用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法技术

本发明专利技术属于材料成份检测技术领域，具体涉及一种用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法，具体包括以下步骤：S1.使用阶梯光谱仪采集标准光源；S2.结合波长标定函数得到光谱波长

【技术实现步骤摘要】
用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法
本专利技术属于材料成份检测
，更具体地，涉及一种用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法，其能够克服现有阶梯光谱仪仅在使用前校准而无法解决使用过程中的谱线漂移所带来的不足，提高LIBS定量分析的检测极限和分析精度。
技术介绍
激光诱导击穿光谱(LaserInducedBreakdownSpectroscopy，LIBS)检测技术是一种通过分析激光轰击样品后产生的等离子光谱确定物质成份的技术。激光探针成分分析具有速度快、实验条件简单、可远程、可在线分析等一系列优点，因此，在钢铁和特种合金检测、煤质检测、环境监测等诸多领域，呈现出蓬勃发展的趋势。阶梯型光谱由于其具有体积较小、光谱分析范围广、分辨率高等技术特点，在激光诱导击穿光谱仪分析领域中被普遍采用。因此作为一种基础仪器，其校正方法的可靠性对LIBS检测技术的灵敏度和精准度都有着至关重要的影响。现有的阶梯光谱仪校正方法为使用标准光源(如汞灯)在测量前完成校准，之后获得的测量数据即全部以此为标准。然而由于激光诱导等离子体光源在时间上和空间上的不稳定的特性，测量过程中往往出现光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1.使用阶梯光谱仪采集标准光源，得到标准光源的光谱图，根据光谱图得到不同级次的光谱波长；S2.根据步骤S1中得到的不同级次的光谱波长，结合与此光谱波长相对应的标定函数f(x，y)，计算得到某一分析元素的光谱波长

【技术特征摘要】
1.一种用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1.使用阶梯光谱仪采集标准光源，得到标准光源的光谱图，根据光谱图得到不同级次的光谱波长；S2.根据步骤S1中得到的不同级次的光谱波长，结合与此光谱波长相对应的标定函数f(x，y)，计算得到某一分析元素的光谱波长所对应的在阶梯光谱仪上的像素坐标其中，x和y表示该分析元素在阶梯光谱仪上的原始像素水平方向和竖直方向坐标，和则表示某一分析元素的光谱波长在阶梯光谱仪上对应的像素水平方向和竖直方向的坐标；S3.再次使用阶梯光谱仪，对待测样品中上述分析元素所对应的激光诱导等离子体光谱进行采集，然后结合步骤S2中所得到的像素坐标在该像素坐标附近进行动态搜索和筛选，得到全部像素位置坐标的集合D,此外，将该集合D内与上述分析元素所对应的所有原始强度值进行调整，相应获得调整之后的数值且将其采用调整函数F(Ix，y)予以表示,其中，Ix，y表示像素坐标(x，y)处所对应的光谱谱线强度值；集合D中像素坐标(x，y)中x和y的取值下限分别为m和n,取值上限分别为m′和n′；S4.将步骤S3中得到的调整后的强度值F(Ix，y)按照下列计算式进行，以此计算得到波长值为的光谱谱线动态校准之后的强度值：该值即为待测样品中上述分析元素的光谱...

【专利技术属性】
技术研发人员：李祥友，沈萌，郝中骐，杨新艳，李嘉铭，曾晓雁，陆永枫，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：湖北,42