一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于测控技术领域，具体涉及一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置。该装置包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。本实用新型专利技术可应用在多通道自动连续低阻测试的系统中，降低成本的同时实现较高的准确度，完全消除测试通道的切换继电器的导通电阻对测试准确度的影响。

A two wire test device for eliminating the influence of multi channel switching circuit

The utility model belongs to the field of measurement and control technology, in particular relates to a two wire testing device for eliminating the influence of multi channel switching circuit. The test device includes a first channel and second channel test, the first test channel and second test channels including upper and lower channels, four channels are arranged inside the switch relay; internal switch relay test channel on the first channel and channel are connected with the test core test channel external terminal connector x1, the internal switch relay second test channels in the upper and lower channels on the test channel and external test core point terminal connector x2 connection; between the two terminals of the measured standard resistor end connector connected by measuring standard resistor. The utility model can be applied to the multi-channel automatic continuous low resistance test system, and the higher accuracy can be achieved at the same time of reducing the cost, and the influence of the on resistance of the switching relay of the test channel on the test accuracy can be completely eliminated.

【技术实现步骤摘要】
一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置
本技术属于测控
，具体涉及一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置。
技术介绍
采用多通道电缆网测试仪对电缆网芯点间的阻值进行测试时，芯点间的阻值多为mΩ级，为了得到准确的阻值往往需要采用“四线测试”，每个测试通道需要占用两个芯点，对于同样规模的电缆网络，采用“四线测试”需要占用的通道芯点数是采用“两线测试”的一倍，其成本也增加一倍，因“两线测试”的采样点在系统内部，其测试的电阻值包含通道切换继电器导通电阻，内部引线电阻等，影响测试的准确度，如何消除内部通道切换电阻的影响，实现“两线测试”的准确度达到“四线测试”水平，得到准确的线缆阻值是目前迫切需要解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置，以解决上述问题。为达到上述目的，本技术所采取的技术方案为：一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置，包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻；测试通道外部接线端接插件A与被测标准电阻端接插件B接通，测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x1连接到被测标准电阻端接插件B的接线端y1；测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x2连接到被测标准电阻端接插件B的接线端y2。本技术所取得的有益效果为：本技术可应用在多通道自动连续低阻测试的系统中，降低成本的同时实现较高的准确度，完全消除测试通道的切换继电器的导通电阻对测试准确度的影响。附图说明图1为消除多通道切换电路影响的两线测试装置结构图；图中：H：测试时设置的上通道；L：测试时设置的下通道；T1：第一测试通道，T2：第二测试通道，可分别由系统CPU设置为上通道H或下通道L；r1：第一测试通道上通道内部切换继电器的电阻值；r2：第一测试通道下通道内部切换继电器的电阻值；r3：第二测试通道上通道内部切换继电器的电阻值；r4：第二测试通道下通道内部切换继电器的电阻值；A：测试通道外部接线端接插件，可连接被测标准电阻；x1、x2：接插件A的测试芯点；B：被测标准电阻端接插件；y1、y2：被测标准电阻接线端；Rx：被测标准电阻。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术进行详细说明。如图1所示，本技术所述消除多通道切换电路影响的两线测试装置包括第一测试通道T1和第二测试通道T2，第一测试通道T1和第二测试通道T2均包括上通道H和下通道L，四个通道均设置有内部切换继电器，第一测试通道上通道内部切换继电器的电阻值为r1，第一测试通道下通道内部切换继电器的电阻值为r2，第二测试通道上通道内部切换继电器的电阻值为r3，第二测试通道下通道内部切换继电器的电阻值为r4；第一测试通道T1的上通道H和下通道L上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x1连接，第二测试通道T2的上通道H和下通道L上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件B的被测标准电阻接线端y1和y2之间连接被测标准电阻Rx。基于上述消除多通道切换电路影响的两线测试装置的两线测试方法如下：(a)接通测试通道外部接线端接插件A与被测标准电阻端接插件B，测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x1连接到被测标准电阻端接插件B的接线端y1；测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x2连接到被测标准电阻端接插件B的接线端y2；(b)接通第一测试通道T1的上通道H和第二测试通道T2的下通道L，设测试得到的电阻值为RT12，其公式如下：RT12＝r1+Rx+r4(1)(c)接通第二测试通道T2的上通道H和第一测试通道T1的下通道L，设测试得到的电阻值为RT21，其公式如下：RT21＝r3+Rx+r2(2)(d)接通第一测试通道T1的上通道H和下通道L，设测试得到的电阻值为RT1，其公式如下：RT1＝r1+r2(3)(e)接通第二测试通道T2的上通道H和下通道L，设测试得到的电阻值为RT2，其公式如下：RT2＝r3+r4(4)(f)由公式(1)、公式(2)、公式(3)和公式(4)可得到被测标准电阻值：。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置，其特征在于：包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻；测试通道外部接线端接插件A与被测标准电阻端接插件B接通，测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x1连接到被测标准电阻端接插件B的接线端y1；测试通道外部接线端接插件A的测试芯点x2连接到被测标准电阻端接插件B的接线端y2。

【技术特征摘要】
1.一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置，其特征在于：包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙德冲，贾丰锴，张莉莉，蔡惠华，葛萌，
申请(专利权)人：北京航天计量测试技术研究所，中国运载火箭技术研究院，
类型：新型
国别省市：北京,11