The present invention discloses a lithographic apparatus in material preparation and microstructure pattern lithography method, including the lithography instrument: for the laser beam will be received into the beam splitter and the output of more than two beams of coherent light; for receiving and adjusting the phase coherent light beams above at least one of the first beam of coherent light and to adjust the phase after at least one of the first light beam coherent Pockels cell output; wherein, the output of the Pockels cell at least one beam of coherent light beam splitter and the first output is not receiving adjustment of the Pockels cell second coherent light occurs in the substrate so as to form the micro structure of the interference pattern on a substrate. The present invention through periodic patterns formed by laser interference, the manufacturing process can be simplified; for by adjusting the optical path difference of Pockels cell, the optical coherent light intensity interference at high interference pattern formation, and to achieve accurate movement of the interference pattern, not only improve the preparation efficiency but also improve the accuracy of manufacturing pattern.
【技术实现步骤摘要】
应用在超材料制备中的光刻仪和微结构图案光刻方法
本专利技术涉及超材料领域,具体来说,涉及一种应用在超材料制备中的光刻仪和微结构图案光刻方法。
技术介绍
在相关技术中,在制备超材料器件时,主要有以下几个方式,一种为利用光刻技术的方案,具体为:选用不同光源如紫外光、X射线、电子束、离子束等,将模板的图像曝光到光敏胶,然后进行金属沉积,最后去胶得到金属图案;另一种则是利用模板沉积技术,金属可通过模板的通孔结构沉积在基底上,这样形成金属图案。但是上述两种方案均需要使用掩板或模板,并且在改变超材料元胞形状时,则需要重制掩板或模板,显然工艺复杂。而为了避免在改变金属图案时对掩板和模板的依赖性,相关技术中还有利用喷墨打印和激光打印技术的方案,虽然这种方案在一定程度上简化了制备工艺,但是金属图案的制造效率较低,从而造成超材料器件的制造效率低的问题。针对相关技术中的超材料器件的制造工艺复杂以及制造效率低的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中的超材料器件的制造工艺复杂以及制造效率低的问题,本专利技术提出一种应用在超材料制备中的光刻仪和微结构图案光刻方法,能够简化超材料器件的制造工艺,提高超材料器件的制造效率。本专利技术的技术方案是这样实现的:根据本专利技术的一个方面,提供了一种应用在超材料制备中的光刻仪。该光刻仪包括:用于将接收的激光束分为两束以上相干光并输出的分束器;用于接收并调整两束以上相干光中的至少一束第一相干光的相位并对调整相位后的至少一束第一相干光进行输出的普克尔斯盒;其中,普克尔斯盒所输出的至少一束第一相干光与分束器所输出的未被普克尔斯盒接 ...
【技术保护点】
一种应用在超材料制备中的光刻仪,其特征在于,包括:用于将接收的激光束分为两束以上相干光并输出的分束器;用于接收并调整所述两束以上相干光中的至少一束第一相干光的相位并对调整相位后的所述至少一束第一相干光进行输出的普克尔斯盒;其中,所述普克尔斯盒所输出的所述至少一束第一相干光与所述分束器所输出的未被所述普克尔斯盒接收调整的第二相干光在基板上发生干涉从而在基板上形成微结构图案。
【技术特征摘要】
1.一种应用在超材料制备中的光刻仪,其特征在于,包括:用于将接收的激光束分为两束以上相干光并输出的分束器;用于接收并调整所述两束以上相干光中的至少一束第一相干光的相位并对调整相位后的所述至少一束第一相干光进行输出的普克尔斯盒;其中,所述普克尔斯盒所输出的所述至少一束第一相干光与所述分束器所输出的未被所述普克尔斯盒接收调整的第二相干光在基板上发生干涉从而在基板上形成微结构图案。2.根据权利要求1所述的光刻仪,其特征在于,进一步包括:在所述至少一束第一相干光与所述第二相干光在所述基板上发生干涉时用于控制所述基板移动从而在所述基板上形成所述微结构图案的第一控制器。3.根据权利要求1所述的光刻仪,其特征在于,进一步包括:用于接收所述第二相干光作衰减处理并将衰减处理后的第二相干光输出至所述基板上的光衰减器。4.根据权利要求3所述的光刻仪,其特征在于,进一步包括:用于对所述普克尔斯盒输出的所述第一相干光和对所述光衰减器输出的所述第二相干光进行滤波处理并输出至所述基板上的多个空间滤波器。5.根据权利要求4所述的光刻仪,其特征在于,进一步包括:用于将所述普克尔斯盒输出的所述第一相干光和对所述光衰减器输出的所述第二相干光分别反射至相应的所述空间滤波器的多个平面镜。6.根据权利要求1所述的光刻仪,其特征在于,进一步包括:用于通过控制输入到所述普克尔斯盒的偏压来调节所述普克尔斯盒内的晶体的折射率的第二控制器。7.根据权利要求1所述的光刻仪,其特征在于,所述普克尔斯盒的数量为一个以上。8.根据权利要求1所述的光刻仪,其特征在于,所述基板为酚醛树脂基板、环氧树脂基板或聚酰胺基板。9.根据权利要求1所述的光刻仪,其特征在于,进一步包括:用于根据微结构图案的排列方式来选择所述普克尔斯盒数量...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:深圳光启高等理工研究院,
类型:发明
国别省市:广东,44
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