平面半导体传感器电流检测电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种平面半导体传感器电流检测电路，MCU控制器连接电源，平面半导体传感器的一端连接电源，平面半导体传感器的另一端依次串接MOS管和电阻R6后接地，电阻R3的一端连接在MOS管与电阻R6之间，电阻R3的另一端连接差分比较器的同相输入端，电阻R7的一端接地，电阻R7的另一端连接差分比较器的反相输入端，差分比较器的输出端通过所属电阻R4连接MCU控制器，其中差分比较器的输出端还通过电阻R8连接差分比较器的反相输入端，MOS管的栅极G通过电阻R2连接MCU控制器。该平面半导体传感器电流检测电路具有设计科学、实用性强、结构简单、使用方便的优点。

【技术实现步骤摘要】
平面半导体传感器电流检测电路
本技术涉及一种电流检测电路，具体的说，涉及了一种平面半导体传感器电流检测电路。
技术介绍
平面半导体传感器是一种气体传感器，由于其体积小、灵敏度高、驱动电路简单以及稳定性高和使用寿命长等特点，广泛应用于家庭、工厂、商业用所的可燃气体泄漏监测装置，及安全探测系统。当前传感器的控制电路在传感器出现加热丝短路、断路的情况，不能够及时、可靠的检测传感器的故障，尤其是加热丝出现短路故障后，会拉低整个平面半导体传感器电路的电平，对整个平面半导体传感器电路造成影响。为了解决以上存在的问题，人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足，从而提供一种设计科学、实用性强、结构简单、使用方便的平面半导体传感器电流检测电路。为了实现上述目的，本技术所采用的技术方案是：一种平面半导体传感器电流检测电路，包括电源、MCU控制器、平面半导体传感器、MOS管、电阻R3、电阻R4、电阻R6、电阻R7、电阻R8和差分比较器；所述平面半导体传感器的电热丝的一端连接电源，所述平面半导体传感器的电热丝的另一端依次串接所述MOS管和所述电阻R6后接地，所述电阻R3的一端连接在所述MOS管与所述电阻R6之间，所述电阻R3的另一端连接所述差分比较器的同相输入端，所述电阻R7的一端接地，所述电阻R7的另一端连接所述差分比较器的反相输入端，所述差分比较器的输出端通过所属电阻R4连接所述MCU控制器，其中所述差分比较器的输出端还通过所述电阻R8连接所述差分比较器的反相输入端；所述MCU控制器连接电源，所述MCU控制器还通过所述电阻R2连接所述MOS管的栅极G，根据检测结果控制所述MOS管的通断。基于上述，还包括显示屏，所述MCU控制器连接所述显示屏，输出显示电流检测结果。本技术相对现有技术具有实质性特点和进步，具体的说，本技术通过差分比较器检测平面半导体传感器的加热丝电流，并将检测输出的电平传输给MCU控制器，MCU控制器根据差分比较器输出的电平控制MOS管的通断，对电路进行保护，其具有设计科学、实用性强、结构简单、使用方便的优点。附图说明图1是本技术的结构示意图。具体实施方式下面通过具体实施方式，对本技术的技术方案做进一步的详细描述。如图1所示，一种平面半导体传感器电流检测电路，包括电源、MCU控制器、平面半导体传感器、MOS管、电阻R3、电阻R4、电阻R6、电阻R7、电阻R8和差分比较器；所述平面半导体传感器的电热丝的一端连接电源，所述平面半导体传感器的电热丝的另一端依次串接所述MOS管和所述电阻R6后接地，所述电阻R3的一端连接在所述MOS管与所述电阻R6之间，所述电阻R3的另一端连接所述差分比较器的同相输入端，所述电阻R7的一端接地，所述电阻R7的另一端连接所述差分比较器的反相输入端，所述差分比较器的输出端通过所属电阻R4连接所述MCU控制器，其中所述差分比较器的输出端还通过所述电阻R8连接所述差分比较器的反相输入端；所述MCU控制器连接电源，所述MCU控制器还通过所述电阻R2连接所述MOS管的栅极G，根据检测结果控制所述MOS管的通断。