一种系统磁盘分析方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种系统磁盘分析方法和装置。所述方法包括：确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；建立所述相关磁盘参数的分析顺序；对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。本发明专利技术的技术方案能够准确分析待测系统磁盘的性能情况，降低性能测试的测试难度，提高性能测试分析的效率和性能测试的质量，有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析。

【技术实现步骤摘要】
一种系统磁盘分析方法和装置
本专利技术涉及性能测试
，特别涉及一种系统磁盘分析方法和装置。
技术介绍
相对软件的功能测试，软件的性能测试具有更高的专业性和复杂度，性能测试的主要手段是通过模拟真实业务的压力对被测系统进行加压，研究被测系统在不同压力情况下的表现，找出潜在的性能瓶颈。该过程的实现需要经过从测试场景的设计到测试脚本的编写，再到测试环境的配置和测试结果的分析，才能最终实现被测系统的调试与优化。性能测试具有功能测试所不具备的专业性，性能测试的难度体现在性能测试用例的设计、测试结果的分析等过程，尤其是分析测试结果，分析难度很大，分析过程要求测试人员能够综合应用操作系统、网络、数据库服务器、应用服务器、WEB服务器等软硬件多方面的专业知识，在大量的测试结果数据中进行分析和推理，最终达到验证待测系统能否满足性能需求以及业务需求。即一个性能测试项目的质量如何，跟测试人员的素质、能力和经验是密不可分的。目前，已经有不少的工具能够完成性能测试，综合利用这些测试工具也能测出比较全面的性能指标数据，但是对于性能测试的测试结果数据的分析，目前还是依靠比较专业的性能测试人员并结合性能测试经验才能够完成，因此在对同样的测试结果进行分析时，可能由于测试人员的不同得出的结论差别较大，可能会将性能优化引向不同的方向。性能测试结果数据常见的分析指标包括内存、CPU、磁盘，并发用户，响应时间等，其中磁盘最容易出现性能瓶颈，磁盘是计算机系统中表现最慢的子系统之一。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术提供一种系统磁盘分析方法和装置，以降低性能分析过程中磁盘问题分析与定位的难度，提高性能测试的分析效率和性能测试的质量。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一方面，本专利技术提供了一种系统磁盘分析方法，该方法包括：确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；建立所述相关磁盘参数的分析顺序；对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。另一方面，本专利技术还提供了一种系统磁盘分析装置，该系统磁盘分析装置包括：磁盘参数确定单元，用于确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；分析顺序建立单元，用于建立所述相关磁盘参数的分析顺序；磁盘分析单元，用于对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。本专利技术实施例的有益效果是：本专利技术建立待测系统需要测试的每种相关磁盘参数的分析规则和相关磁盘参数的分析顺序，利用相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则对待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据进行磁盘分析，能够有效地降低磁盘性能分析过程中磁盘问题分析与定位的难度，从而降低了性能测试的门槛，使更多的测试人员能够胜任性能测试工作；而且能够显著地降低测试人员的工作量，提升性能测试的分析效率和性能测试的质量，缩短性能测试周期，降低性能测试成本。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的系统磁盘分析方法的流程图；图2为本专利技术实施例二提供的系统磁盘分析方法的流程图；图3为本专利技术实施例三提供的系统磁盘分析装置的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。实施例一：图1为本实施例提供的系统磁盘分析方法的流程图，如图1所示，图1中的方法包括：S110，确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则。S120，建立相关磁盘参数的分析顺序。S130，对待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。本实施例通过建立的相关磁盘参数的分析顺序和每种相关磁盘参数的分析规则对待测系统的磁盘性能测试数据进行磁盘分析，并生成相应的磁盘分析报告，能够准确分析待测系统磁盘的性能情况，降低性能测试的测试难度，提高性能测试分析的效率和性能测试的质量。本实施例的方法能够有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析。在本实施例的一个优选方案中，步骤S110中待测系统需要测试的相关磁盘参数包括：磁盘读写指令占用的时间百分比DiskTime、以秒计算的磁盘写入数据所需时间Disksec/Transfer、以秒计算的磁盘写入数据所需的平均时间Average.Disksec/Transfer以及读取和写入请求的平均数Avg.DiskQueueLength；在实际应用中通常使用sar和/或iostat等I/O命令查询磁盘的相关参数。则针对上述各磁盘参数的分析规则分为如下：DiskTime的分析规则为：判断磁盘参数DiskTime值是否满足第一阈值，在DiskTime值不满足第一阈值，且待测系统不存在内存泄露时，确定待测系统的磁盘存在问题；通常第一阈值设定为55％，在DiskTime值超过55％时，确定待测系统的磁盘可能存在问题。此时本实施例需进一步判断待测系统是否存在内存泄露的问题，若待测系统不存在内存泄露问题，则确定待测系统的磁盘存在问题。例如，可以通过判断系统参数特权模式下处理线程占用的时间百分比Processor％PrivilegedTime，即判断Processor％PrivilegedTime值是否满足第四阈值，在DiskTime值不满足第一阈值时，若该Processor％PrivilegedTime值亦不满足第四阈值，确定待测系统存在内存泄露；若该Processor％PrivilegedTime值满足第四阈值，确定待测系统的磁盘存在问题。本实施例中设定第四阈值为80％，若DiskTime值大于55％，且Processor％PrivilegedTime值持续大于80％，则确定待测系统存在内存泄露。Disksec/Transfer的分析规则为：判断磁盘参数Disksec/Transfer值是否满足第二阈值，在Disksec/Transfer值不满足第二阈值时，确定待测系统的磁盘可能存在问题；通常第二阈值设定为60ms，在Disksec/Transfer值持续超过60ms时，确定待测系统的磁盘存在问题。Average.Disksec/Transfer的分析规则为：判断磁盘参数Average.Disksec/Transfer值是否满足第三阈值，在Average.Disksec/Transfer值不满足第三阈值时，确定待测系统的磁盘存在磁盘碎片；通常第三阈值设定为18ms，在Average.Disksec/Transfer值超过18ms时，确定待测系统的磁盘存在磁盘碎片。Avg.DiskQueueLength的分析规则为：判断磁盘参数Avg.DiskQueueLength值是否大于设定值，在Avg.DiskQueueLength大于设定值时，确定待测系统需要增加磁盘；该设定值为待测系统磁盘个数的1.5倍。则基于上述各磁盘参数的分析规则分，步骤S120中的建立相关磁盘参数的分析顺序具体为：根据DiskTime的分析规则、Disksec/Transfer的分析规则、Average.Disksec/Transfer和Av本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种系统磁盘分析方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；建立所述相关磁盘参数的分析顺序；对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。

