微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统制造方法及图纸
Testing device and testing system for frequency temperature coefficient of microwave dielectric ceramics
The utility model discloses a testing device and a testing system for the frequency temperature coefficient of a microwave dielectric ceramic, which relates to the field of microwave testing technology. The testing device comprises a water tank, the water tank is arranged in the resonant cavity and the bracket is arranged in the cavity above the bracket and is used for arranging the sample medium support column is provided with the resonant cavity, a temperature measuring device for a measuring sample temperature setting of the resonant cavity. The utility model can not only ensure the accuracy of the frequency temperature coefficient of the microwave dielectric ceramics under test, but also reduce the cost.
【技术实现步骤摘要】
微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统
本技术涉及微波测试
，具体涉及一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统。
技术介绍
近年来，航空航天、通信和信息技术等高科技领域对射频微波元器件的要求越来越高，使得射频微波材料在这些领域也越来越重要。表征微波介质材料的三个关键参数分别为：相对介电常数、介质损耗角正切(Q值)和频率温度系数(τf)。其中，在对微波介质材料进行频率温度系数测试时，需要使用特定的测试夹具，先在第一个温度T1下测试被测样品的某一特征谐振频率f01(如TE01δ模)，再设法使被测样品升温到第二个温度T2，测得该温度下被测样品对应的特征谐振频率f02，然后按照如下公式计算频率温度系数：通过对国内外相关测试装置进行调研，目前测量微波介质陶瓷材料的频率温度系数主要有两种测试系统：第一种频率温度系数测试系统主要基于平行板谐振腔技术，由高低温箱1’、特制的平行板谐振腔测试夹具2’、网络分析仪5’及测试电缆4’等组成，其测试系统框图如图1所示。该测试系统在测试时将被测样品3’加载到测试夹具2’上，再将测试夹具2’放入高低温箱1’中，通过控制...
【技术保护点】
一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括水槽，所述水槽内设置有谐振腔支架和设置于所述谐振腔支架上方的谐振腔，所述谐振腔内设置有用于放置被测样品的介质支撑柱，所述谐振腔内设置有用于测量被测样品温度的测温装置。
【技术特征摘要】
1.一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括水槽，所述水槽内设置有谐振腔支架和设置于所述谐振腔支架上方的谐振腔，所述谐振腔内设置有用于放置被测样品的介质支撑柱，所述谐振腔内设置有用于测量被测样品温度的测温装置。2.根据权利要求1所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测温装置为温度计，所述温度计的一端设置在所述谐振腔内，另一端伸出所述谐振腔。3.根据权利要求2所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述温度计为玻璃管温度计、气体温度计或压力式温度计。4.根据权利要求2所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔包括谐振腔主体和设置于所述谐振腔主体上方的谐振腔上盖，所述温度计安装在所述谐振腔上盖的中心位置，并采用密封胶密封。5.根据权利要求4所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔上盖与谐振腔...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵飞，裴静，阚劲松，
申请(专利权)人：中国电子技术标准化研究院，北京赛西科技发展有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京,11
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