用于确定传感器已经被更换的方法及设备技术

一种设备包括接口和处理器。所述接口可以被配置为从传感器中的多个感测元件接收多个感测值。所述处理器可以连接至所述接口并且被配置为(i)生成所述感测值之中的多个坏值的列表，以及(ii)基于所述坏值来计算传感器的唯一标识值。所述坏值中的每个坏值通常指示感测元件中的对应的感测元件的不适当性能。

【技术实现步骤摘要】
传感器的唯一标识值
本专利技术总体上涉及视频信号处理和安全，并且更具体而言，涉及用于实施传感器的唯一标识值的方法和/或设备。
技术介绍
检测硬件相关标识值的变化是防硬件克隆的安全操作的基础。就常规而言，使用唯一硬件标识值作为经常在诸如验证等安全交易中所使用的数字签名的基础。安全水平取决于硬件标识值的唯一性。用于生成硬件标识值的两种常规技术包含由介质存取控制地址进行推导或者使用外部密码芯片。由可配置的介质存取控制地址导出的硬件标识值不保证硬件唯一性，因为硬件的多个副本可能被配置有同一介质存取控制地址。外部密码芯片更可能生成唯一硬件标识值，但是其以提高系统的复杂性和成本为代价。期望的是实施传感器的唯一标识值。
技术实现思路
本专利技术包含与一种具有接口和处理器的设备有关的方面。接口被配置为接收来自传感器中的多个感测元件的多个感测值。处理器连接至接口并且被配置为(i)生成感测值之中的多个坏值的列表，以及(ii)基于坏值来计算传感器的唯一标识值。坏值中的每者指示感测元件中的对应的一个的不适当性能。在上文描述的设备方面的一些实施例中，(i)传感器包括电光传感器，并且(ii)感测元件中的每者包括像素。在上文描述的设备方面的一些实施例中，唯一标识值基于传感器中的与列表中的坏值相关联的感测元件的多个位置。在上文描述的设备方面的一些实施例中，通过对与列表中的坏值相关联的位置执行散列运算来计算唯一标识值。在上文描述的设备方面的一些实施例中，处理器还被配置为(i)通过对与列表中的坏值相关联的位置执行散列运算来生成额外的标识值，并且(ii)将额外的标识值合并到唯一标识值中。在上文描述的设备方面的一些实施例中，处理器还被配置为(i)将与列表中的坏值相关联的位置与存储在存储器中的多个已知位置进行比较，并且(ii)在与列表中的坏值相关联的位置不与已知位置相关的情况下指示传感器已经被更换。在上文描述的设备方面的一些实施例中，(i)处理器还被配置为基于感测值来计算多个分布值，(ii)分布值表征感测值的幅度分布，并且(iii)基于分布值来生成列表。在上文描述的设备方面的一些实施例中，(i)分布值包括感测值的标准偏差值和感测值的平均值，并且(ii)坏值大于偏离平均值的标准偏差的倍数。在上文描述的设备方面的一些实施例中，处理器还被配置为在计算唯一标识值之前通过对坏值进行过滤而从列表中去除时好时坏(inconsistentlybad)的坏值。在上文描述的设备方面的一些实施例中，接口、处理器和传感器是数字照相机的部分。本专利技术包含与用于确定传感器的唯一标识值的方法有关的方面，所述方法包括以下步骤：从传感器中的多个感测元件接收多个感测值；使用处理器生成感测值之中的多个坏值的列表，其中，坏值中的每者指示感测元件中的对应的一个的不适当性能；以及基于坏值来计算传感器的唯一标识值。在上文描述的方法方面的一些实施例中，(i)传感器包括电光传感器，并且(ii)感测元件中的每者包括像素。在上文描述的方法方面的一些实施例中，唯一标识值基于传感器中的与列表中的坏值相关联的感测元件的多个位置。在上文描述的方法方面的一些实施例中，通过对与列表中的坏值相关联的位置执行散列运算来计算唯一标识值。在上文描述的方法方面的一些实施例中，所述方法还包括以下步骤：通过对与列表中的坏值相关联的位置执行不同的散列运算而生成额外的标识值；以及将额外的标识值合并到唯一标识值中。在上文描述的方法方面的一些实施例中，所述方法还包括以下步骤：将与列表中的坏值相关联的位置与存储在存储器中的多个已知位置进行比较；以及在与列表中的坏值相关联的位置不与已知位置相关的情况下指示传感器已经被更换。在上文描述的方法方面的一些实施例中，所述方法还包括基于感测值来计算多个分布值的步骤，其中，(i)分布值表征感测值的幅度分布，并且(ii)基于分布值而生成所述列表。在上文描述的方法方面的一些实施例中，分布值包括感测值的标准偏差值和感测值的平均值，并且(ii)坏值大于偏离平均值的标准偏差的倍数。在上文描述的方法方面的一些实施例中，所述方法还包括在计算唯一标识值之前通过对坏值进行过滤而从列表中去除时好时坏的坏值的步骤。在上文描述的方法方面的一些实施例中，在数字照相机中执行所述步骤。附图说明通过下文的具体实施方式、所附权利要求以及附图，本专利技术的实施例将变得显而易见，在附图中：图1是照相机系统的方框图；图2是用于生成唯一标识值的方法的流程图；图3是图片序列的示图；图4是用于传感器物理完整性检查的方法的流程图；图5是用于数据完整性检查的方法的流程图；图6是用于生成复杂唯一硬件标识值的方法的流程图；以及图7是用于生成数字签名的方法的流程图。具体实施方式本专利技术的实施例包括为传感器提供唯一标识值，该唯一标识值可以(i)检测支持防硬件克隆能力的照相机传感器的硬件变化，(ii)基于传感器数据而生成数字签名，(iii)为验证提供高安全级别，(iv)避免引入新硬件，(v)减小照相机的成本提高，(vi)避免照相机的硬件复杂性的提高，和/或(vii)被实施为一个或多个集成电路。本专利技术的各种实施例通常实施用于由照相机系统中的图像传感器的物理不可克隆功能生成物理不可克隆的唯一硬件标识值的技术。物理不可克隆功能可以基于传感器的与制造有关的随机特性(例如，特征值)。照相机系统通常至少包括图像传感器(例如，互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器或电荷耦合器件传感器)、一个或多个易失性存储器电路(例如，动态随机存取存储器)、一个或多个非易失性存储器电路(例如，闪速存储器)以及至少一个处理电路。图像传感器通常是具有多个感测元件(或像素)的电光传感器。感测元件可以被布置成二维阵列。每个感测元件可以被配置为由在图像传感器的表面处接收到的光来生成图片序列。图片序列通常存储在易失性存储器中并由处理电路进行处理。处理可以利用图像传感器的随机特性来计算唯一标识值。所述特性可以具有相对稳定的坏像素定位的形式。可以通过在多种照明条件下、多个温度下和/或多个操作电压下均显著偏离预期值的相应感测值(或坏值)来识别出坏像素定位。坏像素(或坏感测元件)通常在将光转化成电信号的过程中表现出不适当的性能。通常基于从由传感器生成的图片序列所收集到的统计数据来确定相对稳定的坏像素定位。可以通过对统计数据进行过滤而导出坏像素定位图案，以建立最差且相对稳定的坏像素列表。可以通过处理电路对坏像素列表中缓存的坏像素定位图案进行处理，以计算出传感器的唯一硬件标识值。接下来，可以将坏像素定位图案和/或唯一硬件标识值存储在非易失性存储器中。以后可以使用所存储的坏像素定位图案和/或唯一硬件标识值来检测传感器是否被物理更换和/或电子更换。还可以使用所存储的坏像素定位图案和唯一硬件标识值来判断是否更换了某一存储器电路。由传感器的与制造有关的坏像素图案导出唯一硬件标识值的特征可以是有益的，因为唯一硬件标识值实际上是不可克隆的，提供了高安全级别，不会引入新的硬件，降低了向照相机添加特征所带来的成本提高，并且避免了在添加特征时引起照相机的硬件复杂性的提高。参考图1，其显示了示出照相机/录像机系统(或设备)的示例性实施方式的照相机系统90的方框图。在一些实施例中，照相机系统90可以是数字视频照相机、数字静物照相机或者本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种设备，包括：接口，其被配置为从传感器中的多个感测元件接收多个感测值；以及处理器，其连接至所述接口并且被配置为(i)生成所述感测值之中的多个坏值的列表，以及(ii)基于所述坏值来计算所述传感器的唯一标识值，其中，所述坏值中的每个坏值指示所述感测元件中的对应的感测元件的不适当性能。

