电阻测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种电阻测试装置，包括底座、支承部、固定机构及测试机构，支承部设置于底座，固定机构包括升降组件、固定部及压持部，升降组件用于驱动固定部沿垂直于支承面的方向远离或靠近支承面，压持部用于压紧产品；测试机构包括探针固定座、第一驱动件及装设于探针固定座的至少两个探针，探针固定座活动连接于固定部朝向支承面的一侧，至少两个探针相对支承面呈不同方向延伸，第一驱动件设置于固定部远离支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的探针固定座沿预设方向移动。相比传统的电阻测试装置，可同时对多个面的检测位检测，节省了人力及时间，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电阻测试装置
本专利技术涉及电阻测试
，特别是涉及一种电阻测试装置。
技术介绍
在手机、平板电脑等电子产品中框制造过程中，为了便于后续安装电路板及其他电子元器件，通常需沿中框的内侧壁设置金属件，以便于将电路板及电子元器件安装固定在金属件上。同时，为了起到接地保护作用，采用电路板和/或电子元器件与金属薄板导电连接的方式，但是连接处的电阻率的变化也成为影响电子产品性能参数的重要因素。因此，在将金属件与中框连接后，需要检测金属件上若干个预设点之间的电阻率，便于检测不符合相应要求的不良品。而由于测试点分布于中框内腔的水平面及侧面上，传统的测试装置因结构受限需要分别进行测试，造成时间和人力的浪费，影响测试效率。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的电阻测试装置对平面和侧面需要分开测试，影响测试效率的问题，提供一种可同时多点位测试的电阻测试装置。一种电阻测试装置，包括：底座；支承部，设置于所述底座，具有用于支承产品的支承面；固定机构，包括升降组件、固定部及压持部，所述升降组件设置于所述底座，所述固定部设置于所述升降组件的一侧，且位于所述支承面上方，所述升降组件用于驱动所述固定部沿垂直于所述支承面的方向远离或靠近所述支承面，所述压持部设置于所述固定部朝向所述支承面的一侧，用于在所述固定部靠近所述支承面移动到达预设位置时压紧产品；测试机构，包括探针固定座、第一驱动件及装设于所述探针固定座的至少两个探针，所述探针固定座活动连接于所述固定部朝向所述支承面的一侧，至少两个所述探针相对所述支承面呈不同方向延伸，所述第一驱动件设置于所述固定部远离所述支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的所述探针固定座沿预设方向移动。上述电阻测试装置，固定部随升降组件下降，而使压持部压紧产品，且使探针固定座在竖向到达一定的位置，第一驱动件驱动探针固定座沿预设方向移动到达相应的位置，探针根据产品的检测位的不同而呈不同方向延伸，使探针可到达相应的检测位，从而完整检测。相比传统的电阻测试装置，可同时对多个面的检测位检测，节省了人力及时间，提高了测试效率。在其中一实施例中，所述测试机构包括至少一个测试组件，每组所述测试组件包括一个所述探针固定座、一个所述第一驱动件及若干所述探针，若干所述探针相对所述支承面呈不同方向地装设于所述探针固定座。在其中一实施例中，所述探针固定座包括检测位置，所述第一驱动件驱动所述探针固定座沿预设方向移动终止于所述检测位置，所述探针触接所述产品上的检测位。在其中一实施例中，所述升降组件包括支座、升降部及第二驱动件，所述支座设置于所述底座，所述固定部固接于所述升降部，所述支座设有滑轨，所述第二驱动元件设置于所述支座，并与所述升降部连接，用于驱动所述升降部在垂直于所述支承面的方向沿所述滑轨移动。在其中一实施例中，所述固定部沿所述预设方向开设有滑槽，所述探针固定座包括主体部及连接于所述主体部的滑动部，所述主体部设有所述安装位，所述滑动部伸入所述滑槽，并与所述第一驱动件连接，以在所述第一驱动件的驱动下沿所述滑槽移动。在其中一实施例中，所述探针固定座还包括设置于所述固定部远离所述支承面一侧的配合部，所述配合部固定连接于所述滑动部远离所述主体部的一侧，且所述配合部一端与所述第一驱动件的输出端配接。在其中一实施例中，所述测试组件还包括导向座，所述导向座设置于所述固定部远离所述支承面的一侧，所述导向座具有一与所述配合块相匹配的导向通道，所述配合部至少部分收容于所述导向通道；其中，所述导向通道的导向方向与所述滑槽的延伸方向相互平行。在其中一实施例中，所述电阻测试装置还包括定位机构，所述定位机构包括若干定位块，若干所述定位块设置于所述支承面，围设形成与所述产品形状相配的固定位。在其中一实施例中，所述第一驱动件为伸缩式驱动件。在其中一实施例中，所述支承部沿远离或靠近所述升降组件的方向可移动地设置于所述底座。在其中一实施例中，所述电阻测试装置还包括控制装置，所述控制装置分别与所述升降组件及第一驱动件连接，用于控制升降组件驱动所述固定部到达垂直于所述支承面的方向的预设位置后，控制所述第一驱动件驱动所述探针固定座沿预设方向移动，以使所述探针到达并触接检测位。