滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光通信领域，提供一种滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置及方法，该装置包括底座、安装在底座上并与底座垂直的竖板、安装在竖板上的Z轴位移平台、安装在Z轴位移平台上的光电探测器、安装在竖板上并位于Z轴位移平台下方的滤波片放置平台、安装在底座上的XY轴位移平台、安装在XY轴位移平台上用于固定准直器的支撑柱、与准直器通过光纤连接的光源、与光电探测器电连接的电流测量模块、设置在滤波片放置平台下方的准直器、控制器。本发明专利技术提出的技术方案实现了滤波片的隔离度与输入光损耗指标的测试，与现有技术相比，测试时间显著减少，投入成本降低，很容易实现批量化测试。

【技术实现步骤摘要】
滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置及方法
本专利技术属于光通信领域，特别涉及一种滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置及方法。
技术介绍
随着光通信技术的发展，多波段技术的应用越来越普遍，多波段技术需要在有限的波长范围内划分出更多的波段用来传输信息，因此多波段技术对所有BOSA内配置的滤波片性能要求更高，由于腔体内滤波片的种类也越来越多，因此波段间的隔离度与输入光损耗指标也越来越重要，由于隔离度越高输入光损耗越小，从而对BOSA的指标越好，因此滤波片的隔离度与输入光损耗是BOSA的常用测试指标。现阶段行业普遍采用光谱分析仪进行波段扫描测试来测试滤波片的隔离度与输入光损耗，测试原理为：测试台下端准直器与光源连接，上端准直器通过耦合器与光功率计和光源分析仪连接，待测试产品放置在载物台上，光源由下端准直器垂直射入透过待测试产品进入上端准直器，上端准直器通过耦合器将光路平均分配到光功率计和光谱分析仪，光功率计负责监控光能量，光谱分析仪接收光信号分析光谱数据，并将数据传输给电脑进行分析判断。上述测试方法存在以下缺点：第一，滤波片的隔离度与输入光损耗指标只能进行大片测试，不能测试到每一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置，其特征在于包括底座(1)、安装在底座(1)上并与底座(1)垂直的竖板(2)、安装在竖板(2)上的Z轴位移平台(3)、安装在Z轴位移平台(3)上的光电探测器(4)、安装在竖板(2)上并位于Z轴位移平台(3)下方的滤波片放置平台(5)、安装在底座(1)上的XY轴位移平台(6)、安装在XY轴位移平台(6)上用于固定准直器(8)的支撑柱(7)、与准直器(8)连接的光源(9)、与光电探测器(4)电连接的电流测量模块(10)、设置在滤波片放置平台(5)下方的准直器(8)、控制器(11)，所述控制器(11)分别与电流测量模块(10)和光源(9)连接。

【技术特征摘要】
1.一种滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置，其特征在于包括底座(1)、安装在底座(1)上并与底座(1)垂直的竖板(2)、安装在竖板(2)上的Z轴位移平台(3)、安装在Z轴位移平台(3)上的光电探测器(4)、安装在竖板(2)上并位于Z轴位移平台(3)下方的滤波片放置平台(5)、安装在底座(1)上的XY轴位移平台(6)、安装在XY轴位移平台(6)上用于固定准直器(8)的支撑柱(7)、与准直器(8)连接的光源(9)、与光电探测器(4)电连接的电流测量模块(10)、设置在滤波片放置平台(5)下方的准直器(8)、控制器(11)，所述控制器(11)分别与电流测量模块(10)和光源(9)连接。2.根据权利要求1所述的滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置，其特征在于所述控制器(11)具体被配置成：控制光源(9)发射光信号，所述光信号的波长与滤波片反射光波长相同或者与透射光波长相同；当光源(9)发射光信号的波长与滤波片反射光波长相同时，接收电流测量模块(10)测量到的电流值并根据该电流值以及在未放置滤波片时测量得到的最大电流值计算滤波片的隔离度值；当光源(9)发射光信号的波长与滤波片透射光波长相同时，接收电流测量模块(10)测量到的电流值并根据该电流值以及在未放置滤波片时测量得到的最大电流值计算滤波片的输入光损耗值。3.根据权利要求1所述的滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置，其特征在于所述准直器(8)与所述滤波片放置平台(5)相互垂直。4.根据权利要求1所述的滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置，其特征在于所述光电探测器(4)为大光敏面探测器。5.根据权利要求1所述的滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测装置，其特征在于所述光源(9)为激光光源。6.一种滤波片的隔离度与输入光损耗指标的检测方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王强，赵涵，谭军，刘志勇，邹文洋，
申请(专利权)人：四川九州光电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51