一种质谱仪制造技术

本发明专利技术提供一种质谱仪，涉及质谱检测技术领域。其中，该质谱仪包括：离子源、四级杆质量分析器、反射器组件和检测器，离子源设置于四极杆质量分析器的首端，用于将样品电离成离子，并使得离子进入四极杆质量分析器的腔室，四极杆质量分析器用于对进入腔室的离子进行第一次过滤，得到第一目标离子，反射器组件安装于四极杆质量分析器的尾端，用于通过在四极杆质量分析器的尾端产生静电场，反射第一目标离子，四极杆质量分析器还用于对反射的第一目标离子进行第二次过滤，得到第二目标离子，检测器设置于四级杆分析器的首端，用于检测第二目标离子。上述质谱仪可对离子进行二次过滤，得到质荷比更为一致的离子，进而提高了质谱仪的质量分辨率。

【技术实现步骤摘要】
一种质谱仪
本专利技术属于质谱检测
，尤其涉及一种质谱仪。
技术介绍
质谱仪是一种通过检测离子的质荷比来鉴定物质种类的仪器，被广泛应用于各个领域中。它被认为是一种同时具备高特异性和高灵敏度且得到了广泛应用的普适性测试方法。质谱仪一般由样品导入系统、离子源、质量分析器、检测器、数据处理系统等部分组成。质量分析器作为质谱仪的关键部件，对质谱仪的发展起着举足轻重的作用。它按照质荷比大小和顺序对电离后的离子进行分离，使得检测器按照质荷比的大小和顺序对离子进行收集和记录，获得离子按质荷比大小排列而成的质谱图。由于结构简单，真空要求相对较低，工艺加工难度小，四极杆质量分析器是使用最为广泛的一种质量分析器。但是，现有的四极杆质量分析器在对离子进行分离时，由于离子在四极杆中运行的时间短，经常会出现将不同质荷比的离子混合记录的情况，由于没有足够的时间分离，不同质荷比的离子被检测器混合记录，导致某一质荷比离子的质谱峰变宽，质谱仪的质量分辨率降低。
技术实现思路
本专利技术提供一种质谱仪，旨在解决由于离子在四极杆中运行时，没有足够的时间进行分离，而导致质谱仪的质量分辨率降低的问题。本专利技术提供的一种质本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种质谱仪，其特征在于，所述质谱仪包括：离子源、四级杆质量分析器、反射器组件和检测器；所述离子源，设置于所述四极杆质量分析器的首端，用于将样品电离成离子，并使得所述离子进入所述四极杆质量分析器的腔室；所述四极杆质量分析器，用于对进入所述腔室的离子进行第一次过滤，得到第一目标离子；所述反射器组件，安装于所述四极杆质量分析器的尾端，用于通过在所述四极杆质量分析器的尾端产生静电场，反射所述第一目标离子；所述四极杆质量分析器，还用于对反射的所述第一目标离子进行第二次过滤，得到第二目标离子；所述检测器，设置于所述四级杆分析器的首端，用于检测所述第二目标离子。

【技术特征摘要】
1.一种质谱仪，其特征在于，所述质谱仪包括：离子源、四级杆质量分析器、反射器组件和检测器；所述离子源，设置于所述四极杆质量分析器的首端，用于将样品电离成离子，并使得所述离子进入所述四极杆质量分析器的腔室；所述四极杆质量分析器，用于对进入所述腔室的离子进行第一次过滤，得到第一目标离子；所述反射器组件，安装于所述四极杆质量分析器的尾端，用于通过在所述四极杆质量分析器的尾端产生静电场，反射所述第一目标离子；所述四极杆质量分析器，还用于对反射的所述第一目标离子进行第二次过滤，得到第二目标离子；所述检测器，设置于所述四级杆分析器的首端，用于检测所述第二目标离子。2.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述质谱仪还包括：备用检测器；所述备用检测器，设置于所述四级杆质量分析器的尾端，用于当所述反射器组件不产生静电场时，检测所述第一目标离子。3.根据权利要求1或2所述的质谱...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小华，胡莉莉，徐伟，
申请(专利权)人：苏州安益谱精密仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32