利用均匀线扫描的填充材料表面拓扑确定制造技术

用于确定填充材料表面(101)的拓扑的填充物位测量装置(100)包括天线设备(102)和可旋转支座，天线设备包括辐射元件(202)的阵列，可旋转支座用于使天线装置围绕平行于阵列的轴线(131)旋转。以这种方式，可相对于填充材料表面电子地且机械地调节天线设备的多个发射角，而不会出现局部过扫描。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】利用均匀线扫描的填充材料表面拓扑确定
本专利技术涉及填充物位测量装置以及填充材料表面拓扑的确定。本专利技术还涉及用于对象监测或质量流确定的测量装置。另外，本专利技术涉及用于确定填充材料表面的拓扑的方法以及填充物位测量装置的用于确定移动液体的黏度及确定介质的质量或体积的用途。
技术介绍
特别当在密封容器内部或外部测量散装材料和最终的倾注锥(Schüttkegeln)或移除堆(Abzugstrichtern)时，对填充材料表面的拓扑的记录是有利的。还可以记录移动液体的拓扑。例如，拓扑在使用搅拌器并在液体表面上出现相关的流动时发生变化，由此可以产生所谓的漩涡。通过拓扑能够得出关于有关额外的感兴趣变量的结论，这些变量例如是填充介质的粘度或混合。这里，可以考虑到搅拌器的速度。用于非接触地扫描表面的方法可以例如基于以下原理：朝向表面发射的信号被该表面反射，并评估被反射的信号的传播时间或信号强度。为了足够准确地记录填充材料表面的拓扑，可能需要在填充材料表面的特定区域的方向上进行多次测量，由此增加了这种测量设备或测量方法的复杂性和成本。为了扫描填充材料表面，可以使用能够扫描填充材料表面的可操控测量设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定填充材料表面(101)的拓扑的填充物位测量装置(100)，其包括：天线设备(102)，其包括被构造成发射并/或接收电磁信号的辐射元件(202)的阵列；第一可旋转支座，其被构造成使所述天线设备(102)围绕非垂直轴线(121)旋转；其中，所述填充物位测量装置被构造成电子地且机械地设定所述天线设备(102)的相对于所述填充材料表面(101)的多个发射角和/或接收角。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于确定填充材料表面(101)的拓扑的填充物位测量装置(100)，其包括：天线设备(102)，其包括被构造成发射并/或接收电磁信号的辐射元件(202)的阵列；第一可旋转支座，其被构造成使所述天线设备(102)围绕非垂直轴线(121)旋转；其中，所述填充物位测量装置被构造成电子地且机械地设定所述天线设备(102)的相对于所述填充材料表面(101)的多个发射角和/或接收角。2.根据权利要求1所述的填充物位测量装置(100)，其中，所述非垂直轴线(121)平行于所述阵列。3.根据权利要求1或2所述的填充物位测量装置(100)，其中，所述阵列是沿纵向方向(203)延伸的一维阵列，并且其中，所述轴线(121)平行于所述纵向方向。4.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，其中，所述填充物位测量装置被构造成使用数字波束成形处理来进行所述发射角和/或接收角的电子设定。5.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，其中，所述填充物位测量装置被构造成使用模拟移相器和/或模拟开关来进行多个发射角和/或接收角的电子设定。6.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，其还包括：附加可旋转支座，其被构造成使所述天线设备(102)围绕不平行于所述阵列的轴线(103)旋转。7.根据权利要求6所述的填充物位测量装置(100)，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯特芬·瓦尔德，罗兰·韦勒，卡尔·格里斯鲍姆，约瑟夫·费伦巴赫，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE