【技术实现步骤摘要】
液体闪烁谱仪、获取淬灭校正曲线和放射性活度的方法
本专利技术属于核辐射检测
,特别涉及一种建立淬灭校正曲线的方法、获取未知样品放射性活度的方法,以及一种液体闪烁谱仪。
技术介绍
辐射监督管理部门在地质、环境和生物医学等场合进行辐射环境与辐射防护检测时,需要可以满足测量极低含量的氚和碳-14环境样品的仪器来测量。液体闪烁技术可以满足对已知样品的测量,但对于未知样品的测量,则需要仪器事先刻度,这就涉及到建立淬灭校正曲线。现有的液体闪烁谱仪对样品的定标需要建立淬灭校正曲线,建立淬灭校正曲线可以用多个样品一次测量或者一个样品去测量。采用多个样品一次测量的方法,存在样品瓶之间的厚度、透过性能和闪烁液与内标准样品的取样这三方面的误差。采用一个样品作为标准源建立淬灭校正曲线,是通过改变电压或者在样品周围增加灰色的滤光片,均是通过改变光电子的收集效率,其缺点是:装置结构过于简易,操作较为复杂,仅适合该装置的相关技术人员操作;或者通过多次打开样品瓶盖添加淬灭剂,其既操作麻烦,又因水吸附、样品闪烁液挥发、氧淬灭等一系列因素,造成一些不必要的误差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于 ...
【技术保护点】
一种建立淬灭校正曲线的方法,其特征在于:通过改变样品和光电倍增管(320)之间的距离,获取多组用于建立淬灭校正曲线的淬灭指数参数。
【技术特征摘要】
1.一种建立淬灭校正曲线的方法,其特征在于:通过改变样品和光电倍增管(320)之间的距离,获取多组用于建立淬灭校正曲线的淬灭指数参数。2.一种建立淬灭校正曲线的方法,包括以下步骤:a,样品采用标准品,标准品放射性活度DPM为已知量;b,通过改变样品和光电倍增管(320)之间的距离,获取多组标准品计数率CPM值;c,根据准品放射性活度DPM和标准品计数率CPM值,计算获得多组一一对应的淬灭指数QIP值和计数效率E值;d,根据获取的多组相应的淬灭指数QIP值和计数效率E值建立淬灭校正曲线。3.根据权利要求2所述的建立淬灭校正曲线的方法,其特征在于:所述标准品为纯β样品或纯α样品。4.根据权利要求2所述的建立淬灭校正曲线的方法,其特征在于:所述成对的QIP值和E值的组数为多组,采用一个样品通过多次改变样品和光电倍增管(320)之间的距离获取。5.一种获取未知样品放射性活度的方法,包括以下步骤:a,调整好未知样品和光电倍增管(320)之间的距离,获取未知样品的计数率CPM和对应的QIP值;b,采用权利要求1-4任一所述的建立淬灭校正曲线的方法建立的淬灭校正曲线,根据QIP值得到相应的计数效率E值;c,根据公式CPM为未知样品计数率,计算得到未知样品放射性活度A0。6.一种液体闪烁谱仪,其特征在于:包括收集装置(100),传送装置(200),数据获取模块(300)和测量腔室(310);所述收集装置(100)用于盛...
【专利技术属性】
技术研发人员:艾艳,徐强,汪加龙,郭勇,高超,
申请(专利权)人:上海新漫传感技术研究发展有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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