附图说明图1为本专利技术一实施方式中的电阻测试装置的结构示意图；图2为图1所示的电阻测试装置的A处的局部放大图；图3为图1所示的电阻测试装置除去导向座与配合部的结构示意图；图4为图3所示的电阻测试装置的B处的局部放大图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳的实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1及图2所示，本专利技术一实施方式中的电阻测试装置10，包括底座12、支承部14、固定机构16及测试机构18。该支承部14设置于底座12，具有一用于支承产品的支承面142，固定机构16包括升降组件162、固定部164及压持部166，升降组件162设置于底座12，该固定部164设置于升降组件162，且位于支承面142上方。升降组件162用于驱动该固定部164沿垂直于支承面142的方向远离或靠近支承面142，该压持部166设置于固定部164朝向支承面142的一侧，用于在固定部164靠近支承面142移动到达预设位置时压紧产品。测试机构18包括探针固定座184、第一驱动件186及装设于探针固定座184的至少两个探针188，探针固定座184活动连接于固定部164朝向支承面142的一侧，至少两个探针188相对支承面142呈不同方向延伸。第一驱动件186设置于固定部164远离支承面142的另一侧，并可驱动与其相对应的探针固定座184沿预设方向移动。在实际应用中，将产品置于支承面142上，升降组件162驱动固定部164下降而使压持部166到达预设位置时压紧产品。此时，探针188与产品不接触，接着第一驱动件186驱动探针固定座184沿预设方向移动，而到达一定的位置，使探针188到达相应的检测位进行检测。如此，根据产品的检测位的不同，探针188呈不同方向装设延伸，第一驱动件186驱动探针固定座184移动到达相应的位置，使探针188可到达相应的检测位，从而完成检测。相比传统的电阻测试装置，可同时对多个面的检测位检测，节省了人力及时间，提高了测试效率。需要指出的是，相对支承面142呈不同方向延伸的至少两个探针188可装设于一个探针固定座184，也可装设于不同的探针固定座184，总之，能实现至少两个探针188同时测试多个面的目的即本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻测试装置，其特征在于，包括：底座；支承部，设置于所述底座，具有用于支承产品的支承面；固定机构，包括升降组件、固定部及压持部，所述升降组件设置于所述底座，所述固定部设置于所述升降组件的一侧，且位于所述支承面上方，所述升降组件用于驱动所述固定部沿垂直于所述支承面的方向远离或靠近所述支承面，所述压持部设置于所述固定部朝向所述支承面的一侧，用于在所述固定部靠近所述支承面移动到达预设位置时压紧产品；测试机构，包括探针固定座、第一驱动件及装设于所述探针固定座的至少两个探针，所述探针固定座活动连接于所述固定部朝向所述支承面的一侧，至少两个所述探针相对所述支承面呈不同方向延伸，所述第一驱动件设置于所述固定部远离所述支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的所述探针固定座沿预设方向移动。

【技术特征摘要】
1.一种电阻测试装置，其特征在于，包括：底座；支承部，设置于所述底座，具有用于支承产品的支承面；固定机构，包括升降组件、固定部及压持部，所述升降组件设置于所述底座，所述固定部设置于所述升降组件的一侧，且位于所述支承面上方，所述升降组件用于驱动所述固定部沿垂直于所述支承面的方向远离或靠近所述支承面，所述压持部设置于所述固定部朝向所述支承面的一侧，用于在所述固定部靠近所述支承面移动到达预设位置时压紧产品；测试机构，包括探针固定座、第一驱动件及装设于所述探针固定座的至少两个探针，所述探针固定座活动连接于所述固定部朝向所述支承面的一侧，至少两个所述探针相对所述支承面呈不同方向延伸，所述第一驱动件设置于所述固定部远离所述支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的所述探针固定座沿预设方向移动。2.根据权利要求1所述的电阻测试装置，其特征在于，所述测试机构包括至少一个测试组件，每组所述测试组件包括一个所述探针固定座、一个所述第一驱动件及若干所述探针，若干所述探针相对所述支承面呈不同方向地装设于所述探针固定座。3.根据权利要求1或2所述的电阻测试装置，其特征在于，所述探针固定座包括检测位置，所述第一驱动件驱动所述探针固定座沿预设方向移动终止于所述检测位置，所述探针触接所述产品上的检测位。4.根据权利要求1或2所述的电阻测试装置，其特征在于，所述升降组件包括支座、升降部及第二驱动件，所述支座设置于所述底座，所述固定部固接于所述升降部，所述支座设有滑轨，所述第二驱动元件设置于所述支座，并与所述升降部连接，用于驱动所述升降部在垂直于所述支承面的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘铭，
申请(专利权)人：广东长盈精密技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44