具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪，包括箱体，在箱体内依次同轴设置有柱面弯晶分析器、后置铅光阑、以及可透光的台阶闪烁体和X射线记录装置；所述后置铅光阑中部设有狭缝，该狭缝用于阻挡直穿的X射线，而供经柱面弯晶分析器分光的X射线透过；所述台阶闪烁体靠近后置铅光阑的一端沿其轴向至少设有两级台阶，每个所述台阶的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后，还保持其谱分辨率的晶体薄层。采用以上结构，通过台阶型闪烁体实现多分辨率和大测谱范围的X射线的兼顾测量，满足更多测量场合，同时实现实时获取捕捉X射线谱图像，能快速看到测量结果，构思新颖，具有极大的科研应用价值。

Transmission cylinder bending crystal spectrometer with stepped scintillator

The utility model discloses a cylindrical transmission curved crystal with step scintillation spectrometer, which comprises a box body, the box body is arranged coaxially cylindrical crystal analyzer, rear lead diaphragm, and a light permeable step X ray scintillator and recording device; the rear part is provided with a lead aperture slit, the slit is used blocking the X straight through, and for X ray by a cylindrical crystal analyzer of light through the steps; one end of the scintillator near the rear lead aperture along the axial direction is provided with at least two steps, the end of each of the steps are the diffraction of X ray diffraction after converted into visible light. Keep the spectral resolution of the crystal layer. With the above structure, the step type scintillator to realize multi resolution and large measuring range between X ray spectrum measurement, meet more measurement situations, at the same time to obtain real time capture X ray spectrum image, can quickly see the measurement results, the novel, has great application value in scientific research.

【技术实现步骤摘要】
具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪
本技术涉及射线谱测量仪器设备
，具体涉及一种具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪。
技术介绍
晶体谱仪是使用晶体对X射线进行衍射分光、从而实现对X射线谱进行测量的一种设备。透射柱面弯晶谱仪即为其中的一种，从同一点状辐射源发出的复色X射线经柱面弯晶透射分光后，受弯晶的几何会聚作用，某种波长X射线的衍射线会呈线状和关于中心两侧对称分布的特点；而从整体光谱分布来看，距离对称中心较近的是波长较短的X射线。基于测量需求，传统的透射柱面弯晶谱仪的基本结构包括铅制针孔、柱面弯晶分析器、铅制狭缝、X射线记录设备等。由于通常的X射线记录设备是平面型的，记录面尺寸较为有限，透射柱面弯晶谱仪不能同时兼顾很宽的测谱范围和较高的谱分辨率。故通常通过将X射线记录设备的记录面置于柱面弯晶罗兰圆切线位置，可以平衡测谱范围和谱分辨率。而由布拉格衍射理论表明，如果X射线记录设备的记录面放置在远离罗兰圆的位置，可以有效提高衍射线的谱分辨率，这在相当多的实验场合中是非常有必要的，特别是在需要测量某种特征谱线时更需要。但将X射线记录设备的记录面远离罗兰圆会使测谱范围显著减少，所以传统的透射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)内依次同轴设置有柱面弯晶分析器(2)、后置铅光阑(3)、以及可透光的台阶闪烁体(4)和X射线记录装置(5)；所述后置铅光阑(3)中部设有狭缝(30)，该狭缝(30)用于阻挡直穿的X射线，而供经柱面弯晶分析器(2)分光的X射线透过；所述台阶闪烁体(4)靠近后置铅光阑(3)的一端沿其轴向至少设有两级台阶(40)，每个所述台阶(40)的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后，还保持其谱分辨率的晶体薄层(41)。

【技术特征摘要】
1.一种具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)内依次同轴设置有柱面弯晶分析器(2)、后置铅光阑(3)、以及可透光的台阶闪烁体(4)和X射线记录装置(5)；所述后置铅光阑(3)中部设有狭缝(30)，该狭缝(30)用于阻挡直穿的X射线，而供经柱面弯晶分析器(2)分光的X射线透过；所述台阶闪烁体(4)靠近后置铅光阑(3)的一端沿其轴向至少设有两级台阶(40)，每个所述台阶(40)的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后，还保持其谱分辨率的晶体薄层(41)。2.根据权利要求1所述的具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述箱体(1)前端还设有前置铅光阑(6)，该前置铅光阑(6)位于柱面弯晶分析器(2)设有柱面弯晶(20)的一侧，并与柱面弯晶分析器(2)同轴设置；该前置铅光阑(6)的中心位置设有中心孔(60)，在中心孔(60)左右两侧对称的设有供X射线通过的通光窗口(61)。3.根据权利要求1或2所述的具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述X射线记录装置(5)包括CMOS相机(50)，该CMOS相机(50)的正面光纤面板紧贴所述台阶闪烁体(4)的后端面。4.根据权利要求3所述的具有台阶闪烁体的透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述X射线记录装置(5)还包括相机压板(51)，该相机压板...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐涛，王峰，苏明，刘慎业，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：新型
国别省市：四川,51