一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法。该测试方法包括：由上位机获取待测线损对应的预定频率和预定带宽；由上位机控制信号发生器以预定功率发射预定频率的待测信号；由功分器将预定频率的待测信号经陷波器传输至第一测试仪；由第一测试仪测试接收到的待测信号在预定带宽的平均功率；由上位机从信号发生器获取预定功率、从第一测试仪获取平均功率值后，获取预定功率和平均功率的差值作为预定频率和预定带宽对应的线损。通过上述方式，本发明专利技术能以相对简单的方式自动测试出不同频段的杂散测试系统的线损，从而提高杂散测试系统的工作效率。

Test device and test method for line loss of stray test system

The invention discloses a test device and a test method for the line loss of a stray test system. The test method comprises obtaining a predetermined frequency and a predetermined bandwidth loss measured by the corresponding PC; by PC control signal generator signal power transmitting a predetermined frequency in a predetermined power divider; by the predetermined signal to be measured by wavetrap transmission to the first frequency tester; by the first test receiver the measured signal average power at a predetermined bandwidth; by the host computer from the signal generator to obtain predetermined power, obtained from the first test instrument of average power value, the difference between getting a predetermined power and average power as a predetermined frequency and a predetermined bandwidth corresponding to the loss. Through the above method, the invention can automatically test the line loss of the stray test system in different frequency bands in a relatively simple way, thereby improving the work efficiency of the stray test system.

【技术实现步骤摘要】
一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法
本专利技术涉及射频测试领域，特别是涉及一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法。
技术介绍
杂散测试是射频测试中的一项重要测试指标，在杂散测试中，针对不同频段的测试案例，杂散测试系统的线损是不同。为了保证测试结果的准确性，每测试一个案例，需要手动测试杂散测试系统的线损并对其进行补偿以校正杂散测试系统。但是，由于杂散测试系统在使用的过程中，测试频段获测试案例很多，从而导致线损测试的工作量很大，需要占用大量的时间，进而降低了杂散测试系统的工作效率。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法，能够以相对简单的方式自动测试出不同频段的杂散测试系统的线损。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种杂散测试系统线损的测试装置，该测试装置包括上位机、第一测试仪、功分器、第二测试仪、陷波器和信号发生器；其中，上位机分别与第一测试仪、第二测试仪、信号发生器连接；其中，信号发生器的输出端与功分器的输入端连接；其中，功分器的第一输出端通过陷波器与第一测试仪的输入端连接；其中，功分器的第二输出端与第二测试仪的输入端连接。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种杂散测试系统线损的测试方法，该方法包括：由上位机获取待测线损对应的预定频率和预定带宽；由上位机控制信号发生器以预定功率发射预定频率的待测信号；由功分器将预定频率的待测信号经陷波器传输至第一测试仪；由第一测试仪测试接收到的待测信号在预定带宽的平均功率；由上位机从信号发生器获取预定功率、从第一测试仪获取平均功率值后，获取预定功率和平均功率的差值作为预定频率和预定带宽对应的线损。本专利技术的有益效果是：本专利技术的杂散测试系统线损的测试装置及测试方法由上位机获取待测线损对应的预定频率和预定带宽；由上位机控制信号发生器以预定功率发射预定频率的待测信号；由功分器将预定频率的待测信号经陷波器传输至第一测试仪；由第一测试仪测试接收到的待测信号在预定带宽的平均功率；由上位机从信号发生器获取预定功率、从第一测试仪获取平均功率值后，获取预定功率和平均功率的差值作为预定频率和预定带宽对应的线损。通过上述方式，本专利技术能以相对简单的方式自动测试出不同频段的杂散测试系统的线损，从而提高了杂散测试系统的工作效率。附图说明图1是本专利技术实施例的杂散测试系统线损的测试装置的结构示意图；图2是本专利技术第一实施例的杂散测试系统线损的测试方法的流程图；图3是本专利技术第二实施例的杂散测试系统线损的测试方法的流程图。具体实施方式在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的组件，所属领域中的技术人员应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同样的组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的基准。下面结合附图和实施例对本专利技术进行详细说明。图1是本专利技术实施例的杂散测试系统线损的测试装置的结构示意图。如图1所示，该测试装置包括：上位机11、第一测试仪12、功分器13、第二测试仪14、陷波器15和信号发生器16。上位机11分别与第一测试仪12、第二测试仪14、信号发生器16连接。在本实施例中，优选地，上位机11为PC机、第一测试仪12为频谱分析仪、第二测试仪14为综合测试仪。优选地，PC机通过GPIB总线分别与频谱分析仪、综合测试仪和信号发生器连接，以通过GPIB总线向频谱分析仪、综合测试仪和信号发生器发生控制指令以指示其按照预定方式进行工作、以及通过GPIB总线从频谱分析仪、综合测试仪和信号发生器读取相关的信息。功分器13包括输入端、第一输出端和第二输出端。其中，信号发生器16的输出端与功分器13的输入端连接，功分器13的第一输出端通过陷波器15和第一测试仪12连接，功分器13的第二输出端与第二测试仪14的输入端连接。本领域的技术人员可以理解，当把测试装置中的信号发生器16更换为受测设备后，该测试装置即可形成杂散测试系统。受测设备通过功分器的第一输出端和综合测试仪进行数据通讯，功分器的第二输出端接入频谱分析仪，用于测量受测设备中杂散信号的强度。图2是本专利技术第一实施例的杂散测试系统线损的测试方法的流程图，图2所示的方法基于图1所示的测试系统。需注意的是，若有实质上相同的结果，本专利技术的方法并不以图2所示的流程顺序为限。如图2所示，该方法包括如下步骤：步骤S101：由上位机获取待测线损对应的预定频率和预定带宽。在步骤S101中，不同的预定频率和预定带宽对应于进行杂散测试的不同的测试案例。步骤S102：由上位机控制信号发生器以预定功率发射预定频率的待测信号。在步骤S102中，由上位机通过GPIB总线将第一控制指令发送给信号发生器，第一控制指令包括预定功率、预定频率、待测信号的波形等参数，以使信号发生器按照第一控制指令发射待测信号。具体来说，信号发生器发射的待测信号用于模拟受测设备正常进行杂散测试时所产生的杂散信号。其中，待测信号优选为额定窄带功率的正弦波信号，其预定功率优选为0dBm，其频率为步骤S101中获取的预定频率。步骤S103：由功分器将预定频率的待测信号经陷波器传输至第一测试仪。步骤S104：由第一测试仪测试接收到的待测信号在预定带宽的平均功率。在步骤S104中，由上位机通过GPIB总线将第二控制指令发送给信号发生器，第二控制指令包括预定频率、预定带宽等参数，以使第一测试仪按照第二控制指令测试待测信号的平均功率。具体来说，由第一测试仪测试接收到的待测信号在预定带宽的平均功率的步骤具体为：由上位机控制第一测试仪以预定频率为中心进行预定带宽的频谱扫描，进而获取接收到的待测信号对应的平均功率。在本实施例中，当第一测试仪进行测试工作时，第二测试仪不需要进行测试工作。其中，第二测试仪通过功分器和信号发生器连接是为了保证链路的阻抗和杂散测试系统的阻抗一致，从而保证线损的测试准确性。步骤S105：由上位机从信号发生器获取预定功率、从第一测试仪获取平均功率后，计算预定功率和平均功率的差值作为预定频率对应的线损。在步骤S105中，由上位机通过GPIB总线从信号发生器获取预定功率，以及通过GPIB总线从第一测试仪获取平均功率后，由上位机对第一测试仪测试得到的平均功率和信号发生器发出的预定功率进行相减操作，即得出以该预定频率为中心频率该预定带宽为带宽的杂散测试系统的线损。图3是本专利技术第二实施例的杂散测试系统线损的测试方法的流程图，图3所示的方法基于图1所示的自动测试系统。需注意的是，若有实质上相同的结果，本专利技术的方法并不以图3所示的流程顺序为限。如图3所示，该方法包括如下步骤：步骤S201：由上位机从校准文件中获取待测线损对应的预定频率和预定带宽。在步骤S201中，校准文件根据如下方式形成：在上位机的设置界面上，通过在LabWindows开发环境下逐个输入进行杂散测试的射频信号所处的预定频率以及以预定频率为中心频率的预定带宽以形成校准文件。其中，进行杂散测试的不同测试案例所对应的频段与不同射频信号所处的预定频率和预定带宽相对应。步骤S202：由上位机控制信号发生器以预定功率发射预定频率的待测信号。步骤S203：由功分器将预定频率的待测信号经陷波器传输至第一测试仪。步骤S20本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种杂散测试系统线损的测试装置，其特征在于，所述装置包括上位机、第一测试仪、功分器、第二测试仪、陷波器和信号发生器；其中，所述上位机分别与所述第一测试仪、所述第二测试仪、所述信号发生器连接；其中，所述信号发生器的输出端与所述功分器的输入端连接；其中，所述功分器的第一输出端通过所述陷波器与所述第一测试仪的输入端连接；其中，所述功分器的第二输出端与所述第二测试仪的输入端连接。

