一种多参数分析比色测量装置制造方法及图纸

一种多参数分析比色测量装置，包括比色池和光源，比色池为实心正方体，比色池的中间留有放置比色皿的凹槽，比色池四周外壁上相邻两侧面设有插槽，插槽上并排嵌入四个不同波段的光源，另外两个相邻的侧面上中心位置各安装有一个光电检测器，比色池内部对应每个光源开有光通道，光通道在凹槽处汇聚并延伸至对面的光电检测器处。本发明专利技术装置提供16组波长，通过启动不同侧面上的光源和光电检测器可以实现比色法检测、荧光法检测和散射法检测等，可以满足100余种检测项目的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种多参数分析比色测量装置
本专利技术涉及一种比色测量装置，尤其涉及一种可以测定多参数的比色测量装置。
技术介绍
目前，水质、环境或食品相关现场分析仪，多采用一种检测模式分析一种或多种参数，其使用效率低，成本大，而且光路检测模式比较单一，不能实现比色、荧光和散射模式的同时检测，传统的比色测量装置的光源设计一般为单侧光源设置，因检测模式单一，即使单侧光源多组设置所能完成的检测项目也非常有限，严重影响比色测量装置的应用范围，而且在测量过程中也无法消除溶液本身的浊度和色度对样品测定的干扰，产生较大测量误差。
技术实现思路
本专利技术为解决上述问题提供了一种可同时实现比色、荧光和散射三种模式检测，可检测多种项目并消除溶液浊度和色度等干扰的多参数分析比色测量装置。本专利技术所采取的技术方案：一种多参数分析比色测量装置，包括比色池和光源，比色池为实心正方体，比色池的中间留有放置比色皿的凹槽，比色池四周外壁上相邻两侧面设有插槽，插槽上并排嵌入四个不同波段的光源，另外两个相邻的侧面上中心位置各安装有一个光电检测器，比色池内部对应每个光源开有光通道，光通道在凹槽处汇聚并延伸至对面的光电检测器处。进一步，光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多参数分析比色测量装置，其特征在于，包括比色池（1）和光源（5），比色池（1）为实心正方体，比色池（1）的中间留有放置比色皿（2）的凹槽，比色池（1）四周外壁上相邻两侧面设有插槽（4），插槽（4）上并排嵌入四个不同波段的光源（5），另外两个相邻的侧面上中心位置各安装有一个光电检测器（3），比色池（1）内部对应每个光源（5）开有光通道（6），光通道（6）在凹槽处汇聚并延伸至对面的光电检测器（3）处。

【技术特征摘要】
1.一种多参数分析比色测量装置，其特征在于，包括比色池（1）和光源（5），比色池（1）为实心正方体，比色池（1）的中间留有放置比色皿（2）的凹槽，比色池（1）四周外壁上相邻两侧面设有插槽（4），插槽（4）上并排嵌入四个不同波段的光源（5），另外两个相邻的侧面上中心位置各安装有一个光电检测器（3），比色池（1）内部对应每个光源（5）开有光通道（6），光通道（6...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱连杰，白兆民，翟玮娴，梁荣贺，高付博，
申请(专利权)人：天津众科创谱科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12