一种崔盘、阵列测量系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种崔盘、阵列测量系统及方法，旨在解决现有的产品测量效率低下，测量结果准确率低的问题。本发明专利技术所提供的崔盘内的若干个同规格的待测产品以阵列的方式进行排列摆放。本发明专利技术所提供的应用该崔盘的阵列测量系统，该系统中的测量仪器按照智能终端的阵列测量指令对崔盘内的待测产品进行自动有序的测量，由于无需对单个待测产品一个个进行离盘检测，而直接对整个崔盘上的所有产品进行自动测量，从而大大地减少了装盘、卸盘的时间，提高了产品测量的效率。且由于减少了人为的操作过程，降低了人为操作而导致的误差，使得测量结果准确率大大提高。

Cui dish, array measuring system and method

The invention provides a Cui pan, an array measuring system and a method, aiming at solving the problems of low measurement efficiency and low accuracy of the measurement result of the prior product. A plurality of products with the same specifications are arranged and arranged in an array way in the Cui tray provided by the invention. The application of array measurement system provided by the invention of the Cui disc, measuring instruments in the system in accordance with the instructions of the intelligent terminal array measurement in the disc Cui products to be tested were measured automatically and orderly, because without the need for individual products to be tested one by one from the plate detection, and direct products of all the Cui disc the automatic measurement, thereby greatly reducing the loading and unloading plate time, improve the efficiency of product measurement. Because the artificial operation process is reduced and the error caused by human operation is reduced, the accuracy of the measurement result is greatly improved.

