以太网端口的S11参数测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
以太网端口的S11参数测试方法、装置、设备及存储介质
本专利技术属于计算机
，尤其涉及一种以太网端口的S11参数测试方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
目前，以太网端口是大多数通信设备的通信端口，以太网端口的S11参数测试是具有以太网端口的通信设备测试项之一。根据以太网协议IEEE802.3的规定，以太网端口的S11参数需在85欧姆、100欧姆以及115欧姆三种条件下满足特定限值要求。然而，现有射频线缆、巴伦转换电路、以太网线以及网络分析仪的输出阻抗都是单端50欧姆或差分100欧姆，难以实现85欧姆和115欧姆条件下以太网端口S11的参数测试。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种以太网端口的S11参数测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决由于现有技术无法提供一种有效的以太网端口S11参数测试方法，导致以太网的S11参数测试过程复杂的问题。一方面，本专利技术提供了一种以太网端口的S11参数测试方法，所述方法包括下述步骤：接收用户输入的被测以太网端口的S11参数测试请求，所述S11参数测试请求中包括被测输入阻抗，所述被测输入阻抗为85或115欧姆；根据...
【技术保护点】
一种以太网端口的S11参数测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：接收用户输入的被测以太网端口的S11参数测试请求，所述S11参数测试请求中包括被测输入阻抗，所述被测输入阻抗为85或115欧姆；根据所述S11参数测试请求，测试输入阻抗为预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据，所述预设输入阻抗为50或100欧姆；根据所述测试得到的S11参数数据，通过第一预设公式计算所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部；根据所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部，通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据；输出所述被测以太网端口为所述...
【技术特征摘要】
1.一种以太网端口的S11参数测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：接收用户输入的被测以太网端口的S11参数测试请求，所述S11参数测试请求中包括被测输入阻抗，所述被测输入阻抗为85或115欧姆；根据所述S11参数测试请求，测试输入阻抗为预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据，所述预设输入阻抗为50或100欧姆；根据所述测试得到的S11参数数据，通过第一预设公式计算所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部；根据所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部，通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据；输出所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测试输入阻抗为预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据的步骤，包括：启动连接好的网络分析仪，通过所述网络分析仪测试输入阻抗为所述预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述测试得到的S11参数数据，通过第一预设公式计算所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部的步骤，包括：根据所述S11参数数据中的S11数值和S11参数数据中的角度值，通过公式计算所述特性阻抗实部，通过公式计算所述特性阻抗虚部，其中，所述Z0表示所述预设输入阻抗，R表示所述被测以太网端口在所述预设输入阻抗时的反射系数实部，X表示所述被测以太网端口在所述预设输入阻抗时的反射系数虚部，R、X通过所述S11参数数据中的S11数值和S11参数数据中的角度值计算得到。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部，通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据的步骤，包括：通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据，其中，所述Z′0表示所述被测输入阻抗，R1表示所述特性阻抗实部，X1表示所述特性阻抗虚部。5.一种以太网端口的S11参数测试装置，其特征在于，所述装置包括：请求接收单元，用于接收用户输入的被测以太网端口...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄小清，
申请(专利权)人：深圳市共进电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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