自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法技术

本发明专利技术公开了一种自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，测量模块具有多个测试群组和控制单元。每一个测试群组具有多个测试通道，每一个测试群组中的每一个测试通道具有通道控制单元及时间测量单元。通道控制单元电性连接时间测量单元，且通道控制单元依据触发信号提供测试信号至时间测量单元，使时间测量单元依据测试信号测量待测信号的时序。待测信号关联于测试通道电性连接的待测物。控制单元电性连接测试群组，并依据选择信号指定的测试群组，产生触发信号给测试群组中的每一个测试通道。

Group time measuring module of automatic test equipment and method thereof

The invention discloses a group time measuring module of an automatic testing device and a method thereof. The measuring module has a plurality of test groups and a control unit. Each test group has multiple test channels, each test channel in each test group has a channel control unit and a time measurement unit. Channel control unit time measurement unit is connected electrically, and the channel control unit according to the trigger signal provides a test signal to the time measurement unit, the test signal timing measurement based on time measurement unit of the signal. The signal to be measured is connected to the test object of the electrical connection of the test channel. The control unit electrically connects the test group and generates a trigger signal to each test channel in the test group according to the test group specified by the selection signal.

【技术实现步骤摘要】
自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法
本专利技术关于一种自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，特别是可以一次性地触发同一测试群组中的测试通道进行时序测量的群组化时间测量模块及其方法。
技术介绍
集成电路元件在出厂前必须经过自动测试设备(AutomaticTestingEquipment，ATE)进行多种电气测试，以确定集成电路元件的使用功能及品质。而时间测量模块是自动测试设备中的一个测量项目，主要以多个时间测量单元(Timemeasurementinit)来测量待测集成电路元件的信号频率、传输延迟、建立/保持时间(setup/holdtime)、上升时间(risetime)、下降时间(falltime)及工作周期(dutycycle)，以取得待测集成电路元件的运作时序、待测物两个事件(event)发生之间的间隔时间、计算事件发生的个数或其他测试结果。然而，现有的自动测试设备中，当以具有时间测量单元的测试通道(channels)来对待测集成电路元件进行时序测量时，每一个测试通道的时间测量单元都需要被设定一次检测内容，且于开始进行时序测量时，每一个测试通道亦必须分别被触发以开始进行测量，例如自动测试设备要使4个测试通道进行时序测量时，总共至少要设定4次检测内容及执行4次触发。如此一来，现有的自动测试设备在设定和触发开始测量上必须耗费许多的设定时间和执行多道触发程序。
技术实现思路
本专利技术在于提供一种自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，藉以解决现有的自动测试设备耗费设定时间和触发程序繁多的问题。本专利技术所揭露的自动测试设备的群组化时间测量模块，具有多个测试群组和控制单元。每一个测试群组包含多个测试通道，每一个测试群组中的每一个测试通道具有通道控制单元及时间测量单元。通道控制单元电性连接时间测量单元。通道控制单元依据触发信号提供测试信号至时间测量单元，使时间测量单元依据测试信号测量待测信号的时序。待测信号关联于测试通道电性连接的待测物。控制单元电性连接测试群组，并依据选择信号，产生触发信号至其中至少一个测试群组中的每一个测试通道。选择信号指定其中一个测试群组进行时序测量。本专利技术所揭露的自动测试设备的群组化时间测量方法，具有依据选择信号，指定多个测试群组其中至少一个进行时序测量，每一个测试群组具有多个测试通道，且每一个测试通道具有时间测量单元。被指定的测试群组中的每一个测试通道接收触发信号。触发接收到触发信号的每一个测试通道的时间测量单元。被触发的时间测量单元测量待测信号的时序。待测信号关联于测试通道电性连接的待测物。根据上述本专利技术所揭露的自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，藉由群组化测试通道的方式，在设定检测内容方面，自动测试设备可以一次性地设定多个测试通道，在触发程序方面，亦可以一次性地触发一个或多个测试群组，使测试群组中的测试通道被触发以进行待测物的时序测量，据以减少自动测试设备设定和进行触发程序的时间，提升测量效率。以上的关于本揭露内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本专利技术的精神与原理，并且提供本专利技术的专利申请范围更进一步的解释。附图说明图1是根据本专利技术一实施例所绘示的自动测试设备的功能方块图。图2是根据本专利技术一实施例所绘示的测试通道的功能方块图。图3是根据本专利技术另一实施例所绘示的时间测量单元的功能方块图。图4是根据本专利技术再一实施例所绘示的群组化时间测量方法的步骤流程图。其中，附图标记：10自动测试设备11控制单元13通道控制单元15时间测量单元151同步电路152参考计数器153测量电路17输入输出接口20待测物30主机Ga～Gx测试群组a1～an、b1～bm、x1～xi测试通道RFC参考时脉RFR重置信号WC工作时脉CE致能信号SC撷取时脉RFS参考计数信号具体实施方式以下在实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、申请专利范围及图式，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本专利技术相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本专利技术的观点，但非以任何观点限制本专利技术的范畴。请参照图1及图2，图1是根据本专利技术一实施例所绘示的自动测试设备的功能方块图，图2是根据本专利技术一实施例所绘示的测试通道的功能方块图。如图1所示，自动测试设备10具有控制单元11及多个测试群组Ga～Gx，每一个测试群组中又分别具有多个测试通道，例如测试群组Ga中具有测试通道a1～an、测试群组Gb中具有测试通道b1～bm及测试群组Gx中具有测试通道x1～xi。于自动测试设备10的群组化时间测量模块中，每一个测试群组中的每一个测试通道具有通道控制单元及时间测量单元。为了方便说明，以测试通道a1来进行说明，如图2所示，测试通道a1具有通道控制单元13、时间测量单元15及输入输出接口17。通道控制单元13电性连接控制单元11及时间测量单元15，用以依据控制单元11产生的触发信号，提供测试信号至时间测量单元15，使时间测量单元15依据测试信号来测量待测信号的时序。输入输出接口17电性连接时间测量单元15及待测物20，用以接收关联于待测物20的待测信号，并将待测信号输出给时间测量单元15。待测信号例如为自动测试设备10输出至待测物20以检测待测物20的信号，亦例如为待测物20受自动测试设备10的检测而回复给自动测试设备10的信号，本实施例不予限制。于一个实施例中，自动测试设备10电性连接主机30，且依据主机30所下的选择信号，指定多个测试群组Ga～Gx其中至少一个测试群组进行时序测量。也就是说，当主机30指定测试群组Ga进行时序测量时，控制单元11会产生触发信号至测试群组Ga中的每一个测试通道，使测试群组Ga中的每一个测试通道进行时序测量。以测试群组Ga的测试通道a1为例来说，当控制单元11指定测试群组Ga进行时序测量时，测试通道a1的通道控制单元13会接收到触发信号，并输出测试信号至时间测量单元15，以触发时间测量单元15通过输入输出接口17来测量待测信号的时序。于本实施例中，测试通道未限制以实体连接的方式包含于测试群组中，且于不同的测试程序中，测试通道会被配置于不同的测试群组，例如当自动测试设备10用以测试待测物A时，测试通道a1被配置于测试群组Ga，当自动测试设备10用以测试待测物B时，测试通道a1被配置于测试群组Gb。实际上，测试通道是依据预设对待测物检测的内容而被配置于测试群组中，例如预设检测相同内容的测试通道会被配置于同一个测试群组中，换言之，同一个测试群组中的每一个测试通道将以相同的设定对待测物进行测量，但不以此为限。于所属
具有通常知识者亦可以对每一个测试通道设定不同的检测内容，本实施例不予限制。为了更清楚时间测量单元15测量待测信号的方法，兹举一个实施例说明。请参照图3，图3是根据本专利技术另一实施例所绘示的时间测量单元的功能方块图，如图3所示，时间测量单元15具有同步电路151、参考计数器152以及测量电路153，且通道控制单元13提供参考时脉RFC与重置信号RFR作为测试信号给时间测量单元15。时间测量单元15的同步电路151接收通道控制单元13提供的参考时脉RFC与重置信号RFR，并依据参考时脉RFC与重置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动测试设备的群组化时间测量模块，其特征在于，包括：多个测试群组，每一该测试群组包含多个测试通道，每一该测试群组中的每一该测试通道包含一通道控制单元及一时间测量单元，该通道控制单元电性连接该时间测量单元，该通道控制单元依据一触发信号提供一测试信号至该时间测量单元，使该时间测量单元依据该测试信号测量一待测信号的时序，该待测信号关联于该测试通道电性连接的一待测物；以及一控制单元，电性连接该些测试群组，并依据一选择信号，产生该触发信号至该些测试群组其中至少一中的每一该测试通道，该选择信号指定该些测试群组其中至少一进行时序测量。