【技术实现步骤摘要】
一种崔盘、阵列测量系统及方法
本专利技术属于自动化检测领域，尤其涉及一种崔盘、阵列测量系统及方法。
技术介绍
在工业生产中，需要对生产出来的产品进行检测。对于同一类产品，传统的检测方法是采用手动或全自动的测量仪器对整盘的该类产品进行检测，检测时，需要将产品单个取出来进行测量，测量完成后再对下一个产品按照同样的步骤进行测量。此测量方法的测量速度非常慢，使得测量效率很低，且测量过程中需要大量的人工操作，由于人为的误差会使得测量结果的准确率降低。
技术实现思路
本专利技术提供了一种崔盘、阵列测量系统及方法，旨在解决现有的产品测量效率低下，测量结果准确率低的问题。为解决上述技术问题，本专利技术是这样实现的，本专利技术提供了一种崔盘：所述崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域，每个所述固定区域用于固定待测产品，以使摆放后的每一行的所述待测产品的横轴线与所述崔盘的横边框平行，且每一列的所述待测产品的纵轴线与所述崔盘的纵边框平行。进一步地，所述固定区域为凹槽结构，其凹槽形状与所述待测产品形状匹配。进一步地，所述崔盘的盘框为正方形结构或长方形结构。本专利技术还提供了一种阵列测量系统，所述系统包括上述的崔盘；所述系统还包括：工作台，用于摆放所述崔盘；智能终端，用于根据所述崔盘内放置有待测产品的固定区域的行数、列数以及两个相邻固定区域之间的行间距与列间距，计算生成阵列测量指令，并将所述阵列测量指令发送至测量仪器；所述测量仪器，用于按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量，将得到的每一个所述待测产品的测量数据发送至所述智能终端；所述智能终端，还用于基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据，依次确定每个所述待测产品是否合格并显示确定结果。进一步地，所述工作台包含直角夹具，以使所述崔盘的其中一个直角的两边与直角夹具对齐。本专利技术还提供了一种阵列测量方法，所述方法应用于上述的阵列测量系统；所述方法包括：智能终端根据崔盘内放置有待测产品的固定区域的行数、列数以及两个相邻固定区域之间的行间距与列间距，计算生成阵列测量指令，并将所述阵列测量指令发送至测量仪器；所述测量仪器按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量，将得到的每一个所述待测产品的测量数据发送至所述智能终端；智能终端基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据，依次确定每个所述待测产品是否合格并显示确定结果。进一步地，所述方法还包括：所述测量仪器对放置于所述崔盘内的标准产品进行测量，以得到所述标准产品的定标数据，并将所述标准产品的定标数据发送至所述智能终端。进一步地，所述测量仪器按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量包括：所述测量仪器按照所述阵列测量指令中所包含的移动顺序进行移动，依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量。进一步地，所述智能终端基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据，依次确定每个所述待测产品是否合格包括：所述智能终端将每个所述待测产品的测量数据与所述标准产品的定标数据进行差值计算，得到所述待测产品的差值结果；若判断所述待测产品的差值结果大于预设公差，则确定所述待测产品不合格。本专利技术与现有技术相比，有益效果在于：本专利技术提供了一种崔盘，崔盘内的若干个同规格的待测产品以阵列的方式进行排列摆放。本专利技术还提供了一种应用该崔盘的阵列测量系统，该系统中的测量仪器按照智能终端的阵列测量指令对崔盘内的待测产品进行自动有序的测量，由于无需对单个待测产品一个个进行离盘检测，而直接对整个崔盘上的所有产品直接进行自动测量，从而大大地减少了装盘、卸盘的时间，提高了产品测量的效率。且由于减少了人为的操作过程，降低了人为操作而导致的误差，使得测量结果准确率大大提高。附图说明图1是本专利技术实施例提供的崔盘示意图；图2是本专利技术实施例提供的阵列测量系统示意图；图3是本专利技术实施例提供的工作台示意图；图4是本专利技术实施例提供的崔盘示意图；图5是本专利技术实施例提供的智能终端上的主页面示意图；图6是本专利技术实施例提供的智能终端上的测量结果示意图；图7是本专利技术实施例提供的阵列测量方法流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。作为本专利技术的第一个实施例，如图1所示，为本专利技术提供的一种崔盘：该崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域101，每个固定区域用于固定待测产品，以使摆放后的每一行的待测产品的横轴线与崔盘的横边框平行，且每一列的待测产品的纵轴线与崔盘的纵边框平行。其中，固定区域101为凹槽结构，其凹槽形状与待测产品形状匹配。崔盘的盘框102为正方形结构或长方形结构。如图1所示，101表示固定区域，其为凹槽结构，目的是为了使放入该固定区域内的待测产品保持固定，因此在实际应用中，可以按照待测产品的形状对崔盘内的固定区域形状进行设计，103表示已经放入固定区域102内的一待测产品。同时，根据实际需要对崔盘内若干个固定区域101的阵列方式进行排列设计。例如，一次需要对100个某种金属产品进行检测，可以将崔盘内若干个固定区域的排列方式设计成10*10的阵列，每行包含10个固定区域，每列包含10个固定区域。也可以将该崔盘内若干个固定区域的排列方式设计成20*5的阵列，每行包含20个固定区域，每列包含5个固定区域。综上所述，本专利技术第一个实施例所提供的崔盘，崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域，每个固定区域用于固定待测产品，采用此种崔盘进行测量时，无需对单个待测产品一个个进行离盘检测，可以直接对整个崔盘上的所有产品直接进行测量，从而大大地减少了装盘、卸盘的时间，提高了产品测量的效率。作为本专利技术的第二个实施例，如图2所示，为本专利技术提供的一种阵列测量系统，该系统包括上述第一个实施例所提供的崔盘10，还包括工作台20、智能终端30以及测量仪器40。工作台20，用于摆放崔盘10。其中，工作台20包含直角夹具，以使崔盘10的其中一个直角的两边与直角夹具对齐，如图3所示。设置直角夹具的目的，是为了保证崔盘10每次的放置位置都是相同的，由于直角夹具的在工作台20上的位置是固定的，从而使得测量仪器40每次在对工作台20上的崔盘10进行测量时，每次都能够对准确的位置进行测量。智能终端30，用于根据崔盘10内放置有待测产品的固定区域的行数、列数以及两个相邻固定区域之间的行间距与列间距，计算生成阵列测量指令，并将该阵列测量指令发送至测量仪器40。该智能终端30可以通过有线或者无线方式与测量仪器40连接，也可以是集成在测量仪器40上的智能芯片等等。该智能终端可以是电脑或手机，或任何可以安装阵列测量程序的终端产品。在本实施例中，智能终端30上安装有阵列测量程序，例如图4所示，两个相邻固定区域之间的行间距为X1，两个相邻固定区域之间的列间距Y1；若崔盘上共放置有4行5列的待测产品，X1为30mm，Y1为45mm，如图5所示，只需在阵列测量程序的页面内输入行数：4，列数：5，水平距离：30，垂直距离：45，阵列测量程序即可通过这几个参数计算生成阵列测量指令。测量仪器40，用于按照上述阵列测量指令依次对崔盘10内的每个待测产品进行测量，将得到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种崔盘，其特征在于，所述崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域，每个所述固定区域用于固定待测产品，以使摆放后的每一行的所述待测产品的横轴线与所述崔盘的横边框平行，且每一列的所述待测产品的纵轴线与所述崔盘的纵边框平行。

【技术特征摘要】
1.一种崔盘，其特征在于，所述崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域，每个所述固定区域用于固定待测产品，以使摆放后的每一行的所述待测产品的横轴线与所述崔盘的横边框平行，且每一列的所述待测产品的纵轴线与所述崔盘的纵边框平行。2.如权利要求1所述的崔盘，其特征在于，所述固定区域为凹槽结构，其凹槽形状与所述待测产品形状匹配。3.如权利要求1所述的崔盘，其特征在于，所述崔盘的盘框为正方形结构或长方形结构。4.一种阵列测量系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求1至3所述的崔盘；所述系统还包括：工作台，用于摆放所述崔盘；智能终端，用于根据所述崔盘内放置有待测产品的固定区域的行数、列数以及两个相邻固定区域之间的行间距与列间距，计算生成阵列测量指令，并将所述阵列测量指令发送至测量仪器；所述测量仪器，用于按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量，将得到的每一个所述待测产品的测量数据发送至所述智能终端；所述智能终端，还用于基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据，依次确定每个所述待测产品是否合格并显示确定结果。5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述工作台包含直角夹具，以使所述崔盘的其中一个直角的两边与直角夹具对齐。6.一种阵列测量方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求4或5所述的阵列测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘涛，
申请(专利权)人：东莞市奥铭测控智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44