点阵显示器污坏点检测系统及其应用技术方案

一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，包括一获取图像装置和一计算单元，其连接于所述获取图像装置，这样透过所述获取图像装置取得工作中的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据，经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后，抓取所述图像数据的污坏点。

Dot matrix display dirty dead detecting system and its application

A dot matrix display dirty dead detecting system, which automatically dot matrix display for sewage includes a dead pixel detection, image acquisition device and a computing unit, which is connected to the image acquisition device, so that through the image acquisition device to obtain the point in a display array display chip image data that unit according to the arrangement of LED dot matrix and the surrounding non luminous area according to the n*n average after the calculation, capture the image data and pixels.

【技术实现步骤摘要】
点阵显示器污坏点检测系统及其应用
本专利技术涉及一点阵显示器的检测，特别涉及一点阵显示器污坏点检测系统和一污坏点检测方法，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，进而提高检测的准确性和检测效率。
技术介绍
一般的点阵显示器是由几万至几十万个发光二极管像素点均匀排列组成，并可分为图文显示器和视频显示器，其中因为由OLED矩阵块所组成，故又常称为OLED点阵显示器或OLED显示器。所述图文显示器可与计算机同步显示汉字、英文文本和图形。所述视频显示器采用微型计算机进行控制，使得图文、图像并茂，同时透过同步、清晰的信息传播方式去播放各种信息，另外还可显示二维、三维动画、电视、录像、VCD节目以及现场实况。所以点阵显示器在现今的社会中被广泛的运用，像是用于车站、码头、机场、商场、医院、宾馆、银行、证券市场、建筑市场、拍卖行、工业企业管理和其它公共场所等。另外，点阵显示器有单色和双色两类，可显示红，黄，绿，橙等。根据图素的数目分为等，双原色、三原色等，根据图素颜色的不同所显示的文字、图像等内容的颜色也不同，单原色点阵只能显示固定色彩如红、绿、黄等单色，双原色和三原色点阵显示内容的颜色由图素内不同颜色发光二极体点亮组合方式决定，另外，如果按照脉冲方式控制二极体的点亮时间，即则可实现256或更高级灰度显示，因此可实现真彩色显示。在现今，OLED点阵显示器的运用受到广泛重视进而发展迅速，其中的优点是亮度高、工作电压低、功耗小、小型化、寿命长、耐冲击和性能稳定。因此OLED点阵显示器的发展前景极为广阔，目前正朝着更高亮度、更高耐气候性、更高的发光密度、更高的发光均匀性，可靠性、全色化方向发展。因此，在OLED点阵显示器的生产制造过程中，如何检测判断一块点阵显示器的好坏和是否有污坏点，也成为在生产制造的工序中一个比较重要的课题。一般检测感光器件污坏点是通过该感光器件拍摄的图片来检测，而对于点阵显示器只能使用肉眼来检测，然而，利用检测人员的人眼去判断一个点阵显示器的好坏，因为是利用所述检测人员的人眼进行判断，所以无法防呆，并且会产生误判的情况，同时因为是透过人眼进行检测，由于人类生理机能的关系，所以经过长时间的使用人眼，会造成人眼产生疲劳，这时除了容易产生误判的情形外，同时会造成生产效率变低的情况发生。并且，由于是借助人眼进行判断，所以对于所述检测人员的检测经验值要求也相对的提高，而且由于人员总是会存在主观性，因此检测工序也无法有效率和精准的量化。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，进而提高检测的准确性和检测效率。本专利技术的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以实现所述点阵显示器的污坏点的实时检测。本专利技术的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其中包括一污坏点检测设备，其可以自动抓取所述点阵显示器的污坏点，以以减少人工检测的失误和提升生产效能，并确保所述点阵显示器的检测工序可以量化。本专利技术的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其中包括一获取图像装置，其用于拍摄所述点阵显示器在工作时的一显示芯片并取得一图像数据后，对所述图像数据进行污坏点检测。本专利技术的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其中包括一计算单元，根据取得的所述图像数据的一发光点阵区域和一周围非光发区域的排布规律按n*n求平均，并由此排除非发光区域对污坏点的干扰，判断所述点阵显示器的污坏点。本专利技术的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于有效的提高了点阵显示器污坏点检测的准确率和有效减少了污坏点检测所需时间，提高了测试效率。为了达到以上目的，本专利技术提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，包括：一获取图像装置连接于一计算单元，这样透过所述获取图像装置取得工作中的所述点阵显示器的显示芯片的图像数据，经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后，消除非发光区域对污坏点抓取的影响，抓取所述图像数据的污坏点。