一种显示装置的测试方法及一种显示装置制造方法及图纸

技术编号:16039690 阅读:130 留言:0更新日期:2017-08-19 21:42
本发明专利技术适用于液晶显示器制造技术领域,提供了一种显示装置的测试方法以及一种显示装置。其中,该显示装置包括第一基板、第二基板、框胶、液晶层以及支撑层;第一基板内侧边缘上具有外露的与薄膜晶体管连接的阵列金属层,支撑层嵌置于第一基板内侧边缘与第二基板内侧边缘之间;支撑层包括若干间隔设置的支撑件,支撑件与支撑件之间形成空腔。在加电压测试过程中,当加压棒顶部台阶的较高面挤压第一基板的边缘时,第一基板的玻璃边缘产生形变的应力,此时,支撑层可以抵消第一基板的玻璃基板上的形变应力,从而该玻璃基板的边缘不会弯曲变形。可见,通过设置支撑层,防止了第一基板玻璃边缘的阵列金属层与第一基板边缘的导电层接触。

【技术实现步骤摘要】
一种显示装置的测试方法及一种显示装置
本专利技术属于液晶显示器制造
,尤其涉及一种显示装置的测试方法以及一种显示装置。
技术介绍
LCD(液晶显示器,LiquidCrystalDisplay)的构造基于两片平行的玻璃基板当中形成液晶盒,下基板玻璃上设置TFT(薄膜晶体管,ThinFilmTransistor)形成TFT阵列基板,上基板玻璃上设置CF(彩色滤光片,ColorFilter)形成彩膜基板,通过TFT上的信号与电压改变来控制液晶分子的转动方向,从而达到控制每个像素点偏振光出射与否而达到显示目的。在液晶面板的微小狭缝紫外光光配向工艺流程中,需要给TFT阵列基板与彩膜基板输入电压,所以,要在阵列基板单板的两侧边缘进行切割,使阵列金属层外露。在紫外光光配向前,要将TFT阵列基板与彩膜基板对组,构成盒组件,盒组件需要采用加电压探针机构进行电气性能测试,加电压探针机构包括载台以及加压棒,在测试过程中,加压棒的顶部具有一台阶,台阶的较低面与载台平行,在测试过程中,加压棒向上移动,台阶的较低面与载台共同顶压彩膜基板的底面,台阶的较高面则需要与TFT阵列基板上的阵列金属层接触通电。为了本文档来自技高网...
一种显示装置的测试方法及一种显示装置

【技术保护点】
一种显示装置的测试方法,包括以下的步骤:提供所述显示装置,包括:获取第一基板及第二基板;将第一基板及第二基板进行配向工艺;将第一基板或第二基板进行框胶涂布及导电胶涂布;在第一基板和/或第二基板边缘之间设置支撑层;在第一基板相对第二基板一侧或第二基板相对第一基板一侧进行液晶涂布;将第一基板及第二基板进行对组及框胶硬化工艺形成所述显示装置;采用加电压探针机构对所述显示装置加压,进行电气性能测试。

【技术特征摘要】
1.一种显示装置的测试方法,包括以下的步骤:提供所述显示装置,包括:获取第一基板及第二基板;将第一基板及第二基板进行配向工艺;将第一基板或第二基板进行框胶涂布及导电胶涂布;在第一基板和/或第二基板边缘之间设置支撑层;在第一基板相对第二基板一侧或第二基板相对第一基板一侧进行液晶涂布;将第一基板及第二基板进行对组及框胶硬化工艺形成所述显示装置;采用加电压探针机构对所述显示装置加压,进行电气性能测试。2.如权利要求1所述的显示装置的测试方法,其特征在于,在第一基板和/或第二基板边缘之间设置支撑层的具体步骤为:在第一基板和/或第二基板内侧边缘之间设置若干间隔排布的支撑件,所述的支撑件与支撑件之间形成空腔。3.如权利要求1所述的显示装置的测试方法,其特征在于,所述将第一基板及第二基板进行配向工艺的步骤具体包括:洗净步骤,将第一基板及第二基板进行洗净,去除基板表面微粒子及有机物;配向膜涂布步骤,通过印刷方式将配向膜均匀涂布在基板上;配向膜成型步骤,除去溶剂以及将聚酰亚胺配向层分层后再通过高温帮助单体进行聚合反应;配向步骤,利用紫外光将聚酰亚胺配向层膜表面形成定向沟槽;洗净步骤,去除配向后的残屑或其他异物。4.如权利要求1所述的显示装置的测试方法,其特征在于,所述获取第一基板的方法为:玻璃清洗,去除异物;成膜工艺,在干净的玻璃表面,通过溅射沉积形成金属薄膜;上光阻,在已形成的金属薄膜上面均匀涂覆一层光刻胶;曝光,紫外线透过掩模板照射基板上的光刻胶,...

【专利技术属性】
技术研发人员:简重光
申请(专利权)人:惠科股份有限公司重庆惠科金渝光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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