智能测试管理制造技术

本发明专利技术涉及智能测试管理，具体地为一种智能测试装置以及优选地为一种用于使用移动通信测试设备来至少测试第一DUT和第二DUT的方法。所述方法包括确定来自/去往第一DUT的第一RF测试信号是否干扰来自/去往第二DUT的第二RF测试信号的步骤。所述方法确定来自/去往第二DUT的第二RF测试信号是否干扰来自/去往第一DUT的第一RF测试信号。该方法预先确定至少通过施加第一RF测试信号获得的第一测量结果是否以高于第一干扰阈值被干扰。该方法预先确定至少通过施加第二RF测试信号获得的第二测量结果是否以高于第二干扰阈值被干扰。

【技术实现步骤摘要】
智能测试管理
本专利技术涉及智能测试系统。本专利技术尤其涉及一种使用移动通信测试设备来至少测试第一待测设备(DUT)和第二DUT的方法。本专利技术还涉及一种用于至少测试第一DUT和第二DUT的测试装置。本专利技术尤其涉及在移动通信设备、诸如用户设备(例如手持设备)的生产过程中的测试环境。
技术介绍
当今，生产环境包括用以评估和测试多个DUT的测试装置。DUT测试装置必须能够独立地测试各个DUT，而不受到提供给测试装置中的另一DUT的测试的影响。必不可少的是评估DUT的运行状态以及避免在测试装置中被测试的不同DUT之间的干扰。不利的是，在两个独立的DUT之间的干扰使测试结果失真且增加了引起在测试条件下DUT行为的错误评估的测量误差。因此，通常在这种装置中的DUT被电隔离以避免这样的干扰。在不同DUT之间的典型的电隔离值大约在60分贝或更高的范围内。这种隔离值可能是用以获得标准化的程序的客户的要求。为了确保禁止由于在不同的DUT之间的烦扰的干扰引起的这种错误评估，在各个DUT之间的较高的隔离是适用的。较高的隔离，诸如对于各个DUT专用的屏蔽增加了各个DUT的评估成本，增多了用于测试DUT的所需时间，从而增多了生产成本。因此，应避免较高的隔离。为了避免上述的干扰，还可以确保每个给定的时隙只有一个DUT被测试。因此，其它DUT不得不切换成闲置的，直到该激活的DUT的评估和测试程序完成。如果在短时期内应测试多个DUT，则这种方法是非常耗时的。另一种已知的方法是根据将应被测试的频率范围使用分开的测试方案。这种分开的测试方案难于在测试程序期间维持，这是因为对于各个DUT需要多个独立的测试方案。此外，因为仅仅存在两种用以布置这些TD-SCDMA频带的可能性，因此只有有限数目的组合可同时被测试，诸如两个独立的时分同步码分多址(TD-SCDMA)频带。因此，需要增加同时进行测试的DUT的数量且减少评估和测试进行的时间。为了实现这种同时的测试多个DUT，确保各个被测试的DUT不干扰在测试装置中的另一DUT的测量结果或使该测量结果失真是必要的。
技术实现思路
根据本专利技术的第一方面，提供了一种利用移动通信测试设备来至少测试第一DUT和第二DUT的方法。所述方法包括用于确定来自/去往第一DUT的第一射频(RF)测试信号是否干扰来自/去往第二DUT的第二RF测试信号的第一确定步骤。在随后的确定步骤中，确定来自/去往第二DUT的第二RF测试信号是否干扰来自/去往第一DUT的第一RF测试信号。在随后的步骤中，预先确定至少通过施加第一RF测试信号获得的第一测量结果是否以高于第一干扰阈值被干扰。在随后的步骤中，预先确定至少通过施加第二RF测试信号获得的第二测量结果是否以高于第二干扰阈值被干扰。本专利技术的方法确保了DUT的测量结果仅仅在所施加的RF测试信号未干扰DUT的测量结果的情况下是有效的。DUT优选地是能够通过空中接口发送和接收电信号的任何通信设备。优选地，DUT为移动通信设备(诸如UE)，优选地为手持设备、智能手机或便携式计算设备(如笔记本电脑、平板电脑等)或者无线通信设备。可替选地，DUT为固定通信设备，诸如与通信系统有关的设备。DUT优选地用在无线通信环境中，诸如长期环境(LTE)、通用移动通信系统(UMTS)、全球移动通信系统(GSM)或者任何有关的标准化通信系统。另外和/或可替选地，无线通信系统为根据IEEE802.11的任一标准的无线局域网(WLAN)。干扰阈值优选地为在用于测试DUT的测试程序中预先限定的值。DUT优选地用在根据3千赫至300千兆赫的任一射频范围的无线通信环境。优选地，DUT属于相同类型的DUT，该相同类型的DUT难于提供确保独立地测试各个DUT且不干扰相邻的DUT的测试方案。RF测试信号为施加至特定的DUT以识别其运行状态的信号，该运行状态诸如电磁兼容性(EMC)，该电磁兼容性可引起电磁干扰(EMI)。为了测试这种DUT，优选的是评估这种DUT的发送和接收行为。通过向DUT施加RF测试信号以及使用分析设备来分析DUT获得的和发出的频谱来实现这点，该分析设备诸如向量网络频谱分析仪(VNA)。为了通过同时测试DUT而加速多个DUT的评估过程，优选的是确保DUT不干扰另一DUT的测量结果或使该测量结果失真，这是通过本专利技术的构思而实现的。在优选的实施方式中，第一测量结果和/或第二测量结果为误差向量幅度(EVM)值或比特误码率(BER)值或接收信号强度指示(RSSI)值。EVM值、BER值和RSSI值作为第一测量结果和/或第二测量结果用于根据标准要求对DUT进行分类以及确保DUT在真实条件下的正常行为。在更优选的实施方式中，第一测量结果和/或第二测量结果为功率值，优选地邻近信道功率(ACP)的值或者邻近信道泄漏功率比(ACLR)的值。ACPR为邻近信道的总功率(诸如互调信号)与其主要信道的功率(有用的信号)的比率。存在至少两种测量ACPR的方式。第一种方式是寻找总输出功率与邻近信道中的功率的比值的log值的10倍。第二种方式是寻找围绕载波的中央以较小带宽的输出功率与邻近信道的功率的比值。该较小的带宽等于邻近信道信号的带宽。第二种方式更为普遍，因为它可更容易测量。ACPR被期望是尽可能地低。高的ACPR表示已经发生显著的频谱扩展。这些功率值将DUT分类以确保当使用该DUT时通信系统中的后面的信道不受干扰。由于当今标准中的通信系统包括多频算法和多编码算法，因此优选的是确保根据这种标准工作的DUT不干扰未分配所述DUT的信道。在优选的实施方式中，所述方法还包括：如果均未达到第一阈值和第二阈值，则同时测试第一DUT和第二DUT的步骤。优选地，均未达到所述两个阈值。在优选地识别出未达到阈值的情况下，则确保了第一DUT和第二DUT之间的隔离足够大且测量结果相互不干扰。在替选的实施方式中，所述方法还包括：如果超过第一阈值或第二阈值，则顺序测试第一DUT和第二DUT的步骤。如果超过这两个阈值中的一个阈值，也是足够的。为了避免了测试装置中的DUT之间的干扰且确保测量结果不是错误的或被篡改，这是优选的。在更为优选的实施方式中，所述方法还包括确定第一DUT和第二DUT之间的隔离值以及将该隔离值存储在隔离矩阵中。隔离值优选地为功率隔离值，这是通过测量在第一DUT处所接收的功率值以及测量在第二DUT处所发送的功率值而实现的。由于这些隔离值依赖于测试装置和布置有特定DUT的间隙，因此对于应用隔离矩阵以识别这些特定隔离值是有帮助的。在更优选的实施方式中，DUT的数目大于2，使得多个DUT、优选地数十个DUT可同时进行评估和测试。根据本专利技术的第二方面，提供了用于至少测试第一DUT和第二DUT的测试装置。所述装置包括配置成连接第一DUT的至少第一端子、配置成连接第二DUT的至少第二端子、信号发生单元以及配置成处理根据上文所述的方式的方法步骤的中央单元。这种用于测量多个DUT的装置可以是测试机架，多个DUT可在测试机架处连接。中央单元跟踪各个DUT的全部资源分配请求。它维持具有不同端子之间的隔离的隔离值矩阵。对于各个频谱或资源分配，有利地检查测量结果的冲突。这可通过将中央单元应用在测量装置中以识别阈值高于或低于某个干扰阈值来实现。在优选的实施方式中，信号发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用移动通信测试设备来至少测试第一待测设备DUT和第二待测设备DUT的方法，所述方法包括以下步骤：确定来自/去往所述第一待测设备DUT的第一射频RF测试信号是否干扰来自/去往所述第二待测设备DUT的第二射频RF测试信号；确定来自/去往所述第二待测设备DUT的所述第二射频RF测试信号是否干扰来自/去往所述第一待测设备DUT的所述第一射频RF测试信号；预先确定至少通过施加所述第一射频RF测试信号获得的第一测量结果是否以高于第一干扰阈值被干扰；以及预先确定至少通过施加所述第二射频RF测试信号获得的第二测量结果是否以高于第二干扰阈值被干扰。

