一种新型高效按键状态检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种新型高效按键状态检测电路，用于检测按键状态正常与否，包括依次连接的按键检测电路模块、比较电路模块、微处理器单元模块和按键显示模块，所述微处理器模块的输入端还与所述按键检测电路模块的另一输出端相连，按键显示模块包含有LED显示单元和无源蜂鸣器单元；整个按键状态检测过程为按键断开‑按键按下‑按键释放‑按键断开，在检测过程中，蜂鸣器由长响转为不响，发光二极管由长亮转为不亮，就表示按键状态正常，否则就表示按键状态不正常；整个检测过程能够高效可靠地检测出按键状态正常与否，解决了传统的AD采样检测方法对按键一致性要求高的问题，实现按键状态检测的通用性，大大降低产品后期的维护费用。

A new type of high efficiency key state detection circuit

The utility model discloses a novel efficient key state detection circuit for detecting the key state is normal or not, comprises a key detection circuit module, a comparison circuit module, microprocessor module and key display module, wherein the input end of the microprocessor module and the key detection circuit module of another output terminal connected, key display module contains LED display unit and passive buzzer unit; the key state detecting process for button disconnect button press the release button disconnect button, in the detection process, the buzzer rang from long to ring, led by long light to light, said the key the normal state, otherwise it is said the key state is not normal; the whole detection process can efficiently and reliably detect the key state is normal or not, to solve the traditional AD sampling The detection method has high requirements for key consistency, and realizes the versatility of keystroke state detection, greatly reducing the maintenance cost in the later stage of the product.