【技术特征摘要】
1.一种设备，包括：接口，其被配置为从传感器中的多个感测元件接收多个感测值；以及处理器，其连接至所述接口并且被配置为(i)生成所述感测值之中的多个坏值的列表，以及(ii)基于所述坏值来计算所述传感器的唯一标识值，其中，所述坏值中的每个坏值指示所述感测元件中的对应的感测元件的不适当性能。2.根据权利要求1所述的设备，其中，(i)所述传感器包括电光传感器，并且(ii)所述感测元件中的每个感测元件包括像素。3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述唯一标识值基于所述传感器中的与所述列表中的所述坏值相关联的所述感测元件的多个位置。4.根据权利要求3所述的设备，其中，通过对与所述列表中的所述坏值相关联的所述位置执行散列运算来计算所述唯一标识值。5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述处理器还被配置为(i)通过对与所述列表中的所述坏值相关联的所述位置执行不同的散列运算来生成额外的标识值，以及(ii)将所述额外的标识值合并到所述唯一标识值中。6.根据权利要求3所述的设备，其中，所述处理器还被配置为(i)将与所述列表中的所述坏值相关联的所述位置与存储在存储器中的多个已知位置进行比较，以及(ii)在与所述列表中的所述坏值相关联的所述位置不与所述已知位置相关的情况下指示所述传感器已经被更换。7.根据权利要求1所述的设备，其中，(i)所述处理器还被配置为基于所述感测值来计算多个分布值，(ii)所述分布值表征所述感测值的幅度分布，并且(iii)基于所述分布值来生成所述列表。8.根据权利要求7所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙鲁毅，何志，
申请(专利权)人：安霸公司，
类型：发明
国别省市：美国,US