【技术特征摘要】
2015.10.30 US 62/249,111;2016.05.20 US 15/159,9361.一种使用移动通信测试设备来至少测试第一待测设备DUT和第二待测设备DUT的方法，所述方法包括以下步骤：确定来自/去往所述第一待测设备DUT的第一射频RF测试信号是否干扰来自/去往所述第二待测设备DUT的第二射频RF测试信号；确定来自/去往所述第二待测设备DUT的所述第二射频RF测试信号是否干扰来自/去往所述第一待测设备DUT的所述第一射频RF测试信号；预先确定至少通过施加所述第一射频RF测试信号获得的第一测量结果是否以高于第一干扰阈值被干扰；以及预先确定至少通过施加所述第二射频RF测试信号获得的第二测量结果是否以高于第二干扰阈值被干扰。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一测量结果和/或所述第二测量结果为误差向量幅度EVM值或者比特误码率BER值或者接收信号强度指示RSSI值。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一测量结果和/或所述第二测量结果为功率值，优选地为邻近信道功率ACP值或者邻近信道泄漏功率比ACLR值。4.根据权利要求1所述的方法，还包括：在未达到所述第一干扰阈值和所述第二干扰阈值的情况下，同时测试所述第一待测设备DUT和所述第二待测设备DUT。5.根据权利要求1所述的方法，还包括：在超过所述第一干扰阈值或所述第二干扰阈值的情况下，顺序测试所述第一待测设备DUT和所述第二待测设备DUT。6.根据权利要求1所述的方法，还包括：确定所述第一待测设备DUT和所述第二待测设备DUT之间的隔离值；以及将所述隔离值存储作为隔离矩阵。7.根据权利要求1所述的方法，其中，待测设备DUT的数目大于2。8.一种用于至少测试第一待测设备DUT和第二待测设备DUT的测试装置，所述测试装置包括：用于连接第一待测设备DUT的至少第一端子；用于连接第二待...

【专利技术属性】
技术研发人员：安东·斯特罗迈耶，迈克尔·布劳克，拉尔夫·普劳曼，托马斯·卢茨，弗朗茨·奥伯迈尔，克里斯蒂安·克劳斯，延斯·福尔克曼，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE