The present invention relates to a bypass charging circuit and method. According to one embodiment, the invention provides a bypass charging circuit (30) consisting of a pair of transistors (32, 34), and the pair of transistors have a current carrying terminal connected together to form nodes (43). The input end of the comparator (37) is coupled to the node (43) through a switch (35) and coupled to a resistor (39). Another input terminal of the comparator (37) is coupled for receiving a reference voltage (VFAIL). Alternatively, a transistor (60) may be connected to the bypass charging circuit (30). According to another embodiment, a method is provided, in which the bypass charge transistor (32, 34) is coupled to the first input end of the comparator (37) in response to the closing of the switch (35). In response to closing of switch (35), voltage (VC) is generated at the first input end of the comparator (37), and the voltage (VC) is compared with the reference voltage (VFAIL). In response to the comparison, the status indication signal (VIND) is generated to indicate that there is a low impedance fault in one or two of the bypass charging transistors (32, 34).
【技术实现步骤摘要】
旁路充电电路和方法
本专利技术整体上涉及电子器件,并且更具体地讲,涉及与电池一起使用的电路和方法。
技术介绍
过去,移动设备(例如移动电话、计算机、个人数码助手等)的电池充电系统使用线性或开关充电器来为向这些设备供电的电池充电。近来,电池充电系统包括一个旁路路径,该路径中包括一个或多个开关,使用移动设备和旅行适配器之间的一个或多个通信信道,结合了为电流、电压或两者设置限制的功能。加入旁路路径减少了移动设备耗散的热量。在旁路路径中使用开关的缺点在于,一个或多个开关可能出现故障并引入一条从输入节点到电池的低阻抗路径。直到电路或电池损坏之前,这种低阻抗路径的形成都无法检测。因此,如有半导体部件和方法可用于检测在电池充电系统中是否已形成从输入节点到电池的低阻抗路径,以及如有方法和结构可用于防止由低阻抗路径引起的损坏,将会是有利的。若实现该半导体部件和方法的成本和时间效率较高,则会更为有利。附图说明通过阅读以下结合附图的详细描述将更好地理解本专利技术,在所述附图中,相同的参考标号指示相同的元件,并且其中:图1是根据本专利技术的实施方案,具有故障检测部分的旁路充电电路的示意图;图2示出了根据本专利技术的另一实施方案,监测旁路充电电路故障的流程图;图3是根据本专利技术的另一实施方案,具有故障检测和保护部分的旁路充电电路的示意图;图4示出了根据本专利技术的另一实施方案,监测旁路充电电路故障的流程图;图5是根据本专利技术的另一实施方案,具有故障检测和保护部分的旁路充电电路的示意图;并且图6是根据本专利技术的另一实施方案,具有故障检测和保护部分的旁路充电电路的示意图。为了图示 ...
【技术保护点】
一种包括故障检测部分(35、37、39)的旁路充电电路(30),其特征在于:具有控制端子(32G)、第一载流端子(32D)和第二载流端子(32S)的第一晶体管(32);具有控制端子(34G)、第一载流端子(34S)和第二载流端子(34D)的第二晶体管(34),所述第二晶体管(34)的所述第一载流端子(34S)耦接到所述第一晶体管(32)的所述第二载流端子(32S)以形成第一节点(43);具有第一输入端、第二输入端和输出端的比较器(37),所述比较器(37)的所述第一输入端耦接到所述第一节点(43),并且所述比较器的所述第二输入端耦接以用于接收参考电势(VFAIL);以及具有第一端子(39A)和第二端子(39B)的电阻器(39),所述电阻器(39)的所述第一端子(39A)耦接到所述比较器(37)的第一端子。
【技术特征摘要】
2016.05.25 US 62/341,454;2017.05.01 US 15/582,9881.一种包括故障检测部分(35、37、39)的旁路充电电路(30),其特征在于:具有控制端子(32G)、第一载流端子(32D)和第二载流端子(32S)的第一晶体管(32);具有控制端子(34G)、第一载流端子(34S)和第二载流端子(34D)的第二晶体管(34),所述第二晶体管(34)的所述第一载流端子(34S)耦接到所述第一晶体管(32)的所述第二载流端子(32S)以形成第一节点(43);具有第一输入端、第二输入端和输出端的比较器(37),所述比较器(37)的所述第一输入端耦接到所述第一节点(43),并且所述比较器的所述第二输入端耦接以用于接收参考电势(VFAIL);以及具有第一端子(39A)和第二端子(39B)的电阻器(39),所述电阻器(39)的所述第一端子(39A)耦接到所述比较器(37)的第一端子。2.根据权利要求1所述的旁路充电电路(30),其特征还在于具有控制端子(35C)、第一导电端子(35A)和第二导电端子(35B)的第一开关(35),所述第一开关(35)的所述第一导电端子(35A)耦接到所述第一节点(43),并且所述第一开关(35)的所述第二导电端子(35B)耦接到所述比较器(37)的所述第一端子。3.根据权利要求2所述的旁路充电电路(30),其特征还在于具有控制端子(60G)、第一载流端子(60S)和第二载流端子(60D)的第三晶体管(60),所述第三晶体管(60)的所述第一载流端子(60S)耦接到所述第一晶体管(32)的所述第一载流端子(32D)。4.根据权利要求3所述的旁路充电电路(30),其中,所述第一晶体管(32)的所述控制端子(32G)耦接到所述第二晶体管(34)的所述控制端子(34G)。5.根据权利要求4所述的旁路充电电路(30),其特征还在于具有第一输入端(40IO1)、第二输入端(40I2)、第一输出端(40O2)、第二输出端(40O3)和第三输出端(40O4)的控制电路(40),其中所述控制电路(40)的所述第一输出端(40O2)耦接到所述第一晶体管(32)和所述第二晶体管(34)的所述控制端子(32G、34G),所述控制电路(40)的所述第二输出端(40O3)耦接到所述第一开关(35)的所述控制端子(35C),并且所述控制电路(40)的所述第三输出端(40O4)耦接到所述第三晶体管(60)的所述控制端子(60G)。6.根据权利要求5所述的旁路充电电路(30),其特征还在于具有阳极(62A)和阴极(62C)的第一二极管(62),所述第一二极管(62)的所述阳极(62A)耦接到所述第三晶体管(60)的所述第一载流端子(60S),并且所述第一二极管(62)的所述阴极(62C)耦接到所述第三晶体管(62)的所述第二载流端子(60D)。7.根据权利要求2所述的旁路充电电路(30),其特征还在于具有第一输入端(40IO1)、第二输入端(40I2)、第一输出端(40O2)、第二输出端(40O3)和第三输出端(40O5)的控制电路(40),其中所述控制电路(40)的所述第一输出端(40O2)耦接到所述第一晶体管(32)的所述控制端子(32G),所述控制电路(40)的所述第二输出端(40O3)耦接到所述第一开关(35)的所述控制端子(35C),所述控制电路(40)的所述第三输出端(40O5)耦接到所述第二晶体管(34)的所述控制端子(34G),并且所述比较器(37)的所述输出端耦接到所述控制电路(40)的所述第二输入端(40I2)。8.根据权利要求7所述的旁路充电电路(30),其中,所述控制电路(40)的所述第一输入端子(40IO1)是输入/输出端子。9.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·A·米查姆二世,K·莎,
申请(专利权)人:快捷半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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