一种PD电源产品老化测试方法技术

本发明专利技术公开了一种PD电源产品老化测试系统及方法，该老化测试系统包括接入模块、LDO供电模块、电压采集模块、主控MCU模块、电流采集模块、电压/电流显示模块、按键输入模块、输出模块；其中，所述LDO供电模块、电压采集模块接于主控MCU模块，向系统提供电力，所述电流采集模块连接于接入模块、主控MCU模块及输出模块，所述电压/电流显示模块、按键输入模块则分别接于主控MCU模块；所述接入模块连接于PD电源产品，输出模块则接于电子负载。该系统及方法解决传统电源产品升级为TYPE‑C和PD产品后老化可靠性测试问题。

Aging test system and method for PD power supply product

The invention discloses a system and method for testing an aging PD power supply products, the aging test system includes LDO access module, power supply module, voltage acquisition module, main control module, MCU current voltage / current acquisition module, display module, keyboard input module, output module; the LDO, the power supply module, voltage acquisition the module is connected to the main control MCU module to provide power to the system, the current acquisition module is connected to the access control module, MCU module and output module, the voltage / current display module, key input module is respectively connected to the main control MCU module; the access module is connected to PD power supply products, output module connected to the electronic load. The system and method to solve the traditional power supply products to upgrade to TYPE C and PD products after aging reliability test problems.

【技术实现步骤摘要】
一种PD电源产品老化测试系统及方法
本专利技术属于PD电源
，特别涉及一种PD电源产品老化测试系统及方法。
技术介绍
自从USB-IF推出USB-TYPE-C接口和PD协议以来，市面上越来越多的手机、平板、笔记本等电子设备都支持TYPE-C接口和PD协议。如乐视的MAX2手机、魅族的PRO5手机、苹果的2015版MacBook笔记本等等。为了适应市场的变化，电子设备的配件市场也悄悄地跟着这些电子设备进行更新换代升级。所以传统的适配器、车充等电源产品也开始支持TYPE-C接口和PD协议。传统的电子设备配件电源产品一般都只有5V电压输出，而且这些电源产品也是热电状态，直接加载负载即可进行带载老化可靠性测试。但是如果电源产品支持了TYPE-C接口和PD协议后，这个老化可靠性测试就会变得完全不一样了。首先，TYPE-C接口是冷电状态，也就是在其没有检测到相应的负载设备时，它是不会进行放电的，这也是TYPE-C接口产品比TYPE-A/TYPE-B产品安全性高的体现。另一方面，支持了PD协议后，这个电源产品不再是只有5V一挡PDO输出了，它可能有两挡，三挡，甚至最多七挡的PDO输出。这么多挡的PDO电源产品都要进行老化测试，否则无法保障电源系统的可靠性。但是如何把各挡的PDO电压轮训出来并进行老化测试成为了这些电源厂商要解决的问题，所以电源厂商在生产PD电源产品时都需要配套升级老化测试系统，以保证PD电源产品的安全可靠性。如专利申请201610707409.6公开了一种用于电源产品测试的智能节能老化系统，包括：若干老化子系统，每个老化子系统包括被测电源产品及老化组件，老化组件包括：升压模块、逆变模块、反馈模块，被测试电源产品输入端连接在电网上，电源产品输出端接在老化组件的升压模块上，升压模块从电源产品输出端获取电流，升压模块将电源产品输出的直流低压转换为直流高压，并通过逆变模块转换为交流230V电压，反馈模块与电网电压匹配，将逆变模块输出的交流电能反馈回电网，为下一个老化子系统的电源产品提供电能。该专利申请虽然能够对电源产品进行老化处理，但是其通过分布式电子负载设计和系统总线方式进行老化测试，测试过程复杂，难以保证PD电源产品的安全可靠性。
技术实现思路
基于此，因此本专利技术的首要目地是提供一种PD电源产品老化测试系统及方法，该系统及方法解决传统电源产品升级为TYPE-C和PD产品后老化可靠性测试问题。为实现上述目的，本专利技术的技术方案为：一种PD电源产品老化测试系统，所述的老化测试系统包括接入模块、LDO供电模块、电压采集模块、主控MCU模块、电流采集模块、电压/电流显示模块、按键输入模块、输出模块；其中，所述LDO供电模块、电压采集模块接于主控MCU模块，向系统提供电力，所述电流采集模块连接于接入模块、主控MCU模块及输出模块，所述电压/电流显示模块、按键输入模块则分别接于主控MCU模块；所述接入模块连接于PD电源产品，输出模块则接于电子负载。所述的PD电源产品包含以下电源产品的任意一种：PD移动电源、PD适配器、PD车充、PD-HUB。所述接入模块为TYPE-C母座或者TYPE-C公头。所述电压采集模块采用电阻分压方式采集测量，电压测量范围为3.0V～21V。所述主控MCU模块集成TYPE-C接口Rp、Rd物理层以及PD协议PHY层、死电池功能。所述电流采集模块采用精密采样电阻。所述电压/电流显示模块可以为以下任意一种显示方式：LED、OLED屏、LCD屏、数码管。所述按键输入模块用以控制轮训各挡位的PDO，进行不同的固定时间老化测试。所述输出模块为TYPE-A母座或者其它形式的母座。本专利技术提供一种PD电源产品老化测试方法，该方法包含以下步骤：步骤S1：老化测试系统与PD电源建立TYPE-C连接：老化测试系统在没有与PD电源建立连接前处于无电源供电状态(死电池状态)。老化测试系统接入PD电源后，由于MCU死电池功能，PD电源会检测到设备的接入并开启VBUS开关放电，老化测试系统MCU由VBUS电压经过LDO供电模块供电，双方建立TYPE-C连接。步骤S2：老化测试系统记录保存PD电源PDO数量：双方建立TYPE-C连接后，PD电源会主动发送Source_Cap给老化测试系统，包含信息有PD电源的PDO个数，PDO的电压值以及带载能力信息。老化测试系统用专门寄存器记录PD电源的PDO个数以及PDO的详细电压电流信息。并发送选取第一挡PDO的Request指令给PD电源。步骤S3：PD电源准备相应的PDO电压输出：PD电源接收到老化测试系统的Request指令后，评估自身的带载能力后发送Aceept指令给老化测试系统，并在280ms内准备好相应的PDO电压，最后发送Ps_Ready指令给老化测试系统，完成第一挡位的PDO输出测试。相应的PDO电压通过输出模块输出到电子负载端。步骤S4：老化测试系统轮训测试下一挡位PD电源的PDO：通过单按按键，老化测试系统会发送Get_Source_Cap给PD电源，PD电源再次发送Source_Cap给到老化测试系统，老化测试系统自动根据当前挡位的PDO发送Request选取下一挡位的PDO给PD电源，PD电源评估自身的能力后会发送Accept指令和Ps_Ready指令给老化测试系统，相应的PDO电压通过输出模块输出到电子负载端。同理，通过双按按键可以轮训上一挡位的PD电源的PDO。步骤S5：老化模式设置：通过长按按键3秒，可以让老化测试系统进入老化测试模式，通过设置相应的老化测试时间后(如30分钟)，老化测试系统便会自动计时，每过30分钟轮训测试PD电源的下一挡位PDO，直到把PD电源的最后一挡PDO测试完毕退出老化测试模式。所述的测试模式老化测试时间可以任意设置2小时内以分钟为单位的任意时间。进入老化测试模式后，当测试到VBUS实际电压与PDO宣称的电压偏差超过5％时，系统会自动报警并停止老化测试。本专利技术所实现的该老化测试系统及方法，可以实现对PD电源产品的每一挡PDO进行定时老化测试，以保证PD电源的安全可靠性，解决传统电源产品升级为TYPE-C和PD产品后老化可靠性测试问题。附图说明图1是本专利技术所实施的老化测试系统的系统框图。图2是本专利技术所实施老化测试系统记录保存PD电源PDO数量通信控制流程图。图3是本专利技术所实施老化测试系统轮训测试下一挡位PD电源的PDO通信控制流程图。图4是本专利技术所实施老化测试系统轮训测试上一挡位PD电源的PDO通信控制流程图。图5是本专利技术所实施老化测试系统老化测试PD电源各PDO的通信控制流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示：老化测试系统包括接入模块1、LDO供电模块2、电压采集模块3、主控MCU模块4、电流采集模块5、电压/电流显示模块6、按键输入模块7、输出模块8。老化测试系统接入模块1为TYPE-C母座或者TYPE-C公头。老化测试系统电压采集模块3采用电阻分压方式采集测量，电压测量范围为3.0V～21V。老化测试系统主控MCU模块4集成TYPE-C接口Rp、Rd物理层本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PD电源产品老化测试系统，其特征在于所述的老化测试系统包括接入模块、LDO供电模块、电压采集模块、主控MCU模块、电流采集模块、电压/电流显示模块、按键输入模块、输出模块；其中，所述LDO供电模块、电压采集模块接于主控MCU模块，向系统提供电力，所述电流采集模块连接于接入模块、主控MCU模块及输出模块，所述电压/电流显示模块、按键输入模块则分别接于主控MCU模块；所述接入模块连接于PD电源产品，输出模块则接于电子负载。

