用于光纤氢损测试处理系统的设备技术方案

本发明专利技术提供了一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，包括：氢损试验桶装有压力传感器和温度传感器；水循环加热系统包括水罐、循环泵、加热器和换热水管；气液控制系统，包括氢氮混合气体阀、氮气阀、流量计和放气阀；氢氮混合气体阀、氮气阀和放气阀连接氢损试验桶；控制单元，电性连接氢氮混合气体阀、氮气阀、放气阀、压力传感器、温度传感器和加热器；控制单元用于接受压力传感器、温度传感器反馈的信息，控制氢氮混合气体阀、氮气阀、放气阀和加热器的开启或关闭。本发明专利技术采用控制单元、氢损试验桶和气液控制系统等装置组合，实现了自动控制氢损测试压力和温度，提高了数据的准确性及稳定性，减少了重复测试的概率，节约了人力、物力及时间。

【技术实现步骤摘要】
用于光纤氢损测试处理系统的设备
本专利技术涉及一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，属于光纤检测设备领域。
技术介绍
光纤氢损是由于氢气的原因在光纤中引起附加损耗的一种现象。是氢气扩散进入光纤玻璃中和玻璃中的缺陷发生反应，在1240nm、1383nm、1530nm波长上造成光纤衰减增加的过程。氢损试验是对常态氢损过程的一种加速模拟过程，是为了验证氘处理过程是否有效降低或消除光纤内缺陷，检测1240nm、1383nm波长在氢损过程中的衰减程度。试验评判：波长附加衰减1240nm≥0.03dB/km,1383nm≤0.01dB/km，试验后1383nm波长衰减小于试验前1310nm波长衰减。在光纤生产过程中，光纤预制棒经过拉丝、筛选、检测、氘处理、性能试验(含氢损试验)、入库。通过高温拉丝得到光纤存在着缺陷，这些缺陷的存在会导致光纤在氢损后附加损耗明显增加，使得氢损后在1383±3nm的衰减系数大于了1310nm规定的衰减系数，不符合低水峰光纤的标准。含有缺陷的光纤通过氘处理的方法可以防止因氢损而导致1383±3nm的衰减系数增大。氘处理是否有效，无法直接通过检测衰减系数来判断，只能通过“本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，其特征在于，包括：氢损试验桶，安装有压力传感器和温度传感器；水循环加热系统，包括水罐、循环泵、加热器和换热水管，所述加热器安装在水罐上，用于给水罐内水加热；所述水罐连通换热水管，所述循环泵安装在换热水管上，用于驱动水流在水罐及换热水管内循环流动；所述换热水管至少局部深入氢损试验桶内；气液控制系统，包括氢氮混合气体阀、氮气阀、流量计和放气阀；所述氢氮混合气体阀、氮气阀和放气阀连接氢损试验桶；所述流量计位于氢氮混合气体阀后端的管路上，所述氢氮混合气体阀用于控制氢气或氢气混合气输入到氢损试验桶中；所述氮气阀用于将控制氮气输入到氢损试验桶中；所述流量计用于控制通入氢...

【技术特征摘要】
1.一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，其特征在于，包括：氢损试验桶，安装有压力传感器和温度传感器；水循环加热系统，包括水罐、循环泵、加热器和换热水管，所述加热器安装在水罐上，用于给水罐内水加热；所述水罐连通换热水管，所述循环泵安装在换热水管上，用于驱动水流在水罐及换热水管内循环流动；所述换热水管至少局部深入氢损试验桶内；气液控制系统，包括氢氮混合气体阀、氮气阀、流量计和放气阀；所述氢氮混合气体阀、氮气阀和放气阀连接氢损试验桶；所述流量计位于氢氮混合气体阀后端的管路上，所述氢氮混合气体阀用于控制氢气或氢气混合气输入到氢损试验桶中；所述氮气阀用于将控制氮气输入到氢损试验桶中；所述流量计用于控制通入氢损试验桶的氢氮混合气体的流量；控制单元，电性连接氢氮混合气体阀、氮气阀、放气阀、压力传感器、流量计、温度传感器和加热器；所述控制单元用于接受压力传感器、温度传感器反馈的信息，并控制氢氮混合气体阀、氮气阀、放气阀和加热器的开启或关闭，以及控制通入氢损试验桶的氢氮混合气体的流量。2.如权利要求1所述的用于光纤氢损测...

【专利技术属性】
技术研发人员：王城锋，吴巧宾，陆健红，张根良，吕国荣，
申请(专利权)人：杭州富通通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33