【技术实现步骤摘要】
一种基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器及分束方法
本专利技术属于纳米光子学
,尤其涉及一种基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器及分束方法。
技术介绍
表面等离激元是金属和介质界面上自由电子集体振荡的电磁场模式,可以沿着金属和介质界面传播。表面等离激元超小的亚波长模式面积和局域共振特性使其在众多领域具有广泛的实际应用,如,纳米尺度上的光操控、单分子水平的生物探测、亚波长孔径的光透射增强和突破衍射极限的高分辨率光学成像等。随着众多的纳米器件设计方案被提出,人们迫切希望能够利用表面等离激元的性质,在纳米尺度上实现开发出新型器件。偏振分束器能够将TE模式(电矢量与传播方向垂直)和TM模式(磁矢量与传播方向垂直)的光波分开传播,是纳米光子学领域光子芯片的关键器件,引起了研究者广泛的兴趣,一直是研究的热点。使TE和TM两种不同偏振光分束传播到不同端口,对片上光通信、光互联、光计算等都具有重要意义。然而,现有的基于硅基偏振的分束器的尺寸通常在几十微米大小,工作带宽较窄且难以从近红外扩展到可见光波段。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题:克服现有技术的不足,提供一种基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器及分束方法,具有超小尺寸、超低串扰、工作带宽大、利于集成等多个优点。为了解决上述技术问题,本专利技术公开了一种基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,包括:壳体、和设置在所述壳体内的第一光波导和第二光波导;所述第一光波导和第二光波导平行、非对称、间隔设置;其中,所述第一光波导和第二光波导之间的间隔形成纳米狭缝;所述第一光波导包括:第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折 ...
【技术保护点】
一种基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,其特征在于,包括:壳体、和设置在所述壳体内的第一光波导和第二光波导;所述第一光波导和第二光波导平行、非对称、间隔设置;其中,所述第一光波导和第二光波导之间的间隔形成纳米狭缝;所述第一光波导包括:第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折射率薄膜,以及贯穿所述第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折射率薄膜的第一纳米槽;所述第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折射率薄膜由下至上依次设置;其中,入射光射入侧为结构的下方;所述第二光波导包括:第二金属薄膜、第二低折射率薄膜和第二高折射率薄膜,以及贯穿所述第二金属薄膜、第二低折射率薄膜和第二高折射率薄膜的第二纳米槽;所述第二金属薄膜、第二低折射率薄膜和第二高折射率薄膜由下至上依次设置;所述第一光波导和第二光波导的外形尺寸参数相同;所述第一金属薄膜与第二金属薄膜等厚;所述第一低折射率薄膜与第二低折射率薄膜等厚;所述第一高折射率薄膜与二高折射率薄膜等厚;所述第一纳米槽与所述第二纳米槽的结构尺寸参数不同;所述壳体与所述第一光波导和第二光波导之间的空腔内填充空气。
【技术特征摘要】
1.一种基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,其特征在于,包括:壳体、和设置在所述壳体内的第一光波导和第二光波导;所述第一光波导和第二光波导平行、非对称、间隔设置;其中,所述第一光波导和第二光波导之间的间隔形成纳米狭缝;所述第一光波导包括:第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折射率薄膜,以及贯穿所述第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折射率薄膜的第一纳米槽;所述第一金属薄膜、第一低折射率薄膜和第一高折射率薄膜由下至上依次设置;其中,入射光射入侧为结构的下方;所述第二光波导包括:第二金属薄膜、第二低折射率薄膜和第二高折射率薄膜,以及贯穿所述第二金属薄膜、第二低折射率薄膜和第二高折射率薄膜的第二纳米槽;所述第二金属薄膜、第二低折射率薄膜和第二高折射率薄膜由下至上依次设置;所述第一光波导和第二光波导的外形尺寸参数相同;所述第一金属薄膜与第二金属薄膜等厚;所述第一低折射率薄膜与第二低折射率薄膜等厚;所述第一高折射率薄膜与二高折射率薄膜等厚;所述第一纳米槽与所述第二纳米槽的结构尺寸参数不同;所述壳体与所述第一光波导和第二光波导之间的空腔内填充空气。2.根据权利要求1所述的基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,其特征在于,金属薄膜的厚度大于等于200nm;低折射率薄膜的厚度处于40nm~500nm范围内;高折射率薄膜的厚度处于40nm~500nm范围内。3.根据权利要求1所述的基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,其特征在于,低折射率薄膜为:折射率大于等于1的透明绝缘介质;高折射率薄膜为:折射率大于所述低折射率薄膜的折射率的透明绝缘介质。4.根据权利要求1所述的基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,其特征在于,所述基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器的工作波长处于700nm~900nm范围内。5.根据权利要求1所述的基于表面等离激元杂化波导的偏振分束器,其特征在于,所述纳米狭缝的宽度处于200nm~500nm范围内;所述第一纳米槽的槽宽处于40nm~800nm范围内;所述第二...
【专利技术属性】
技术研发人员:路翠翠,郭伟轩,陈睿轩,崔方明,
申请(专利权)人:中国空间技术研究院,
类型:发明
国别省市:北京,11
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