【技术特征摘要】
1.一种PD电源产品老化测试系统，其特征在于所述的老化测试系统包括接入模块、LDO供电模块、电压采集模块、主控MCU模块、电流采集模块、电压/电流显示模块、按键输入模块、输出模块；其中，所述LDO供电模块、电压采集模块接于主控MCU模块，向系统提供电力，所述电流采集模块连接于接入模块、主控MCU模块及输出模块，所述电压/电流显示模块、按键输入模块则分别接于主控MCU模块；所述接入模块连接于PD电源产品，输出模块则接于电子负载。2.如权利要求1所述的PD电源产品老化测试系统，其特征在于所述接入模块为TYPE-C母座或者TYPE-C公头；所述输出模块为TYPE-A母座或者其它形式的母座。3.如权利要求1所述的PD电源产品老化测试系统，其特征在于所述电压采集模块采用电阻分压方式采集测量，电压测量范围为3.0V～21V。4.如权利要求1所述的PD电源产品老化测试系统，其特征在于所述主控MCU模块集成TYPE-C接口Rp、Rd物理层以及PD协议PHY层、死电池功能。5.如权利要求1所述的PD电源产品老化测试系统，其特征在于所述电流采集模块采用精密采样电阻。6.一种PD电源产品老化测试方法，其特征在于该方法包含以下步骤：步骤S1：老化测试系统与PD电源建立TYPE-C连接：老化测试系统接入PD电源后，由于MCU死电池功能，PD电源会检测到设备的接入并开启VBUS开关放电，老化测试系统MCU由VBUS电压经过LDO供电模块供电，双方建立TYPE-C连接；步骤S2：老化测试系统记录保存PD电源PDO数量：双方建立TYPE-C连接后，PD电源会主动发送Source_Cap给老化测试系统，包含信息有PD电源的PDO个数，PDO的电压值以及带载能力信息；步骤S3：PD电源准备相应的PDO电压输出：PD电源接收到老化测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖奕佳，
申请(专利权)人：芯海科技深圳股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44