二次元及翘曲度检测一体化系统技术方案

本发明专利技术属于光学检测领域，尤其涉及一种二次元及翘曲度检测一体化系统，包括检测工作台，所述检测工作台上设有由透明材质制成的检测区，所述检测区供承载待检样品，所述检测区上方设有第一光源，所述检测区下方设有第二光源，所述第二光源与所述检测区之间设有分束镜，所述第一光源发射出的光经所述检测区透射后入射到所述分束镜，所述第二光源发出的光经所述分束镜透射后入射到所述检测区上的待检样品，所述分束镜一侧的光路方向上设有成像元件，所述成像元件连接摄像元件，本发明专利技术一体化系统可以同时进行二次元检测和翘曲度检测，省时省力，检测效率高，且不需要配置多个成像元件和多个摄像元件，结构简单，成本低廉，具有广阔的市场前景。

Two dimensional and warpage detection integrated system

The invention belongs to the field of optical detection, in particular to a two dimensional and platness integrated detection system, including the detection stage, the detection of the working table is provided with a detection zone is made of transparent material, the detection area for loading sample, the first light source is arranged above the detection zone below the detection zone a second light beam splitter is arranged between the light source and the second test area, the first light source emits light by transmitting the detection area after the incident to the beam splitter, a light source of the second through the beam splitter transmission incident to the detection area the sample to be detected, the optical path of the beam splitter is arranged on one side of the imaging element, the imaging element is connected with the imaging device, the integrated system can be done at the same time the two dimension detection and warpage testing, saving time The utility model has the advantages of high detection efficiency, no need to configure a plurality of imaging elements and a plurality of imaging elements, and has the advantages of simple structure, low cost and wide market prospect.

