一种双标签型防伪标签制造技术

本发明专利技术公开了一种双标签型防伪标签，该双标签型防伪标签包括：上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内或部分覆盖了下层标签；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。本发明专利技术由于采用了双层标签，上下层标签的纹理特征特殊但不复杂、且上下层标签的相对几何位置信息不易物理简单重复，避免了引入复杂纹理和复杂材料所带来的高昂成本和复杂技术要求。

Double label type anti-counterfeit label

The invention discloses a double label anti-counterfeiting label, the double label anti-counterfeiting label includes: upper and lower label label; the upper boundary layer in the whole label label within the boundaries of the lower part of the cover or label; texture information of the lower label is used in feature extraction of texture information SIFT. The invention adopts double label, texture feature on the lower label special but not complicated, and the relative geometry position information on the lower label is not easy to avoid the requirement of physical simple repetition, high cost brought by complex texture and complex materials and complex technology.

【技术实现步骤摘要】
一种双标签型防伪标签
本专利技术涉及商品防伪
，尤其涉及一种双标签型防伪标签。
技术介绍
目前，防伪已经是商品流通、销售等不可缺少的技术。当前的商品防伪技术方法主要有二维码或其他含有语义信息的图形码，激光全息技术，荧光材料，水印纸等。二维码或其他含有语义信息的图形码的语义信息易于解读但也易于被复制；激光全息技术，荧光材料，水印纸等方法将主要精力放在防伪材料和复杂的纹理上面，生产成本高、技术复杂且不利于大规模推广，且对于普通消费者来说，难以识别。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷，提供一种双标签型防伪标签。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种双标签型防伪标签，包括：上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。按上述方案，所述上层标签的纹理信息为包括商品信息的纹理信息。按上述方案，所述上层标签为二维码或其他含有语义信息的图形码标签。按上述方案，所述上层标签中包括的商品信息包括商品名称、商品产地和制造商信息中的一种或多种。按上述方案，所述下层标签的纹理信息包括丰富的灰度梯度特征信息。即可用于SIFT特征提取的灰度梯度特征信息。按上述方案，所述上层标签为两个或多个标签拼接得到的标签。按上述方案，所述上层标签由左侧标签和右侧标签两个标签拼接得到的标签。按上述方案，所述上层标签由左侧标签和右侧标签两个标签拼接得到的标签，所述左侧标签为工字型标签，所述右侧标签为菱形标签。按上述方案，所述上层标签通过手工或机械方式粘贴在下层标签之上。本专利技术的工作原理如下：1)取真实的商品样本和待检测的商品样本记为S1，S2；S1的下层标签记为D1，S2的下层标签记为D2，D1和D2分别贴在商品S1，S2表面；S1的上层标签记为U1，S2的上层标签记为U2。将商品S1的双标签记为T，以T为模板双标签，T＝{U1，D1}，U1以手工或某种机械方式贴在下层标签D1上；商品S2的双标签记为P，P作为待检验的双标签，P＝{U2，D2}，U2也是以手工或某种机械方式贴在下层标签D2上。然后，对双标签T，P拍摄形成两幅图片记为IMG1,IMG2；2)分别读取IMG1,IMG2中上层标签的语义信息，获得商品的信息，也可获得商品的产地、制造商等信息。并进行信息比对，进行第一次防伪判别；3)分别提取IMG1中上下标签D1，U1和IMG2中上下标签D2，U2的SIFT特征点；4)对D1和D2进行SIFT特征配准，取出D1和D2中配准的SIFT特征点集记为f1,f2；以D1作为参照的标准，利用SIFT特征点集f1和f2的位置坐标，构建D2到D1的仿射变换矩阵记为M，M包含旋转，平移，尺度变换因子等参数。此步骤是将D2变换到与D1同一个位置，削弱不同拍摄角度和商品摆放位置带来的干扰。5)对U1和U2进行SIFT特征配准，取出配准的SIFT特征点集f1’,f2’；将U2的SIFT特征点集f2’按照步骤3)计算出的M矩阵进行仿射变换得到特征点集f2”。6)根据f1’和f2”的位置坐标，计算SIFT特征点集f1’和f2”的距离d，d是点集f1’和f2”对应点距离之和。此d反映了商品S2待测双标签P的上层标签U2相对下层标签D2的相对位移信息。7)根据d与给定距离阈值的比较并结合上层标签的语义信息，综合判断待测双标签P是否是真实商品的双标签，进而判定商品S2的合法性。当上层标签为两个或多个标签拼接而成时，其防伪原理类似，叙述如下：真实双层多标签样本记为S1；待检测的双层多标签S2。S1的下层标签记为D1，S2的下层标签记为D2；S1的上层标签记为U_S1_1,U_S1_2，S2的上层标签记为U_S2_1,U_S2_2。