【技术实现步骤摘要】
一种新型高效按键状态检测电路
本技术涉及按键状态检测领域，尤其涉及一种新型高效按键状态检测电路。
技术介绍
目前，按键几乎在所有电器中都有使用，按键状态的好坏直接关系到用户使用的直观感受。现有的按键状态检测技术多为AD采样检测按键状态，利用AD值来识别按键状态，对按键的一致性有很高的要求，而不同的按键生产厂家由于使用的材料不一致，导致按键的一致性差异较大，同样的检测电路不能适用于不同厂家的按键；并且即使出厂时状态良好的按键在经过长时间使用后可能会出现按键触点不良，影响客户的使用，导致售后维修费用升高。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本技术提供了一种新型高效按键状态检测电路，能够适用于检测不同厂家生产的按键，并且大大降低了售后维修费用。本技术解决其技术问题所采用的技术方案为：一种新型高效按键状态检测电路，用于检测按键状态正常与否，包括依次连接的用于检测按键状态的按键检测电路模块、用于控制微处理器单元模块复位的比较电路模块、用于对接收到的按键状态信息进行处理的微处理器单元模块和用于显示当前按键是否有效按下的按键显示模块，所述微处理器模块的输入端还与所述按键检测电路模块的另一输出端相连。所述按键检测电路模块包括按键SW1，第三电阻R3、第四电阻R4和第一电容C1，所述按键SW1的一端连接电源VCC，所述按键SW1的另一端连接第三电阻R3的一端，所述第三电阻R3的另一端连接微处理器模块的MCU_TEST输入脚，第四电阻R4的一端与所述按键SW1和所述第三电阻R3的公共端d相连，所述第四电阻R4的另一端接地，第一电容C1与所述第四电阻R4并联，所述按键SW1、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1的公共端d输出电压与所述比较电路模块的输入端JV连接。所述按键显示模块包括LED显示单元、无源蜂鸣器单元、N型三极管Q1、第一电阻R1和第二电阻R2；所述N型三极管Q1的基极与微处理器模块的输出端MCU_B/L连接，所述第二电阻R2的一端与N型三极管Q1的集电极连接，所述第二电阻R2的另一端与第一电阻R1的一端连接，所述第二电阻R2与第一电阻R1以串联的方式连接，所述第一电阻R1的另一端与电源VCC连接；所述无源蜂鸣器单元与第一电阻R1以并联的方式连接；所述LED显示单元的正极端与N型三极管Q1的发射极连接，所述LED显示单元的负极端接地。所述比较电路模块的输出端与所述微处理器模块的复位脚连接，当所述比较电路模块输入端的输入电压大于所述比较电路模块的参考电压时，所述比较电路模块输出低电平，为单片机输入复位信号，进行复位。本技术的有益效果有：本技术LED显示单元和无源蜂鸣器单元采用同一三极管进行驱动，解决了现有的LED显示单元和无源蜂鸣器单元需要占用微处理器单元模块两个端口的问题，大大简化了电路，降低了生产成本；同时整个按键状态检测过程采用按键断开-按键按下-按键释放-按键断开，在按键检测过程中，通过对蜂鸣器和LED显示直观观察，经过对比后，判断按键状态正常与否，解决了传统的AD采样检测方法对按键一致性要求高的问题，实现了按键状态检测的通用性，同时大大提高了按键状态检测的高效可靠性，同时大大降低了产品后期的维护费用。附图说明下面结合附图及具体实施例对本技术作进一步说明，其中：图1为本技术具体实施例的电路框架图。图2为本技术具体实施例按键检测电路模块的电路原理图。图3为本技术具体实施例按键显示模块的的电路原理图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。如图1所示，本实施例一种新型高效按键状态检测电路，用于检测按键状态正常与否，包括依次连接的用于检测按键状态的按键检测电路模块、用于控制微处理器单元模块复位的比较电路模块、用于对接收到的按键状态信息进行处理的微处理器单元模块和用于显示当前按键是否有效按下的按键显示模块，所述微处理器模块的输入端还与所述按键检测电路模块的另一输出端相连。进一步如图2所示，所述按键检测电路模块，包括按键SW1，第三电阻R3、第四电阻R4和第一电容C1，所述按键SW1的一端连接电源VCC，所述按键SW1的另一端连接第三电阻R3的一端，所述第三电阻R3的另一端连接微处理器模块的MCU_TEST输入脚，第四电阻R4的一端与所述按键SW1和所述第三电阻R3的公共端d相连，所述第四电阻R4的另一端接地，第一电容C1与所述第四电阻R4并联，所述按键SW1、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1的公共端d输出电压与所述比较电路模块的输入端JV连接。进一步如图3所示，所述按键显示模块，包括LED显示单元、无源蜂鸣器单元、N型三极管Q1、第一电阻R1和第二电阻R2；所述N型三极管Q1的基极与微处理器模块的输出端MCU_B/L连接，所述第二电阻R2的一端与N型三极管Q1的集电极连接，所述第二电阻R2的另一端与第一电阻R1的一端连接，所述第二电阻R2与第一电阻R1以串联的方式连接，所述第一电阻R1的另一端与电源VCC连接；所述无源蜂鸣器单元与第一电阻R1以并联的方式连接；所述LED显示单元的正极端与N型三极管Q1的发射极连接，所述LED显示单元的负极端接地。所述比较电路模块的输出端与所述微处理器模块的复位脚连接，当所述比较电路模块输入端的输入电压大于所述比较电路模块的参考电压时，所述比较电路模块输出低电平，为单片机输入复位信号，进行复位。一种新型高效按键状态检测电路，如果在按键SW1被按下的时间段内，通过微处理器单元模块处理后，无源蜂鸣器BUZZ长响，发光二极管LED长亮，而在按键被释放后，蜂鸣器BUZZ不响，发光二极管LED不亮，则表示按键状态正常；如果在按键SW1被按下的时间段内，通过微处理器单元模块处理后，蜂鸣器BUZZ频响，发光二极管LED频亮，则表示按键状态不正常；如果在按键SW1被按下的时间段内，通过微处理器单元模块处理后，蜂鸣器BUZZ长响，发光二极管LED长亮，而在按键被释放后，蜂鸣器BUZZ频响，发光二极管LED频亮，则表示按键状态不正常。整个按键状态检测过程为按键断开-按键按下-按键释放-按键断开，能够高效可靠地检测出按键的状态。需要说明的是，以上所述只是本技术的较佳实施例而已，本技术并不局限于上述实施方式，只要其以相同的手段达到本技术的技术效果，都应属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型高效按键状态检测电路，用于检测按键状态正常与否，其特征在于，包括依次连接的用于检测按键状态的按键检测电路模块、用于控制微处理器单元模块复位的比较电路模块、用于对接收到的按键状态信息进行处理的微处理器单元模块和用于显示当前按键是否有效按下的按键显示模块，所述微处理器模块的输入端还与所述按键检测电路模块的另一输出端相连。

【技术特征摘要】
1.一种新型高效按键状态检测电路，用于检测按键状态正常与否，其特征在于，包括依次连接的用于检测按键状态的按键检测电路模块、用于控制微处理器单元模块复位的比较电路模块、用于对接收到的按键状态信息进行处理的微处理器单元模块和用于显示当前按键是否有效按下的按键显示模块，所述微处理器模块的输入端还与所述按键检测电路模块的另一输出端相连。2.根据权利要求1所述的一种新型高效按键状态检测电路，其特征在于：所述按键检测电路模块包括按键SW1，第三电阻R3、第四电阻R4和第一电容C1，所述按键SW1的一端连接电源VCC，所述按键SW1的另一端连接第三电阻R3的一端，所述第三电阻R3的另一端连接微处理器模块的MCU_TEST输入脚，第四电阻R4的一端与所述按键SW1和所述第三电阻R3的公共端d相连，所述第四电阻R4的另一端接地，第一电容C1与所述第四电阻R4并联，所述按键SW1、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1的公共端d输出电压与所述比较...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄森锋，
申请(专利权)人：珠海瑞德电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44