【技术特征摘要】
1.一种杂散测试系统线损的测试装置，其特征在于，所述装置包括上位机、第一测试仪、功分器、第二测试仪、陷波器和信号发生器；其中，所述上位机分别与所述第一测试仪、所述第二测试仪、所述信号发生器连接；其中，所述信号发生器的输出端与所述功分器的输入端连接；其中，所述功分器的第一输出端通过所述陷波器与所述第一测试仪的输入端连接；其中，所述功分器的第二输出端与所述第二测试仪的输入端连接。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上位机为PC机、所述第一测试仪为频谱分析仪、所述第二测试仪为综合测试仪。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述PC机通过GPIB总线分别与所述频谱分析仪、所述综合测试仪和所述信号发生器连接。4.一种根据权利要求1所述的测试装置的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：由所述上位机获取待测线损对应的预定频率和预定带宽；由所述上位机控制所述信号发生器以预定功率发射所述预定频率的待测信号；由所述功分器将所述预定频率的所述待测信号经所述陷波器传输至所述第一测试仪；由所述第一测试仪测试接收到的所述待测信号在所述预定带宽的平均功率；由所述上位机从所述信号发生器获取所述预定功率、从所述第一测试仪获取所述平均功率值后，获取所述预定功率和所述平均功率的差值作为所述预定频率和所述预定带宽对应的线损。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：余志聪，贾宇，
申请(专利权)人：捷开通讯深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44