统计分析计算模型；根据所述测试率＝所述测试点数/测试工作量，计算得到所述测试率；根据所述测试问题平均时长＝测试问题总时长/测试问题数，计算得到所述测试问题平均时长；根据所述测试缺陷数、所述测试问题数和所述测试工作量，计算得到所述测试案例平均异常率；计算获得所述测试缺陷数与所述测试应发现缺陷数之间的差值，并计算所述差值与所述测试应发现缺陷数之间的比值，将所述比值作为所述测试缺陷遗漏率；根据所述测试缺陷数、所述测试问题数和所述测试功能点数，计算得到所述测试异常发现率。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试缺陷数、所述测试问题数和所述测试工作量，计算得到所述测试案例平均异常率，包括：当异常率为问题率时，根据所述测试案例平均问题率＝所述测试问题数/所述测试功能点数，计算得到所述测试案例平均异常率；当异常率为缺陷率时，根据所述测试案例平均缺陷率＝所述测试缺陷数/所述测试功能点数，计算得到所述测试案例平均异常率。6.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭朝兴，
申请(专利权)人：中国银行股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11