用于插针式元件的整片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了用于插针式元件的整片测试装置，包括机架、传动机构、升降机构、测试平台、材料放置板和主控单元，材料放置板放置在测试平台上，且材料放置板上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔，测试平台设置有多个与材料放置板上的插针孔一一对应的测试探针，升降机构与传动机构连接后通过机架安装在材料放置板的正上方，并在传动机构的推动下沿垂直于材料放置板的方向往返运动，机架的下端沿垂直于材料放置板的方向均匀地设置有多对测量传感器，传动机构、测试探针以及多对测量传感器均与主控单元连接。本测试装置一次性可以对整片的插针式元件进行测试，测试效率高，测试成本低，可广泛应用于电子元件的测试领域中。

Whole piece test device for pin type element

The utility model discloses a device for testing pin type component, which comprises a frame, a transmission mechanism, a lifting mechanism, test platform, material placing board and the main control unit, the material placing plate is placed in the test platform, and the material placing board is provided with inserting holes corresponding with a plurality of pin pin the pin element the test platform is provided with a plurality of pin holes and materials placed on the board corresponding to the test probe, the lifting mechanism is connected with the drive mechanism through the rack mounted just above the board is placed in the material, and push the driving mechanism along the direction perpendicular to the plate material is placed at the lower end of the reciprocating movement along the vertical frame the direction of plate material placed evenly arranged on the measurement sensor, transmission mechanism, and test probe on the measurement sensor are connected with the main control unit. The test device can test the whole piece of pin type components at one time, the testing efficiency is high, and the testing cost is low, and the utility model can be widely used in the testing field of electronic components.

