一种检测用紫外分光光度计制造技术

本实用新型专利技术涉及检测仪器技术领域，具体涉及一种检测用紫外分光光度计，包括样品放置座和比色皿，样品放置座开设有多个用于放置比色皿的样品放置槽，比色皿的底部放置于样品放置槽内，还包括设置于样品放置槽与比色皿之间的定位机构，比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10‑50μm的聚四氟乙烯层。本实用新型专利技术的紫外分光光度计通过设置定位机构，可使比色皿的位置处在光的焦点处，保证吸光度值相同，减少检测结果误差，从而使分析判断准确，为实验分析提供参考价值。本实用新型专利技术的紫外分光光度计通过在比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10‑50μm的聚四氟乙烯层，其生物相容性好，容易清洗，污染小，减少检测结果误差，从而使分析判断准确。

【技术实现步骤摘要】
一种检测用紫外分光光度计
本技术涉及检测仪器
，具体涉及一种检测用紫外分光光度计。
技术介绍
紫外可见分光光度计是利用物质的分子或离子对某一波长范围的光吸收的作用，对物质进行定性分析、定量分析及结构分析的一起。分光光度计包括样品池和光源室，样品池内设有多个样品槽，样品槽是用来放置比色皿。比色皿（又称吸收池或样品池）是光度室的关键部件，在分析测试时，一般是同时利用两个分别盛有参比溶液和被测样品溶液的比色皿，对他们进行分别测试（单光束或准光束仪器如此，双光束仪器同时测试），比较测试的吸光度（或透射比，一般都是比较吸光度）。理论上讲，只要比色皿的宽度是一定的，只要放入光路中，吸光度值应该是相同的，但由于光的焦点是在一个固定位置，移动后使比色皿的位置没有处在光的焦点将，故吸光度却存在差异。因此比色皿处于同一固定位置，对减少检测结果误差是很重要的。而现有的紫外可见分光光度计的样品槽设计的尺寸明显大于比色皿，导致放置后容易前后左右移位，使吸收光值不准确，由于紫外可见分光光度计是一种非常精密的仪器，任何一点小小的误差，都会是分析结果出现天壤之别，造成判断失误。且现有的比色皿不容易清洗，容易造成每次测试的分析结果的误差加大。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的缺点和不足，本技术的目的在于提供一种检测用紫外分光光度计。本技术的目的通过下述技术方案实现：一种检测用紫外分光光度计，包括样品放置座和比色皿，样品放置座开设有多个用于放置比色皿的样品放置槽，比色皿的底部放置于样品放置槽内，还包括设置于样品放置槽与比色皿之间的定位机构，比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10-50μm的聚四氟乙烯层。进一步的，所述定位机构包括固定于所述比色皿底部的定位块和开设于所述样品放置槽底部的与定位块相配合的定位槽。进一步的，所述定位机构包括固定于所述样品放置槽底部的定位块和开设于所述比色皿底部的与定位块相配合的定位槽。进一步的，所述定位块、定位槽均呈圆形、长方形、“十”字形、“T”字形、“L”字形、“工”字形。进一步的，所述定位块的底部固定有粘结层，定位块通过粘结层与所述定位槽的底部粘接。进一步的，所述定位块的底部固定有吸附层，定位块通过吸附层与所述定位槽的底部吸附连接。进一步的，所述定位块、定位槽的横截面均呈阶梯型。进一步的，所述定位槽的横截面呈“凹”字形，所述定位块的横截面呈“凸”字形。本技术的有益效果在于：本技术的紫外分光光度计通过设置定位机构，可使比色皿的位置处在光的焦点处，保证吸光度值相同，减少检测结果误差，从而使分析判断准确，为实验分析提供参考价值。本技术的紫外分光光度计通过在比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10-50μm的聚四氟乙烯层，其生物相容性好，容易清洗，污染小，减少检测结果误差，从而使分析判断准确。附图说明图1是本技术所述样品放置座的立体结构示意图。图2是本技术所述比色皿的立体结构示意图。附图标记为：1—样品放置座、11—样品放置槽、12—定位槽、2—比色皿、21—定位块。具体实施方式为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例及附图1-2对本技术作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本技术的限定。见图1-2，一种检测用紫外分光光度计，包括样品放置座1和比色皿2，样品放置座1开设有多个用于放置比色皿2的样品放置槽11，比色皿2的底部放置于样品放置槽11内，还包括设置于样品放置槽11与比色皿2之间的定位机构，比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10-50μm的聚四氟乙烯层。所述紫外分光光度计还包括外壳、设置于外壳侧壁的拉柄和设置于外壳内的内腔，样品放置座1位于内腔内，拉柄固定于样品放置座1的前端并伸出于外壳侧壁，样品放置座1的上方罩设有样品池盖，外壳上设有控制面板和按钮。本技术的紫外分光光度计通过设置定位机构，可使比色皿2的位置处在光的焦点处，保证吸光度值相同，减少检测结果误差，从而使分析判断准确，为实验分析提供参考价值。本实施例中，所述定位机构包括固定于所述比色皿2底部的定位块21和开设于所述样品放置槽11底部的与定位块21相配合的定位槽12。定位块21和定位槽12的设置可对放置的比色皿2进行良好的定位，使比色皿2的位置处在光的焦点处，保证吸光度值相同，从而减少实际误差。本技术的另一种较佳的实施方式为：所述定位机构包括固定于所述样品放置槽11底部的定位块21和开设于所述比色皿2底部的与定位块21相配合的定位槽12。定位块21和定位槽12的设置可对放置的比色皿2进行良好的定位，使比色皿2的位置处在光的焦点处，保证吸光度值相同，从而减少实际误差。本实施例中，所述定位块21、定位槽12均呈圆形、长方形、“十”字形、“T”字形、“L”字形、“工”字形。所述定位块21、定位槽12还可以为其他形状，以方便加工制造为主。本实施例中，所述定位块21的底部固定有粘结层，定位块21通过粘结层与所述定位槽12的底部粘接。粘结层的设置使得定位块21与定位槽12的定位更加牢固。具体点，粘结层可以为双面胶层或其他胶水层。本技术的另一种较佳的实施方式为：所述定位块21的底部固定有吸附层，定位块21通过吸附层与所述定位槽12的底部吸附连接。吸附层的设置定位块21与定位槽12的定位更加牢固。具体的，吸附层可以为磁片等。本实施例中，所述定位块21、定位槽12的横截面均呈阶梯型。阶梯型定位块21、定位槽12的设置使得定位块21与定位槽12的定位更加稳定。本实施例中，所述定位槽12的横截面呈“凹”字形，所述定位块21的横截面呈“凸”字形。上述结构的设置使得定位块21与定位槽12的定位更加稳定。上述实施例为本技术较佳的实现方案，除此之外，本技术还可以其它方式实现，在不脱离本技术构思的前提下任何显而易见的替换均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测用紫外分光光度计，包括样品放置座和比色皿，样品放置座开设有多个用于放置比色皿的样品放置槽，比色皿的底部放置于样品放置槽内，其特征在于：还包括设置于样品放置槽与比色皿之间的定位机构，比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10‑50μm的聚四氟乙烯层。