具体地，电源为所述平面半导体传感器的加热丝供电，所述MCU控制器向所述MOS管输入高电平，所述MOS管导通，采样电流通过所述电阻R3输入所述差分比较器的同相输入端，经所述差分比较器比较放大后，将输出的电平输入给所述MCU控制器。当所述平面半导体传感器的加热丝发生断路故障时，所述差分比较器的同相输入端无电流输入，所述差分比较器输出为0V，所述MCU控制器不对所述MOS管进行控制。当所述平面半导体传感器的加热丝发生短路故障时，所述差分比较器的同相输入端的输入电流变大，所述差分比较器输出高电平，该高电平大于所述平面半导体传感器的加热丝正常工作情况下所述差分比较器输出的电平，所述MCU控制器接收到该高电平后，向所述MOS管输入低电平，所述MOS管截止，避免所述电热丝短路后拉低整个平面半导体传感器电路的工作电压，同时保护所述差分比较器避免损坏。优选地，还包括显示屏，所述MCU控制器连接所述显示屏，输出显示电流检测结果。当所述平面半导体传感器的加热丝发生断路故障时，所述差分比较器的同相输入端无电流输入，所述差分比较器输出为0V，所述MCU控制器将检测结果发送到所述显示屏，显示所述平面半导体传感器的加热丝出现断路故障。当所述平面半导体传感器的加热丝发生短路故障时，所述差分比较器的同相输入端的输入电流变大，所述差分比较器输出高电平，该高电平大于所述平面半导体传感器的加热丝正常工作情况下所述差分比较器输出的电平，所述MCU控制器将检测结果发送到所述显示屏，显示所述平面半导体传感器的加热丝出现短路故障。最后应当说明的是:以上实施例仅用以说明本技术的技术方案而非对其限制；尽管参照较佳实施例对本技术进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本技术的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换；而不脱离本技术技术方案的精神，其均应涵盖在本技术请求保护的技术方案范围当中。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面半导体传感器电流检测电路，其特征在于：包括电源、MCU控制器、平面半导体传感器、MOS管、电阻R3、电阻R4、电阻R6、电阻R7、电阻R8和差分比较器；所述平面半导体传感器的电热丝的一端连接电源，所述平面半导体传感器的电热丝的另一端依次串接所述MOS管和所述电阻R6后接地，所述电阻R3的一端连接在所述MOS管与所述电阻R6之间，所述电阻R3的另一端连接所述差分比较器的同相输入端，所述电阻R7的一端接地，所述电阻R7的另一端连接所述差分比较器的反相输入端，所述差分比较器的输出端通过所属电阻R4连接所述MCU控制器，其中所述差分比较器的输出端还通过所述电阻R8连接所述差分比较器的反相输入端；所述MCU控制器连接电源，所述MCU控制器还通过所述电阻R2连接所述MOS管的栅极G，根据检测结果控制所述MOS管的通断。

【技术特征摘要】
1.一种平面半导体传感器电流检测电路，其特征在于：包括电源、MCU控制器、平面半导体传感器、MOS管、电阻R3、电阻R4、电阻R6、电阻R7、电阻R8和差分比较器；所述平面半导体传感器的电热丝的一端连接电源，所述平面半导体传感器的电热丝的另一端依次串接所述MOS管和所述电阻R6后接地，所述电阻R3的一端连接在所述MOS管与所述电阻R6之间，所述电阻R3的另一端连接所述差分比较器的同相输入端，所述电阻R7的一端接地，所述电阻R7...

【专利技术属性】
技术研发人员：武传伟，田勇，陈凌飞，祁泽刚，王向涛，刘建钢，
申请(专利权)人：郑州炜盛电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：河南,41