【技术实现步骤摘要】
二次元及翘曲度检测一体化系统
本专利技术属于光学检测领域，尤其涉及一种二次元及翘曲度检测一体化系统。
技术介绍
产品或模具的二次元信息主要是指产品或模具的长、宽等基本尺寸以及其包含的孔或凹槽等其他几何尺寸，二次元信息测量是光学检测领域重要组成部分。随着现代科技的迅猛发展，尤其是电子产品的日新月异，触控屏保护玻璃作为电子产品面板的重要组成部分，受到越来越多的重视。对于触控屏保护玻璃，为达到电子产品面板的最优性能，触控屏保护玻璃的长、宽、孔等尺寸要受到严格限定。另外，在触控屏保护玻璃的制作工艺中，需要在玻璃上表面放置金属固定支撑物以保证玻璃的平行度，但由于玻璃材料与金属固定支撑物的材料属性不同，二者的膨胀系数差异很大，导致制作处理完之后玻璃本身的平整度难以保证一致，影响了触控屏保护玻璃的使用性能。因此，二次元信息检测以及翘曲度检测成为触控屏保护玻璃品质检测工作的重要环节。在这种市场背景下，如何快速且精确的测量出触控屏保护玻璃二次元和翘曲度信息，成为触控屏保护玻璃生产商和应用商关心的焦点问题。现有市场上已经出现几种二次元检测机构及翘曲度检测机构，如中国技术专利ZL201620149542.X公开了一种快速二次元光学测量装置，利用该测量装置虽然能够快速且精确的测量出待检样品的二次元信息，但是该测量装置采用十个取像元件，结构比较复杂，使用时难以保证十个取像元件接收的位置信息等条件完全一致，影响了测量精度，不利于安装使用和后期维护，同时十个取像元件无疑在一定程度上增加了制造成本。中国技术专利ZL201320844880.1公开了一种触摸屏保护玻璃翘曲度快速测量装置，该测量装置利用五个激光三角测距仪分别测量待检样品四个角及中心点距离三角测距仪的距离，虽然能够快速地检测出触控屏保护玻璃的翘曲程度，但是需要同时配备五个激光三角测距仪，制造成本较高。更重要的是，现有技术方案均需要分别对二次元信息和翘曲度进行检测，两道检测工序需要分别进行，一道工序检测完成之后才能进行下一道工序的检测，两套检测设备需占据大面积测量空间，对检测场地有较高要求，同时两套检测设备，增加了钢化玻璃检测成本，检测时至少需要配备两个检测人员，浪费大量人力，而且这种检测方式需要对待检样品至少放置两次，增加了对待检样品造成损坏的风险，且来回移动待检样品，造成测量效率非常低。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决上述现有技术的不足，提供一种省时省力，检测效率高，制造成本低，检测精度高且易于使用和后期维护的二次元及翘曲度检测一体化系统。本专利技术解决上述现有技术的不足所采用的技术方案是：一种二次元及翘曲度检测一体化系统，其特征在于，包括检测工作台，所述检测工作台上设有由透明材质制成的检测区，所述检测区供承载待检样品，所述检测区上方设有第一光源，所述检测区下方设有第二光源，所述第二光源与所述检测区之间设有分束镜，所述第一光源发射出的光经所述检测区透射后入射到所述分束镜，所述第二光源发出的光经所述分束镜透射后入射到所述检测区上的待检样品，所述分束镜一侧的光路方向上设有成像元件，所述成像元件连接摄像元件，所述摄像元件对所述成像元件获得的图像进行采集，所述摄像元件连接数据处理元件，所述数据处理元件对所述摄像元件采集的图像进行计算处理。本专利技术所述的第一光源为LED面光源。第一光源通过设计为LED面光源，可以使第一光源发射出的光更均匀，而且检测时不会受限于待检样品的尺寸大小，使本专利技术可以适应于不同尺寸大小的待检样品，适用范围广。本专利技术所述的检测工作台上设有密封罩，所述检测区与所述第一光源位于所述密封罩内。本专利技术密封罩的设置可以使检测过程在密封环境中完成，避免了杂散光的影响，提高了检测精度，同时又避免了外界灰尘对第一光源造成不良影响。本专利技术所述的密封罩包括设置在所述检测工作台上的外罩框架，所述第一光源设置在所述外罩框架上，所述外罩框架上侧活动设有上盖，所述外罩框架前侧活动设有前挡板，所述前挡板能够沿着所述外罩框架前侧上下移动。本专利技术在外罩框架上侧活动设置上盖，可以通过开启上盖方便的对第一光源进行更换、维护，放置待检样品时，也只需要将前挡板沿着外罩框架前侧向上移动，即可将待检样品方便的放置在检测区，结构简单，操作简便。本专利技术所述的外罩框架左右两侧上方均设有光源固定座，所述第一光源固定在所述光源固定座上，所述光源固定座上设有光源调节机构。光源调节机构的设置可以让操作者根据检测具体情况对第一光源进行调节，提高了本专利技术的易操作性和检测精度。本专利技术所述的检测区上侧设有样品支撑座，待检样品放置在所述样品支撑座上，所述样品支撑座外周边尺寸小于待检样品外周边尺寸，且所述样品支撑座由柔性材料制成。本专利技术通过在检测区上侧设置放置待检样品的样品支撑座，方便对待检样品进行取放，且样品支撑座由柔性材料制成，不会对待检样品造成划损。本专利技术所述的分束镜为5:5分光镜，使第一光源经分束镜反射的光与第二光源经分束镜投射的光比较均衡，检测精度高。本专利技术所述的第二光源为显示屏，所述显示屏上显示结构特征图样，所述结构特征图样是正弦周期条纹、圆斑、棋盘格或高斯点阵的其中一种。本专利技术所述的成像元件为远心镜头，检测精度高。本专利技术所述的摄像元件为CCD相机，检测精度高。本专利技术的有益效果是，由于本专利技术二次元及翘曲度检测一体化系统包括检测工作台，所述检测工作台上设有由透明材质制成的检测区，所述检测区供承载待检样品，所述检测区上方设有第一光源，所述检测区下方设有第二光源，所述第二光源与所述检测区之间设有分束镜，所述第一光源发射出的光经所述检测区透射后入射到所述分束镜，所述第二光源发出的光经所述分束镜透射后入射到所述检测区上的待检样品，所述分束镜一侧的光路方向上设有成像元件，所述成像元件连接摄像元件，所述摄像元件对所述成像元件获得的图像进行采集，所述摄像元件连接数据处理元件，所述数据处理元件对所述摄像元件采集的图像进行计算处理，因而利用本专利技术一体化系统可以同时对待检样品进行二次元检测和翘曲度检测，仅需要一道检测工序，省时省力，检测效率高，且不需要配置多个成像元件和多个摄像元件，结构简单，成本低廉。第一光源为LED面光源，可以使第一光源发射出的光照更均匀，检测精度高，而且检测时不会受限于待检样品的尺寸大小，使本专利技术可以适应于不同尺寸大小的待检样品，适用范围广。检测区与第一光源置于检测工作台上的密封罩内，可以使检测过程在密封环境中完成，不但避免了杂散光的影响，提高了检测精度，同时又避免了外界灰尘对第一光源造成不良影响。密封罩包括设置在所述检测工作台上的外罩框架，所述第一光源设置在所述外罩框架上，所述外罩框架上侧活动设有上盖，所述外罩框架前侧活动设有前挡板，所述前挡板能够沿着所述外罩框架前侧上下移动。本专利技术在外罩框架上侧活动设置上盖，可以通过开启上盖方便的对第一光源进行更换、维护，放置待检样品时，也只需要将前挡板沿着外罩框架前侧向上移动，即可将待检样品方便的放置在检测区，结构简单，操作简便。附图说明图1为本专利技术一体化系统整体外观示意图，也是一种使用状态示意图。图2为本专利技术一体化系统内部结构示意图。具体实施方式以下描述用于揭露本专利技术以使本领域技术人员能够实现本专利技术。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种二次元及翘曲度检测一体化系统，其特征在于，包括检测工作台，所述检测工作台上设有由透明材质制成的检测区，所述检测区供承载待检样品，所述检测区上方设有第一光源，所述检测区下方设有第二光源，所述第二光源与所述检测区之间设有分束镜，所述第一光源发射出的光经所述检测区透射后入射到所述分束镜，所述第二光源发出的光经所述分束镜透射后入射到所述检测区上的待检样品，所述分束镜一侧的光路方向上设有成像元件，所述成像元件连接摄像元件，所述摄像元件对所述成像元件获得的图像进行采集，所述摄像元件连接数据处理元件，所述数据处理元件对所述摄像元件采集的图像进行计算处理。

