一种高反光物体扫描方法及其系统技术方案

本发明专利技术公开了一种高反光物体扫描测绘方法和系统，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围或表面；(2)对被扫描物采用摄像设备按照不同角度进行环物扫描拍摄，(3)在被扫描物表面喷涂哑光涂层或用光学系统投射光斑、杂点、二维码；(4)用一个或多个摄像设备对经过步骤(3)处理的被扫描物进行多角度环物拍摄，获取被扫描物的各个顶点、棱边数据；(5)对步骤(4)中获取的图像进行计算，得出被扫描物的几何顶点、几何边和几何表面的模型；(6)根据步骤(1)中获取的参照物信息，将步骤(2)中获取的图像代入到步骤(5)得到的模型中，生成被扫描物的顶点色彩和贴图信息，生成最终模型。

High reflective object scanning method and system thereof

The invention discloses a high reflective object scanning mapping method and system, which comprises the following steps: (1) for scanning is increased reference object, the reference is placed on scanning around the object or surface; (2) to be used for scanning object scanning according to the different angles of the camera equipment, (3) in the scanned surface or spray matte coated optical system for laser spot, spot, two-dimensional code; (4) with one or more camera equipment to step (3) after processing the scanned object of object shooting, acquire the vertices and edges of the scanned object data; (5) to step (4) images are calculated, the geometry of vertices, edges and surface geometry of the scanned object model; (6) according to the steps of (1) in the reference information, step (2) into the image acquired in the step (5) to get the model Generates the vertex color and texture information of the scanned object to produce the final model.

【技术实现步骤摘要】
一种高反光物体扫描方法及其系统
本专利技术属于三维扫描行业，尤其是涉及一种高反光物体扫描方法及其系统。
技术介绍
以前的图像测绘学，俗称照片建模，使用多张图片中的像素点匹配比对获得被扫描物体的几何顶点和RGB颜色信息，从而生成三维点云和三维模型。但该方案无法或较难扫描表面光滑、反光强烈的物体。这类物体被称为高光物体。高光物体在照片中的呈现通常有强烈的高光区和反射区影像，这些区域的像素点会对匹配比对结果产生干扰，从而无法正确求出三维顶点准确位置，或产生误差。传统方案会采取在高光物体表面喷涂哑光涂料来使高反光表面变成低反光的漫反射粗糙表面，这样抑制了照片中的高光区和反射区像素干扰，然后再进行像素的匹配比对，求出几何顶点相对准确的位置。但这种方案会使哑光涂料覆盖物体的原始表面，从而在计算RGB颜色信息及投射材质贴图时无法真实体现物体原本的色彩属性，仅能体现喷涂哑光涂料后的表面色彩。
技术实现思路
为了弥补上述高反光物体扫描过程中出现的诸多缺陷，本专利技术提出一种高反光物体扫描测绘方法及其系统。一种高反光物体扫描测绘方法，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高反光物体扫描测绘方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围或表面；(2)对被扫描物采用一个或多个摄像设备按照不同角度进行环物扫描拍摄，获取被扫描物的表面图像数据；(3)在被扫描物表面喷涂哑光涂层，或贴纸，或用光学系统投射光斑、杂点、二维码之一；(4)用一个或多个摄像设备对经过步骤(3)处理的被扫描物进行多角度环物拍摄，获取被扫描物的各个顶点、棱边数据；(5)对步骤(4)中获取的图像进行计算，得出被扫描物的几何顶点、几何边和几何表面的模型；(6)根据步骤(1)中获取的参照物信息，将步骤(2)中获取的图像代入到步骤(5)得到的模型中，生成被扫...

【技术特征摘要】
1.一种高反光物体扫描测绘方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围或表面；(2)对被扫描物采用一个或多个摄像设备按照不同角度进行环物扫描拍摄，获取被扫描物的表面图像数据；(3)在被扫描物表面喷涂哑光涂层，或贴纸，或用光学系统投射光斑、杂点、二维码之一；(4)用一个或多个摄像设备对经过步骤(3)处理的被扫描物进行多角度环物拍摄，获取被扫描物的各个顶点、棱边数据；(5)对步骤(4)中获取的图像进行计算，得出被扫描物的几何顶点、几何边和几何表面的模型；(6)根据步骤(1)中获取的参照物信息，将步骤(2)中获取的图像代入到步骤(5)得到的模型中，生成被扫描物的顶点色彩和贴图信息，生成最终模型。2.根据权利要求1所述的高反光物体扫描测绘方法，其特征在于，所述掺照物为标定纸或识别码贴纸或利用光学系统投射的光斑、杂点、二维码之一。3.根据权利要求2所述的高反光物体扫描测绘方法，其特征在于，所述哑光涂层材料为显影剂...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱培恒，
申请(专利权)人：朱培恒，
类型：发明
国别省市：上海,31