将S1的所包含的多标签记为T，以T为模板多标签，T＝{U_S1_1,U_S1_2，D1}，U_S1_1,U_S1_2以手工或某种机械方式贴在下层标签D1上；S2所包含的多标签记为P，P作为待检验的双层多标签，P＝{U_S2_1,U_S2_2，D2}，U_S2_1,U_S2_2也是以手工或某种机械方式贴在下层标签D2上。然后，对S1，S2拍摄形成两幅图片记为IMG1，如图2所示，IMG2如图3所示。分别按照一定的规则解析出IMG1,IMG2中上层双标签的语义信息，获得商品的信息，也可获得商品的产地、商品形状、商品种类和商品制造商等信息。并进行商品信息比对，进行第一次防伪判别；分别提取IMG1中上下标签D1，U_S1_1,U_S1_2和IMG2中上下标签D2，U_S2_1和U_S2_2的SIFT特征点，如图4和图5红色点所示对D1和D2进行SIFT特征配准，取出D1和D2中配准的SIFT特征点集合记为f1,f2；以D1作为参照的标准，利用SIFT特征点集合f1和f2的位置坐标，构建D2到D1的仿射变换矩阵记为M，M包含旋转，平移，尺度变换因子等参数。此步骤是将D2变换到与D1同一个位置，削弱不同拍摄角度和多标签附着的商品摆放位置带来的干扰。对U_S1_1,U_S1_2和U_S2_1,U_S2_2进行SIFT特征配准，取出配准的SIFT特征点集合f1_s,f2_s；将U_S2_1,U_S2_2的SIFT特征点集合f2_s按照步骤3)计算出的M矩阵进行仿射变换得到特征点集合f2_ss。根据f1_s和f2_ss的位置坐标，计算SIFT特征点集合f1_s和f2_ss的距离d，d是点集合f1_s和f2_ss对应点的距离之和。此d反映了S2待测多标签P的上层双标签U_S2_1,U_S2_2相对下层双标签D2的相对位移信息。根据d与给定距离阈值的比较并结合上层标签的语义信息，综合判断待测多标签P是否是真实商品的多标签，进而判定所属商品的合法性。本专利技术产生的有益效果是：本专利技术由于采用了双层标签，上下层标签的纹理特征特殊但不复杂且上下层标签的相对几何位置信息不易物理简单重复，避免了引入复杂纹理和复杂材料所带来的高昂成本和复杂技术要求。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：图1是本专利技术实施例的包装盒物品真实双标签图；图2是本专利技术实施例的包装盒物品待核验双标签图；图3真品物品经过SIFT特征提取后的示意图；图4是待检验物品经过SIFT特征提取后的示意图；图5是本专利技术实施例的双标签型防伪标签示意图；图6是本专利技术实施例的组合标签示意图；图7是本专利技术实施例的包装盒物品真实双标签图；图8是本专利技术实施例的包装盒物品待核验双标签图；图9真品物品经过SIFT特征提取后的示意图；图10是待检验物品经过SIFT特征提取后的示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图5所示，一种双标签型防伪标签，包括：上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。其中，所述上层标签的纹理信息为包括商品信息的纹理信息。常用的，所述上层标签为二维码或其他含有语义信息的图形码标签，上层标签中包括的商品信息包括商品名称、商品产地和制造商。下层标签的纹理信息包括丰本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双标签型防伪标签，其特征在于，包括：上层标签和下层标签；所述上层标签与下层标签的位置关系如下：上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内或上层标签部分覆盖了下层标签；上层标签和下层标签均包含纹理信息；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。

【技术特征摘要】
2016.10.10 CN 20161088512221.一种双标签型防伪标签，其特征在于，包括：上层标签和下层标签；所述上层标签与下层标签的位置关系如下：上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内或上层标签部分覆盖了下层标签；上层标签和下层标签均包含纹理信息；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。2.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签的纹理信息为包括商品信息的纹理信息。3.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签为二维码或其他含有语义信息的图形码标签。4.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签为两个或多个标签拼接或组合得到的标签。5.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签由左侧标签和右侧标签两个标签拼接得到的标签。6.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签由左侧标签和右侧标签两个标签拼接得到的标签，所述左侧标签为工字型标签，所述右侧标签为菱形标签。7.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签中包括的商品信息包括商品名称、商品产地和制造商信息中的一种或多种。8.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述下层标签的纹理信息包括丰富的灰度梯度特征信息。9.根据权利要求1所述的双标签型防伪标签，其特征在于，所述上层标签通过手工或机械方式粘贴在下层标签之上。10.一种基于权利要求1所述双标签型防伪标签的防伪检测方法，包括如下步...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋育锋，
申请(专利权)人：宋育锋，
类型：发明
国别省市：湖北,42