根据本专利技术的一个实施例，所述获取图像装置为一相机。根据本专利技术的一个实施例，所述计算单元为一计算机。根据本专利技术的一个实施例，所述计算单元为一点阵发光芯片。根据本专利技术的另外一方面，本专利技术还提供一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法，包括如下步骤：(S01)获取一图像数据；(S02)对所述图像数据做预处理；(S03)根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值；以及(S04)抓取处理之后的所述图像数据的污坏点。根据本专利技术的一个实施例，步骤(S01),是透过一获取图像装置，对工作状态下的所述点阵显示器的一显示芯片进行拍摄，以获取所述图像数据。步骤(S03),述图像数据求平均，其是为了消除所述发光点阵之间的所述周围非光发区域。根据本专利技术的另一个实施例，提供一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，包括：一获取图像装置，一工作平台，一支撑架以及一计算单元，其中所述支撑架垂直装置于所述工作平台，所述获取图像装置可拆解地安装于所述支撑架，所述计算单元连接于所述获取图像装置，这样透过所述获取图像装置取得位于所述工作平台上的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据，并且对所述图像数据做预处理后，透过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值，进而进一步地抓取出所述点阵显示器的污坏点。根据本专利技术的一个实施例，所述工作平台为一移动平台。根据本专利技术的一个实施例，所述获取图像装置为一相机。根据本专利技术的一个实施例，所述计算单元为一计算机。附图说明图1是根据本专利技术的第一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统的示意图。图2是根据本专利技术的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统透过一获取图像装置取得一点阵显示器在工作时的一显示芯片的一图像数据,其说明处理前的图像数据。图3是根据本专利技术的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统透过一获取图像装置取得一点阵显示器在工作时的一显示芯片的一图像数据，其说明图2的局部放大图，图中明显可显示非发光区域。图4是根据本专利技术的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统透过一获取图像装置取得一点阵显示器在工作时的一显示芯片的一图像数据，其说明处理后的图像数据。图5是根据本专利技术的一个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法的流程图。图6是根据本专利技术的第二个优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统的示意图。具体实施方式以下描述用于揭露本专利技术以使本领域技术人员能够实现本专利技术。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本专利技术的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本专利技术的精神和范围的其他技术方案。如图1所示，是根据本专利技术的第一优选实施例的一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器90的污坏点检测，进而提高检测的准确性和检测效率。所述点阵显示器污坏点检测系统包括一获取图像装置10和一计算单元20，其连接于所述获取图像装置10，这样当所述获取图像装置10拍摄所述点阵显示器90在工作时的一显示芯片并取得一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，其特征在于，包括：一获取图像装置连接于一计算单元，这样透过所述获取图像装置取得工作中的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据，经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后，消除非发光区域对污坏点抓取的影响，抓取所述图像数据的污坏点。

【技术特征摘要】
1.一点阵显示器污坏点检测系统，其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测，其特征在于，包括：一获取图像装置连接于一计算单元，这样透过所述获取图像装置取得工作中的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据，经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后，消除非发光区域对污坏点抓取的影响，抓取所述图像数据的污坏点。2.根据权利要求1所述的点阵显示器污坏点检测系统，其中所述获取图像装置为一相机。3.根据权利要求2所述的点阵显示器污坏点检测系统，其中所述计算单元为一计算机。4.根据权利要求2所述的点阵显示器污坏点检测系统，其中所述计算单元为一点阵发光芯片。5.一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法，其特征在于，包括如下步骤：(S01)获取一图像数据；(S02)对所述图像数据做预处理；(S03)根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值；以及(S04)抓取处理之后的所述图像数据的污坏点。6.根据权利要求5所述的污坏点检测方法，其中步骤(S01),是透过一获取图像装置，对工作状态下的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨盼，郑杰，褚佰年，叶重阳，郑锡斌，
申请(专利权)人：宁波舜宇光电信息有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33