【技术实现步骤摘要】
用于插针式元件的整片测试装置
本技术涉及电子器件测试领域，特别是一种涉及用于插针式元件的整片测试装置。
技术介绍
PCB：PrintedCircuitBoard，中文名称为印制电路板，又称印刷线路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体。插针式电子元件，包括例如各种插针式指示灯、数码管等，是PCB的重要组成部分，目前，这类元件在制作过程中，一般都是整片制作，在一片材料板上制作成多行多列排列的多个元件，再分割得到单个插针式电子元件。整片制作完成后，进行测试时，一般采用的是用测试探针或表笔逐个进行测试的方式，一次只能测试一个电子器件，测试效率低下，自动化程度低，最终导致电子器件的生产成本提高，难以满足测试需求。
技术实现思路
为了解决上述的技术问题，本技术的目的是提供用于插针式元件的整片测试装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：用于插针式元件的整片测试装置，用于对整片插针元件进行测试，所述整片插针元件包括多个插针引脚，包括机架、传动机构、升降机构、测试平台、材料放置板和主控单元，所述材料放置板放置在测试平台上，且材料放置板上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔，所述测试平台设置有多个与材料放置板上的插针孔一一对应的测试探针，所述升降机构与传动机构连接后通过机架安装在材料放置板的正上方，并在传动机构的推动下沿垂直于材料放置板的方向往返运动，所述机架的下端沿垂直于材料放置板的方向均匀地设置有多对测量传感器，所述传动机构、测试探针以及多对测量传感器均与主控单元连接。进一步，所述测量传感器采用红外传感器或超声传感器。进一步，所述传动机构采用气缸。进一步，所述升降机构包括推架和塑料推板，所述塑料推板安装在推架的前方，所述推架在传动机构的推动下带动塑料推板沿垂直于材料放置板的方向往返运动。进一步，所述塑料推板上设有压力感应模块，所述压力感应模块与主控单元连接。进一步，所述材料放置板上设有电动推料机构，所述电动推料机构与主控单元连接。进一步，所述材料放置板上设有多个均匀排列的开孔，所述电动推料机构采用与开孔数量一致的多个电动推杆，各所述电动推杆一一对应安装在材料放置板的一开孔内。进一步，所述机架上还设有机械手，所述机械手与主控单元连接。本技术的有益效果是：本技术的用于插针式元件的整片测试装置，用于对整片插针元件进行测试，整片插针元件包括多个插针引脚，包括机架、传动机构、升降机构、测试平台、材料放置板和主控单元，材料放置板放置在测试平台上，且材料放置板上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔，测试平台设置有多个与材料放置板上的插针孔一一对应的测试探针，升降机构与传动机构连接后通过机架安装在材料放置板的正上方，并在传动机构的推动下沿垂直于材料放置板的方向往返运动，传动机构和测试探针均与主控单元连接。本测试装置一次性可以对整片的插针式元件进行测试，测试效率高，测试成本低。附图说明下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明。图1是本技术的用于插针式元件的整片测试装置的机械结构示意图；图2是本技术的用于插针式元件的整片测试装置的电子框图。具体实施方式参照图1和图2，本技术提供了用于插针式元件的整片测试装置，用于对整片插针元件进行测试，所述整片插针元件包括多个插针引脚，包括机架1、传动机构2、升降机构、测试平台3、材料放置板4和主控单元，所述材料放置板4放置在测试平台3上，且材料放置板4上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔5，所述测试平台3设置有多个与材料放置板4上的插针孔5一一对应的测试探针，所述升降机构与传动机构2连接后通过机架1安装在材料放置板4的正上方，并在传动机构2的推动下沿垂直于材料放置板4的方向往返运动，所述机架1的下端沿垂直于材料放置板4的方向均匀地设置有多对测量传感器15，所述传动机构2、测试探针以及多对测量传感器15均与主控单元连接。进一步作为优选的实施方式，所述测量传感器15采用红外传感器或超声传感器。进一步作为优选的实施方式，所述传动机构2采用气缸。进一步作为优选的实施方式，所述升降机构包括推架6和塑料推板7，所述塑料推板7安装在推架6的前方，所述推架6在传动机构2的推动下带动塑料推板7沿垂直于材料放置板4的方向往返运动。进一步作为优选的实施方式，所述塑料推板7上设有压力感应模块，所述压力感应模块与主控单元连接。进一步作为优选的实施方式，所述材料放置板4上设有电动推料机构，所述电动推料机构与主控单元连接。进一步作为优选的实施方式，所述材料放置板4上设有多个均匀排列的开孔，所述电动推料机构采用与开孔数量一致的多个电动推杆，各所述电动推杆一一对应安装在材料放置板4的一开孔内。进一步作为优选的实施方式，所述机架1上还设有机械手，所述机械手与主控单元连接。以下结合详细实施例对本技术做进一步说明。实施例一参照图1和图2，本技术提供了用于插针式元件的整片测试装置，用于对整片插针元件进行测试，整片插针元件包括多个插针引脚，包括机架1、传动机构2、升降机构、测试平台3、材料放置板4和主控单元，材料放置板4放置在测试平台3上，且材料放置板4上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔5，测试平台3设置有多个与材料放置板4上的插针孔5一一对应的测试探针，升降机构与传动机构2连接后通过机架1安装在材料放置板4的正上方，并在传动机构2的推动下沿垂直于材料放置板4的方向往返运动，机架1的下端沿垂直于材料放置板4的方向均匀地设置有多对测量传感器15，传动机构2、测试探针以及多对测量传感器15均与主控单元连接。升降机构在传动机构2的推动下沿垂直于材料放置板4的方向往返运动时，推动整片插针元件的插针引脚插入材料放置板4的插针孔5后，与测试平台3内设置的测试探针接触，从而连通到测试探针的测试通路中进行测试。优选的，本实施例整片插针元件由多个七段数码管构成，测试探针组成与七段数码管对应的多个探针单元，每个探针单元包括八个测试探针，其中七个测试探针连接在一起后，与剩下的探针串联在测试通路中。当七段数码管为共阴极数码管时，则其八个引脚中，七个为阴极，剩余一个为阳极，七个阴极连接后与测试通路的负极连接，阳极与测试通路的正极连接，从而进行测试。本实施例中，在机架1的下端，沿竖直方向均匀设置多对测量传感器15，其发射端和接收端一一相对设置，图1由于视图关系只显示了测量传感器15的一端，其另一端相对设置。当升降机构未下降时，多对测量传感器15的接收端均可以接收到测量信号，当升降机构下降到一定程度时，逐渐遮挡住测量传感器15，被遮挡的测量传感器15的接收端无法接收到信号，因此，可以根据测量传感器15的信号来测量升降机构所下降到的高度，主控单元基于现有技术的数据处理水平，可以根据测量传感器15的信号确定升降机构所下降到的高度，对传动机构2进行自动控制，实现自动化测试。优选的，本实施例中，测量传感器15采用红外传感器或超声传感器，保证本测试装置的低成本。优选的，本实施例中，传动机构2采用气缸，升降机构包括推架6和塑料推板7，塑料推板7安装在推架6的前方，推架6在传动机构2的推动下带动塑料推板7沿垂直于材料放置板4的方向往返运动本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于插针式元件的整片测试装置，用于对整片插针元件进行测试，所述整片插针元件包括多个插针引脚，其特征在于，包括机架、传动机构、升降机构、测试平台、材料放置板和主控单元，所述材料放置板放置在测试平台上，且材料放置板上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔，所述测试平台设置有多个与材料放置板上的插针孔一一对应的测试探针，所述升降机构与传动机构连接后通过机架安装在材料放置板的正上方，并在传动机构的推动下沿垂直于材料放置板的方向往返运动，所述机架的下端沿垂直于材料放置板的方向均匀地设置有多对测量传感器，所述传动机构、测试探针以及多对测量传感器均与主控单元连接。

【技术特征摘要】
1.用于插针式元件的整片测试装置，用于对整片插针元件进行测试，所述整片插针元件包括多个插针引脚，其特征在于，包括机架、传动机构、升降机构、测试平台、材料放置板和主控单元，所述材料放置板放置在测试平台上，且材料放置板上设有与整片插针元件的多个插针引脚一一对应的插针孔，所述测试平台设置有多个与材料放置板上的插针孔一一对应的测试探针，所述升降机构与传动机构连接后通过机架安装在材料放置板的正上方，并在传动机构的推动下沿垂直于材料放置板的方向往返运动，所述机架的下端沿垂直于材料放置板的方向均匀地设置有多对测量传感器，所述传动机构、测试探针以及多对测量传感器均与主控单元连接。2.根据权利要求1所述的用于插针式元件的整片测试装置，其特征在于，所述测量传感器采用红外传感器或超声传感器。3.根据权利要求1所述的用于插针式元件的整片测试装置，其特征在于，所述传动机构采用气缸。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：王颜伟，
申请(专利权)人：广州市先力光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44