【技术特征摘要】
1.一种检测用紫外分光光度计，包括样品放置座和比色皿，样品放置座开设有多个用于放置比色皿的样品放置槽，比色皿的底部放置于样品放置槽内，其特征在于：还包括设置于样品放置槽与比色皿之间的定位机构，比色皿的内侧壁喷涂有一层厚度为10-50μm的聚四氟乙烯层。2.根据权利要求1所述的一种检测用紫外分光光度计，其特征在于：所述定位机构包括固定于所述比色皿底部的定位块和开设于所述样品放置槽底部的与定位块相配合的定位槽。3.根据权利要求1所述的一种检测用紫外分光光度计，其特征在于：所述定位机构包括固定于所述样品放置槽底部的定位块和开设于所述比色皿底部的与定位块相配合的定位槽。4.根据权利要求2或3所述的一种检测用紫外分光光度计，其特征在于：所述定位块、定位槽均呈圆形、长方形、“十”字形、“T”字形、“L”字形、“工”字形...

【专利技术属性】
技术研发人员：何振忠，梁慧君，唐桂红，苏少英，黄康利，曾婵，袁齐，廖靓，谭期，林滨钰，邱伟明，宋燕青，
申请(专利权)人：广东省韶关市质量计量监督检测所，
类型：新型
国别省市：广东,44