一种微波频率测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种微波频率测试系统，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。该微波频率测试系统能够测量DC～18GHz频率范围内的微波，结构简单，测试效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种微波频率测试系统
本技术涉及微波频率测试
，具体涉及一种微波频率测试系统。
技术介绍
微波频率测试仪是一种精密的对微波频率的测量的专用设备，用于检测移动通信网络中广泛使用的无线电微波的频率。随着我国无线电设备的使用越来越多，对于无线电产品的频率测试的需求也越来越多，微波频率测试仪已成为无线产品生产厂商生产测试用的必备检测仪器。目前市场上的微波频率测试仪一般都是适用于2.4GHz产品的测试，不适用于更高频率的测试，因此无法全面的适用于整个市场，如果要测试更高频率，则需更专业的设备，浪费资源，生产效率降低。
技术实现思路
本申请通过提供一种微波频率测试系统，以解决现有微波频率测试仪不适用于高频率测试的技术问题。为解决上述技术问题，本申请采用以下技术方案予以实现：一种微波频率测试系统，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述LDO电源单元分别与所述微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元以及显示单元相连，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。进一步地，所述微处理器采用AT91SAM7X256，所述LDO电源单元采用TPS72710DSER。与现有技术相比，本申请提供的技术方案，具有的技术效果或优点是：该微波频率测试系统能够测量DC～18GHz频率范围内的微波，结构简单，测试效率高。附图说明图1为系统的结构框图；图2为低频DC～30MHz的工作原理框图；图3为高频30MHz～3GHz的工作原理框图；图4为高频3GHz～18GHz的工作原理框图；图5为LDO电源单元电路原理图；图6为八分频电路原理图；图7为64分频电路原理图。具体实施方式本申请实施例通过提供一种微波频率测试系统，以解决现有微波频率测试仪不适用于高频率测试的技术问题。为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式，对上述技术方案进行详细的说明。实施例一种微波频率测试系统，如图1所示，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述LDO电源单元分别与所述微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元以及显示单元相连，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。该微波频率测试系统将DC～18GHz分为三个频段进行测试：DC～30MHz、30MHz～3GHz、3GHz～18GHz。下面将对各个频段测试的工作原理进行介绍：1、低频DC～30MHz频段测试工作原理，如图2所示。将待测DC～30MHz信号送入低频信号分频单元，该待测信号先通过低频信号线性放大器放大，通过整形电路将正弦信号整形成方波，通过数字32分频电路进行32分频，将分频后的信号送入微处理器处理，计算得出准确的频率，通过显示单元显示，在此将上述低频信号分频单元、微处理器、LDO电源单元以及显示单元统称为101模组。2、高频30MHz～3GHz频段测试工作原理，如图3所示。待测30MHz～3GHz信号依次通过三个串接的四分频电路，将30MHz～3GHz信号进行64分频，然后通过低频信号线性放大器放大，通过整形电路将正弦信号整形成方波，送入到101模组进行相应的处理，最后由显示单元显示频率。3、高频3GHz～18GHz频段测试工作原理，如图4所示。待测3GHz～18GHz信号通过一个八分频电路，将3GHz～18GHz信号进行八分频，降低到3GHz以下，然后依次进入所述高频信号八分频单元与101模组，最终由显示单元显示频率。在本实施例中，所述微处理器采用AT91SAM7X256，所述LDO电源单元采用TPS72710DSER，图5为LDO电源单元电路原理图。图6所示为八分频电路原理图，采用低噪声八分频静态分频器HMC494。图7所示为64分频电路原理图，依次通过三个串接的四分频电路，该四分频电路采用MAX9378。本申请的上述实施例中，通过提供一种微波频率测试系统，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。该微波频率测试系统能够测量DC～18GHz频率范围内的微波，结构简单，测试效率高。应当指出的是，上述说明并非是对本技术的限制，本技术也并不仅限于上述举例，本
的普通技术人员在本技术的实质范围内所做出的变化、改性、添加或替换，也应属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微波频率测试系统，其特征在于，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述LDO电源单元分别与所述微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元以及显示单元相连，所述微处理器与所述数字32分频电路相连，对分频后的待测信号进行处理，计算出微波信号的频率，并在所述显示单元进行显示。

【技术特征摘要】
1.一种微波频率测试系统，其特征在于，包括微处理器、低频信号分频单元、高频信号64分频单元、高频信号八分频单元、LDO电源单元以及显示单元，其中，所述低频信号分频单元包括低频信号线性放大器、整形电路及数字32分频电路，所述高频信号64分频单元包括三个串接的四分频电路及低频信号线性放大器，所述高频信号八分频单元包括一个四分频电路及低频信号线性放大器，所述LDO电...

【专利技术属性】
技术研发人员：李荣明，
申请(专利权)人：南京纳特通信电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32