图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置及方法，该装置沿入射光线的主光轴从左到右依次设有望远系统、消色差四分之一波片、延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器。所述望远系统由第一透镜、视场光阑和第二透镜组成；所述视场光阑设置于第一透镜和第二透镜之间的主光轴上。本发明专利技术可以通过单次测量获取与仪器光谱分辨率一致的强度光谱与全部的线偏振光谱信息，较传统通道光谱偏振技术使复原的强度光谱与线偏振光谱均不受串扰的影响，复原结果更加精确并且光谱分辨率了提高3‑7倍。

【技术实现步骤摘要】
图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置和方法
本专利技术属于偏振态测量
，涉及获取图像、线偏振与光谱的装置及方法，尤其是一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置和方法。
技术介绍
Stokes矢量谱可以完整的描述目标的光谱及偏振信息，而光谱及偏振信息对于地球遥感探测有着重要的意义，光谱及偏振信息对地物识别、大气监测及物质性质检测方面均有重要作用。成像光谱偏振技术作为一种新型的光学探测方法，目前国际上只有少数科研机构开展相关研究工作。尤其是干涉型成像光谱偏振仪(InterferenceSpectropolarimeter,ISP)，目前仍处于原理探索与实验验证阶段，其技术手段尚未成熟。目前国际上常规偏振态(Stokes矢量谱)的测量方法有按时间顺序测量及按空间顺序测量等方法，这些方法均需要对目标进行多次测量，存在时间或空间失配问题，限制了其分辨率和偏振测量精度，同时难以做到实时测量，限制了其在偏振探测领域的应用。1999年KazuhikoOka等提出的通道光谱偏振技术，可以通过单次测量获取探测目标的全偏振态信息，具有实时探测能力。然而该方法在复原强度光谱与偏振光谱时需要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置，其特征在于，沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统(1)、消色差四分之一波片(2)、第一延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第二延迟器(6)、检偏器(7)、成像镜(8)及CCD探测器(9)；入射光经望远系统(1)准直后变为平行光，平行光依次通过消色差四分之一波片(2)、第一延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第二延迟器(6)、检偏器(7)和成像镜(8)，最终在CCD探测器(9)上获取到两幅双通道干涉图。

【技术特征摘要】
1.一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置，其特征在于，沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统(1)、消色差四分之一波片(2)、第一延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第二延迟器(6)、检偏器(7)、成像镜(8)及CCD探测器(9)；入射光经望远系统(1)准直后变为平行光，平行光依次通过消色差四分之一波片(2)、第一延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第二延迟器(6)、检偏器(7)和成像镜(8)，最终在CCD探测器(9)上获取到两幅双通道干涉图。2.根据权利要求1所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置，其特征在于，所述望远系统(1)由第一透镜(101)、视场光阑(102)和第二透镜(103)组成；所述视场光阑(102)设置于第一透镜(101)和第二透镜(103)之间的主光轴上。3.根据权利要求2所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置，其特征在于，视场光阑(102)位于第一透镜(101)的后焦面上，并与第二透镜(103)的前焦面重合。4.根据权利要求1所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置，其特征在于，构建满足右手定则的xyz坐标系，主光轴为z轴，所述消色差四分之一波(2)的快轴方向与x轴正向的夹角为0°；所述延迟器(3)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°；Wollaston棱镜(4)的光轴分别位于yz与xz平面，光轴均与z轴垂直。5.根据权利要求4所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置，其特征在于，Savar...

【专利技术属性】
技术研发人员：张淳民，权乃承，穆廷魁，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61