A piezoelectric element, a method of manufacturing the same, an ultrasonic probe, and an ultrasonic measuring apparatus are provided. The piezoelectric element having a piezoelectric body and the diaphragm, the diaphragm of the crystalline silicon anisotropic as vibration materials, the anisotropy is relatively high. The Poisson's ratio and Poisson's ratio of relatively low orientation, the Poisson's ratio is relatively low. Called \than to\ low Poisson. With the low Poisson's ratio becomes high orientation along the stretching direction of the piezoelectric body in the direction of the way of the laminated piezoelectric body and the diaphragm, the high expansion direction of the piezoelectric body according to the degree of the telescopic supporting structure is relatively high and relatively low side direction relative to the direction of the high.
【技术实现步骤摘要】
压电元件及其制造方法、超声波探头、超声波测定装置
本专利技术涉及压电元件及其制造方法、超声波探头、超声波测定装置。
技术介绍
使用将压电元件用作超声波的发送用及接收用的换能器的超声波探头及超声波测定装置,测定生物体信息,进行血管机能的评价、血管疾患的判断。例如,专利文献1中公开了使用通过处理所接收的超声波的振幅信息得到的来自生物体组织的反射波信号强度,以及通过处理所接收的超声波的相位信息得到的生物体组织的移动速度,自动检测血管壁的超声波探头及超声波测定装置。例如在专利文献2中公开的那样,在这种超声波探头及超声波测定装置中使用的压电元件在薄膜上的振动膜上层叠压电体而制成。【现有技术文献】【专利文献】专利文献1:日本特开2008-173177号公报专利文献2:日本特开昭60-206315号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题那么,如果着眼于压电元件的接收灵敏度,则如何提高超声波的接收时产生的发生电荷就很重要。作为其中一种方法,想到了薄化振动膜,但由于制造技术上的制约薄化也有限度,通过振动膜的薄化来提高灵敏度的方法已到达界限。本专利技术的目的在于提供与振动膜的薄化不同的提高压电元件的接收灵敏度的新技术。解决技术问题的技术手段为解决上述课题的第一专利技术是一种压电元件,具备压电体以及振动膜,所述振动膜将各向异性的单晶硅作为振动用材料,所述各向异性具有泊松比相对高的位向和泊松比相对低的位向,所述泊松比相对低的位向称为“低泊松比位向”,以所述低泊松比位向成为沿着所述压电体的高伸缩方向的方向的方式层叠所述压电体和所述振动膜,所述高伸缩方向是所述压电体根据支承结构产生 ...
【技术保护点】
一种压电元件,包括:压电体;以及振动膜,将各向异性的单晶硅作为振动用材料,所述各向异性具有泊松比相对高的位向和泊松比相对低的位向,所述泊松比相对低的位向称为“低泊松比位向”,以所述低泊松比位向成为沿着所述压电体的高伸缩方向的方向的方式层叠所述压电体和所述振动膜,所述高伸缩方向是所述压电体根据支承结构产生的伸缩程度相对高的方向和相对低的方向中相对高的方向。
【技术特征摘要】
2015.11.02 JP 2015-2159871.一种压电元件,包括:压电体;以及振动膜,将各向异性的单晶硅作为振动用材料,所述各向异性具有泊松比相对高的位向和泊松比相对低的位向,所述泊松比相对低的位向称为“低泊松比位向”,以所述低泊松比位向成为沿着所述压电体的高伸缩方向的方向的方式层叠所述压电体和所述振动膜,所述高伸缩方向是所述压电体根据支承结构产生的伸缩程度相对高的方向和相对低的方向中相对高的方向。2.根据权利要求1所述的压电元件,其中,所述单晶硅的晶向为[001],所述低泊松比位向为或[110]。3.根据权利要求1所述的压电元件,其中,所述单晶硅的晶向为[010],所述低泊松比位向为[101]或4.根据权利要求1所述的压电元件,其中,所述单晶硅的晶向为[100],所述低泊松比位向为[011]或5.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:山崎清夏,田村博明,
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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