The invention discloses an external correction method of a refrigeration infrared thermal imager. It includes the following steps: S1, refrigeration control infrared thermal imaging camera lens defocus position to the movement; S2: non uniformity correction parameters of OFFSET acquisition refrigeration type infrared thermal imager; S3: non uniformity correction parameters of OFFSET after the acquisition is completed, the refrigeration control lens movement thermal infrared imager to focus position. The invention of optical lens in the defocus state of the value of non uniformity correction of uniform background, received after radiation into the optical lens, non uniformity of the radiation energy also includes the optical lens, good correction effect.
【技术实现步骤摘要】
一种制冷型红外热成像仪外校正方法
本专利技术涉及红外成像
,尤其涉及一种制冷型红外热成像仪外校正方法。
技术介绍
制冷型红外热像仪的焦平面温度稳定,灵敏度高。如果采用内校正的非均匀校正方式来进行校正,其在探测器的前面加挡片,入射光经过光学镜头后,才到达探测器,探测器前的挡片挡住了经过光学镜头的辐射能量,探测器接收到的是挡片作为均匀背景辐射的辐射能量,不能对制冷型红外热成像仪镜头入射能量的非均匀性进行校正,导致制冷型热像仪的非均匀性校正结果变差。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有制冷型红外热成像仪采用内校正的非均匀校正方式来进行校正,校正效果不好的技术问题,提供了一种制冷型红外热成像仪外校正方法,其把光学镜头在散焦状态的值做非均匀校正的均匀背景,接收到的是经过了光学镜头进入的辐射能量,该辐射能量也包含了光学镜头的非均匀性,校正效果好。为了解决上述问题,本专利技术采用以下技术方案予以实现:本专利技术的一种制冷型红外热成像仪外校正方法,包括以下步骤:S1:制冷型红外热成像仪控制镜头运动到散焦位置;S2:制冷型红外热成像仪进行非均匀校正参数OFFSET的采集;S ...
【技术保护点】
一种制冷型红外热成像仪外校正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:制冷型红外热成像仪控制镜头运动到散焦位置;S2:制冷型红外热成像仪进行非均匀校正参数OFFSET的采集;S3:非均匀校正参数OFFSET采集完成后,制冷型红外热成像仪控制镜头运动到焦点位置。
【技术特征摘要】
1.一种制冷型红外热成像仪外校正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:制冷型红外热成像仪控制镜头运动到散焦位置;S2:制冷型红外热成像仪进行非均匀校正参数OFFSET的采集;S3:非均匀校正参数OFFSET采集完成后,制冷型红外热成像仪控制镜头运动到焦点位置。2.根据权利要求1所述的一种制冷型红外热成像仪外校正方法,其特征在于,所述步骤S2包括以下步骤:制冷型红外热像仪采集M个均匀背景图像,对这些均匀背景图像取平均,将得到的平均值作为非均匀校正参数值OFFSET。3.根据权利要求1所述的一种制冷型红外热成像仪外校正方法...
【专利技术属性】
技术研发人员:周盛民,
申请(专利权)人:浙江悍马光电设备有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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