一种微波暗室制造技术

技术编号:16006254 阅读:84 留言:0更新日期:2017-08-15 21:01
本实用新型专利技术公开了一种微波暗室,包括电磁屏蔽室、安装于所述电磁屏蔽室内壁的吸波材料及测量天线,所述吸波材料至少上部为周期性角锥,其特征在于,所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射区的吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向。本实用新型专利技术通过一种简单,易操作,低成本的方式,在不改变暗室结构或吸波材料高度的情况下,仅仅通过改变吸波材料的布局就可以极大程度降低暗室反射,创造一个更纯净的测量环境,提高测量精度。

A microwave anechoic chamber

The utility model discloses a microwave anechoic chamber, including the absorbing material and the measurement of antenna electromagnetic shielding, electromagnetic shielding installed on the indoor wall, the absorbing material at least upper periodic pyramid, which is characterized in that the main area of non vertical incidence located at least in the microwave anechoic chamber in reflection wave absorption the material pyramid edge toward the major direction of arrival. The utility model has the advantages of a simple, easy operation, low cost, without changing the structure of the darkroom or absorbing materials high situation, just by changing the layout of the absorbing material can greatly reduce the degree of dark reflection, create a more pure measurement environment, improve the measurement accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种微波暗室
本技术涉及测量
,尤其涉及一种用于无线性能参数测量的微波暗室。
技术介绍
微波暗室又称为无回波室、无反射室或吸波暗室(以下简称暗室),是在电磁屏蔽室的内壁(墙壁、地板、天棚等)铺设吸波材料,有效地吸收入射到这些地方的电磁波,减小或消除反射和散射,从而形成天线测量所需要的自由空间条件。微波暗室广泛应用于天线参数测量以及电磁波绕射、散射及辐射特性测量的理想场所。微波暗室最基本的功能是提供一个稳定可控的、满足测量所需的电磁信号环境。根据吸波材料安装方式的不同,微波暗室分为全波暗室、半波暗室两种。全波暗室内部所有表面都覆有吸波材料,用于模拟自由空间条件;半波暗室内部侧壁和顶部表面覆有吸波材料,地面为电波反射面,用于模拟开阔测试场地。暗室所用的吸波材料几乎都是锥体,且大多为角锥型,典型的角锥型吸波材料如图1所示,包括基座和上部的周期性角锥。电磁波入射至吸波材料时,在电磁波的入射面或界面都会发生反射、投射(折射)和吸收。吸波材料的性能直接影响暗室内部的反射情况。为了降低暗室内部反射,现有技术中通常的做法是优化吸波材料的吸收效能,具体方法主要包括四种:(1)增加吸波剂的添加量;本文档来自技高网...
一种微波暗室

【技术保护点】
一种微波暗室,包括电磁屏蔽室、安装于所述电磁屏蔽室内壁的吸波材料及测量天线,所述吸波材料至少上部为周期性角锥,其特征在于,所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射区的吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向。

【技术特征摘要】
1.一种微波暗室,包括电磁屏蔽室、安装于所述电磁屏蔽室内壁的吸波材料及测量天线,所述吸波材料至少上部为周期性角锥,其特征在于,所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射区的吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向。2.如权利要求1所述的微波暗室,其特征在于,所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射区的吸波材料的角锥的棱边正对主要来波方向。3.如权利要求1或2所述的微波暗室,其特征在于,所述微波暗室中测量天线周围的吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向。4.如权利要求3所述的微波暗室,其特征在于,所述微波暗室中测...

【专利技术属性】
技术研发人员:漆一宏于伟罗庆春沈鹏辉
申请(专利权)人:深圳市通用测试系统有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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