一种用于RRU的整机测试、老化方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种用于射频拉远单元RRU的整机测试、老化系统及方法，在测试模式下通过控制射频拉远单元进行发送无线帧基带信号到下行以及采集上行射频调制信号进行上下行射频指标分析，在老化模式下通过光纤将上下行链路环回，基带信号由上行环回到下行，从而达到老化下测试完整的射频拉远单元上下行链路。本发明专利技术系统不需要额外的模拟BBU或其他测试板卡设备支持，自身就可以完成上下行链路测试，提高调试效率，简化平台环境，降低操作复杂度和测试成本，灵活性好，不仅适用于单盘调试自测，也适用于整机的批量测试和老化。

A whole machine test, aging method and system for RRU

The present invention provides a method for the testing and aging of the system and method of radio remote unit of RRU, by controlling the radio remote unit transmits wireless baseband signal to the downlink frame and the data acquisition of uplink radio frequency modulation signal analysis on downlink RF index in the test mode, the aging mode through fiber loop on the downlink, baseband the signal from the upstream loop back down, so as to achieve the RF aging testing complete remote unit on the downlink. The system of the invention does not need additional analog BBU or other test device support itself can be completed on the downlink test, improve debugging efficiency, simplify the environment, reduce the complexity of the operation and test cost, good flexibility, not only suitable for the single disc is also suitable for the debugging of self testing, batch testing and aging.

【技术实现步骤摘要】
一种用于RRU的整机测试、老化方法及系统
本专利技术装置涉及通信领域中的基站设备，特别涉及一种用于RRU的整机测试、老化方法及系统。
技术介绍
目前现有的LTE(LongTermEvolution，长期演进)系统多采用的是分布式结构，分布式结构是指基站的BBU(BaseBandUnit，基站处理单元)和RRU(RemoteRadioUnit，射频拉远单元)各自作为单独的模块，并通过光纤进行远距离的拉远相连。这种架构系统容量大，集成度高，组网灵活，已广泛使用于多种覆盖场景中，同时由于其可靠性高，功耗小，设备成本低的优点，在一定程度上简化组网架构，降低了网络维护成本。由于采用光纤进行拉远，基站处理单元BBU和射频拉远单元RRU分离，增加了基站测试的难度。因此，如何在资源利用率较高的情况下有效的对BBU和RRU功能测试，是当前急需解决问题之一。其中，RRU的功能主要是实现CPRI协议，数字中频处理，射频收发机，以及功放等。在实际中，为了保证系统的稳定性，需要对RRU进行上下行的射频链路指标测试。从RRU测试的内容来看，射频指标测试主要包括下行发射链路指标试和上行接收链路指标。下行信号指标包本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于RRU的整机测试、老化系统，其特征在于：包括光纤、射频拉远单元、频谱分析仪，信号发生源、本地控制PC；射频拉远单元分别与频谱分析仪，信号发生源、本地控制PC连接；所述射频拉远单元包括光模块、ARM、FPGA、内存颗粒、射频单元，FPGA分别与光模块、ARM、内存颗粒、射频单元连接；其中，所述光模块用于实现信号的光电转换；所述ARM用于对FPGA进行命令配置，存储下行基带和上行采集的数据文件；所述FPGA用于实现CPRI协议以及上下行中频处理，并通过ARM的控制实现发射基带数据、采集上行数据功能；所述内存颗粒用于存储FPGA发源数据和采集到的数据；所述射频单元用于对下行FPGA发送的基带...

【技术特征摘要】
1.一种用于RRU的整机测试、老化系统，其特征在于：包括光纤、射频拉远单元、频谱分析仪，信号发生源、本地控制PC；射频拉远单元分别与频谱分析仪，信号发生源、本地控制PC连接；所述射频拉远单元包括光模块、ARM、FPGA、内存颗粒、射频单元，FPGA分别与光模块、ARM、内存颗粒、射频单元连接；其中，所述光模块用于实现信号的光电转换；所述ARM用于对FPGA进行命令配置，存储下行基带和上行采集的数据文件；所述FPGA用于实现CPRI协议以及上下行中频处理，并通过ARM的控制实现发射基带数据、采集上行数据功能；所述内存颗粒用于存储FPGA发源数据和采集到的数据；所述射频单元用于对下行FPGA发送的基带信号进行发射机链路上的数据处理并将处理后的射频信号发送给频谱分析仪，接收上行信号源发过来的射频信号，将射频信号处理后发送给FPGA进行后续处理；所述的光纤用于在高低温老化情况下进行上下行链路环回；所述信号发生源，用于产生射频拉远单元射频测试所需的射频信号，并提供10M的参考信号作为射频拉远单元的锁相环参考来实现系统同源；所述频谱分析仪，用于对射频拉远单元接收射频信号进行发射机指标测试，并提供10M的参考信号作为射频拉远单元的锁相环参考来实现系统同源；所述本地控制PC用于向所述射频拉远单元是ARM发送调试或测试指令，将本地下行所需的基带信号数据文件发送给所述射频拉远单元，且接收射频拉远单元采集到的上行测试数据并保存于本地文件中。2.根据权利要求1所述的一种用于RRU的整机测试、老化系统，其特征在于：所述FPGA包括数据发射/采集模块、CPRI接口模块、开关选择模块、数字中频模块；开关选择模块分别与数据发射/采集模块、CPRI接口模块、数字中频模块连接，数据发射/采集模块与数字中频模块连接；所述数据发射/采集模块包括数据写入/读取单元、控制寄存器单元、内存接口控制单元、读取/写入控制单元、数据缓冲/转换单元、载波选择单元，数据写入/读取单元、内存接口控制单元、读取/写入控制单元、数据缓冲/转换单元、载波选择单元依次连接，控制寄存器单元分别与数据写入/读取单元、读取/写入控制单元、载波选择单元连接；所述数据写入/读取单元用于完成内存接口控制单元和ARM之间的数据交互，在进入行写操作时把ARM传过来的数据进行处理，转换为符合内存接口控制单元要求的格式，在读取操作时把从内存接口控制单元读出来的数据转换为满足ARM上总线要求的时序；所述内存接口控制单元完成外部内存颗粒和内部用户读取/写入控制单元之间数据、命令交互；所述读取/写入控制单元接收ARM发送的配置命令，并通过优先级来判断当前时刻是读取基带源数据还是进行数据采集操作；所述数据缓冲/转换单元则对发出的基带数据和采集到的射频信号进行缓冲及转换，以保证在采数的同时能够进行基带数据更新发源；所述寄存器控制单元用来实现ARM对发源，采数的参数存储配置；所述载波选择单元用于实现单载波或多载波数据输出，且能够配置为发射各个带宽多载波基带...

【专利技术属性】
技术研发人员：王平辉，徐宁，陈付齐，杨浩，
申请(专利权)人：武汉虹信通信技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42