【技术特征摘要】
2015.12.23 TW 1041432661.一种自动测试设备的群组化时间测量模块，其特征在于，包括：多个测试群组，每一该测试群组包含多个测试通道，每一该测试群组中的每一该测试通道包含一通道控制单元及一时间测量单元，该通道控制单元电性连接该时间测量单元，该通道控制单元依据一触发信号提供一测试信号至该时间测量单元，使该时间测量单元依据该测试信号测量一待测信号的时序，该待测信号关联于该测试通道电性连接的一待测物；以及一控制单元，电性连接该些测试群组，并依据一选择信号，产生该触发信号至该些测试群组其中至少一中的每一该测试通道，该选择信号指定该些测试群组其中至少一进行时序测量。2.根据权利要求1所述的自动测试设备的群组化时间测量模块，其特征在于，每一该测试群组的每一该测试通道设定有一测量条件，当每一该测试通道的该时间测量单元测量该待测信号的时序时，该时间测量单元依据该测量条件，判断并记录该待测信号符合该测量条件的时间点。3.根据权利要求2所述的自动测试设备的群组化时间测量模块，其特征在于，更包含一通道对应表，该通道对应表指示每一该测试群组所包含的该些测试通道，该控制单元依据该通道对应表设定每一该测试群组的该测量条件。4.根据权利要求2所述的自动测试设备的群组化时间测量模块，其特征在于，该测量条件包含一测量次数和一门槛值，当该时间测量单元测量并记录该待测信号符合该门槛值的时间点达该测量次数时，该时间测量单元输出测量结果至该控制单元。5.根据权利要求4所述的自动测试设备的群组化...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄英宏，黄逸勇，蔡紫蕾，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71