The invention discloses a OTN electrical cross capacity test system and method based on ODU0/1 particles, relates to the field of optical transmission network, the method includes the following steps: the establishment of a N * N matrix; auxiliary measure N optical interface, interface box business branch disk access signals are OTN equipment at the same time, the system will the auxiliary measuring optical signal box first line interface line side interface in optical disk access line second line interface disc box to be measured relative to the light side interface system in accordance with the N * N matrix, paranotal electrical interface of the second line interface disc M ODU0/1 particles were assigned to third lines each line side light disk interface the corresponding interface paranotal electrical interface; the adjacent single disc as a group, in order to traverse the OTN equipment support all slots. The invention can effectively improve the testing efficiency, and fully test the OTN equipment to support the cross capacity of smaller particles such as ODU0/1.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光传送网领域,具体是涉及一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统及方法。
技术介绍
OTN(OpticalTransportNetwork,光传送网)是融合SDH(SynchronousDigitalHierarchy,同步数字体系)与WDM(WavelengthDivisionMultiplexing,密集波分复用)优势而成的技术,既具备超大容量的数据业务承载能力,又能实现业务基于多种颗粒的灵活调度。OTN定义的电域的带宽颗粒为ODUk(OpticalChannelDataUnit-k,光通路数据单元k,k=0、1、2、3、4),即ODU0(GE,1000M/s)、ODU1(2.5Gb/s)、ODU2(10Gb/s)、ODU3(40Gb/s)和ODU4(100Gb/s),光层的带宽颗粒为波长。OTN定义的光通路传送单元(OTUk,k=0、1、2、3、4),可使ODUk通过光通路网络连接传送。OTN技术主要处理2.5Gb/s及以上带 ...
【技术保护点】
一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统,包括OTN设备的辅测框和待测框,辅测框包括交叉连接的支路接口盘和第一线路接口盘,待测框包括交叉连接的第二线路接口盘和第三线路接口盘,第二线路接口盘和第三线路接口盘均为待测单盘,其特征在于:所述支路接口盘的背板侧有至少4个ODU1颗粒电接口或至少8个ODU0颗粒电接口,第一线路接口盘的背板侧有M个电接口,第一线路接口盘的线路侧有N个光接口,M、N均为大于3的正整数,第二线路接口盘的线路侧有N个光接口,第二线路接口盘的背板侧有M个电接口,第三线路接口盘的背板侧有M个电接口,第三线路接口盘的线路侧有N个光接口;建立一个N×N ...
【技术特征摘要】
1.一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统,包
括OTN设备的辅测框和待测框,辅测框包括交叉连接的支路接口盘
和第一线路接口盘,待测框包括交叉连接的第二线路接口盘和第三线
路接口盘,第二线路接口盘和第三线路接口盘均为待测单盘,其特征
在于:所述支路接口盘的背板侧有至少4个ODU1颗粒电接口或至
少8个ODU0颗粒电接口,第一线路接口盘的背板侧有M个电接口,
第一线路接口盘的线路侧有N个光接口,M、N均为大于3的正整数,
第二线路接口盘的线路侧有N个光接口,第二线路接口盘的背板侧
有M个电接口,第三线路接口盘的背板侧有M个电接口,第三线路
接口盘的线路侧有N个光接口;
建立一个N×N矩阵,N×N矩阵中的行表示第三线路接口盘的
线路侧光接口,列表示待测的第二线路接口盘的线路侧光接口,矩阵
的元素用N×N(i,j)标识,i、j均为正整数,且1≤i≤N,1≤j≤N,
N×N(i,j)表示待测的第二线路接口盘的第i个线路侧光接口的第N
×N(i,j)个业务颗粒,分配到第三线路接口盘的第j个线路侧光接口
对应的第N×N(i,j)个背板电接口;N×N(i,j)的取值为:i=j时,N
×N(i,j)=1;i<j时,N×N(i,j)=j–i+1;i>j时,N×N(i,j)=j–i+M+1;
业务信号依次接入OTN设备的辅测框中支路接口盘的N个光接
口,同时,系统将辅测框中第一线路接口盘线路侧光接口的光信号依
次接入待测框中第二线路接口盘的线路侧对应光接口,系统按照N×
N矩阵,将第二线路接口盘的背板侧电接口的M个ODU0/1颗粒分
配到第三线路接口盘各线路侧光接口相应的背板侧电接口中,第三线
路接口盘的各线路侧光接口均环回连接,只有对应端口的业务才接
通,以相邻单盘为一组,依次遍历OTN设备所支持的所有槽位。
2.如权利要求1所述的OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容
量测试系统,其特征在于:所述业务信号接入OTN设备的辅测框中
支路接口盘的客户侧第一个光接口,经过封装交叉后,由第一线路接
口盘的线路侧第1个光接口输出;待测框中,待测的第二线路接口盘
的线路侧第1个光接口接收来自辅测框的光信号,按照N×N矩阵,
系统将该光信号中的M个ODU0/1颗粒分别分配到第三线路接口盘
的N个线路侧光接口中。
3.如权利要求2所述的OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容
量测试系统,其特征在于:所述系统将待测的第二线路接口盘的线路
侧第1个光接口的M个ODU0/1颗粒,分别调度到第三线路接口盘
上与线路侧第1个光接口对应的背板侧第1个电接口、与线路侧第2
个光接口对应的背板侧第2个电接口、…直到与线路侧第N个光接
口对应的背板侧第M个电接口。
4.如权利要求2所述的OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容
量测试系统,其特征在于:所述系统将待测的第二线路接口盘的线路
侧第2个光接口的M个ODU0颗粒,分别调度到第三线路接口盘上
与线路侧第2个光接口对应的背板侧第1个电接口、与线路侧第3个
光接口对应的背板侧第2个电接口、…...
【专利技术属性】
技术研发人员:李尧,陈娟,彭阳,张强,
申请(专利权)人:烽火通信科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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