一种卷积定理光学实验仪制造技术
【技术实现步骤摘要】
一种卷积定理光学实验仪
本专利技术属于光学仪器领域，尤其是涉及一种卷积定理光学实验仪。
技术介绍
卷积定理也称卷积特性，是傅里叶变换的基本性质之一，它广泛应用于通信系统和信号处理研究领域。它由两部分组成：一是时域卷积定理；二是频域卷积定理。两个函数乘积的傅立叶变换，等于它们各自的傅立叶变换的卷积。反之，两个函数卷积的傅立叶变换，等于它们各自傅立叶变换的乘积。现在人们通常通过光学方法来研究卷积定理。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种卷积定理光学实验仪，便于人们研究卷积定理。本专利技术的技术方案是：一种卷积定理光学实验仪，包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩杆，所述滑座的两端卡合在导轨的两侧，滑座可沿着导轨滑动。进一步，所述滑座上设置有固定螺栓。进一步，所述第一正交光栅和第二正交光栅的空间频率不同。进一步，所述底座下方固定有四个支撑腿。本专利技术具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，利用该卷积定理光学实验仪可研究卷积定理，进一步加深对卷积定理的理解，该仪器操作简单，使用方便。附图说明图1是本专利技术的结构示意图。图中：1、底座2、导轨3、半导体激光器4、第一正交光栅5、第二正交光栅6、光屏7、支架体8、滑座9、套筒10、伸缩杆11、固定螺栓12、支撑腿具体实施方式下面结合附图对本专利技术做详细说明。如图1所示，本专利技术一...
【技术保护点】
一种卷积定理光学实验仪，其特征在于：包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩杆，所述滑座的两端卡合在导轨的两侧。
【技术特征摘要】
1.一种卷积定理光学实验仪，其特征在于：包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩...
【专利技术属性】
技术研发人员：李让峰，
申请(专利权)人：天津良益科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12
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