【技术特征摘要】
1.一种二次元及翘曲度检测一体化系统，其特征在于，包括检测工作台，所述检测工作台上设有由透明材质制成的检测区，所述检测区供承载待检样品，所述检测区上方设有第一光源，所述检测区下方设有第二光源，所述第二光源与所述检测区之间设有分束镜，所述第一光源发射出的光经所述检测区透射后入射到所述分束镜，所述第二光源发出的光经所述分束镜透射后入射到所述检测区上的待检样品，所述分束镜一侧的光路方向上设有成像元件，所述成像元件连接摄像元件，所述摄像元件对所述成像元件获得的图像进行采集，所述摄像元件连接数据处理元件，所述数据处理元件对所述摄像元件采集的图像进行计算处理。2.根据权利要求1所述的二次元及翘曲度检测一体化系统，其特征在于，所述第一光源为LED面光源。3.根据权利要求1或2所述的二次元及翘曲度检测一体化系统，其特征在于，所述检测工作台上设有密封罩，所述检测区与所述第一光源位于所述密封罩内。4.根据权利要求3所述的二次元及翘曲度检测一体化系统，其特征在于，所述密封罩包括设置在所述检测工作台上的外罩框架，所述第一光源设置在所述外罩框架上，所述外罩框架上侧活动设...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘柱，孙阔原，黄海瑞，李国志，闫飞，汪旭东，
申请(专利权)人：苏州精创光学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32