【技术特征摘要】
1.一种系统磁盘分析方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；建立所述相关磁盘参数的分析顺序；对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。2.根据权利要求1所述的系统磁盘分析方法，其特征在于，所述待测系统需要测试的相关磁盘参数包括：磁盘读写指令占用的时间百分比DiskTime、以秒计算的磁盘写入数据所需时间Disksec/Transfer、以秒计算的磁盘写入数据所需的平均时间Average.Disksec/Transfer以及读取和写入请求的平均数Avg.DiskQueueLength；所述DiskTime的分析规则为：判断所述磁盘参数DiskTime值是否满足第一阈值，在所述DiskTime值不满足第一阈值，且所述待测系统不存在内存泄露时，确定所述待测系统的磁盘存在问题；所述Disksec/Transfer的分析规则为：判断所述磁盘参数Disksec/Transfer值是否满足第二阈值，在所述Disksec/Transfer值不满足第二阈值时，确定待测系统的磁盘存在问题；所述Average.Disksec/Transfer的分析规则为：判断所述磁盘参数Average.Disksec/Transfer值是否满足第三阈值，在所述Average.Disksec/Transfer值不满足第三阈值时，确定待测系统的磁盘存在磁盘碎片；所述Avg.DiskQueueLength的分析规则为：判断所述磁盘参数Avg.DiskQueueLength值是否大于设定值，在所述Avg.DiskQueueLength大于设定值时，确定所述待测系统需要增加磁盘；该设定值为所述待测系统磁盘个数的1.5倍。3.根据权利要求2所述的系统磁盘分析方法，其特征在于，所述方法还包括：判断特权模式下处理线程占用的时间百分比Processor％PrivilegedTime值是否满足第四阈值；则所述DiskTime的分析规则具体为：在所述DiskTime值不满足第一阈值时，若所述Processor％PrivilegedTime值不满足第四阈值，确定所述待测系统存在内存泄露；若所述Processor％PrivilegedTime值满足第四阈值，确定所述待测系统的磁盘存在问题。4.根据权利要求2或3所述的系统磁盘分析方法，其特征在于，所述建立所述相关磁盘参数的分析顺序包括：根据所述DiskTime的分析规则、Disksec/Transfer的分析规则、Average.Disksec/Transfer和Avg.DiskQueueLength的分析规则依次分析磁盘参数DiskTime、Disksec/Transfer、Average.Disksec/Transfer和Avg.DiskQueueLength。5.根据权利要求4所述的系统磁盘分析方法，其特征在于，所述生成磁盘分析报告包括：在确定所述待测系统的磁盘存在问题时，将不满足第一阈值的磁盘参数DiskTime值记录在磁盘分析报告中；以及将不满足第二阈值的磁盘参数Disksec/Transfer值记录在磁盘分析报告中；在确定所述待测系统的磁盘存在磁盘碎片时，将不满足第三阈值的磁盘参数Average.Disksec/Transfer值记录在磁盘分析报告中；在确定所述待测系统需要增加磁盘时，将大于设定值的磁盘参数Avg.DiskQueueLength值记录在磁盘分析报告中。6.一种系统磁盘分析装置，其特征在于，所述系统磁盘分析装置包括：磁盘参数确定单元，用于确定待测系统需要...

【专利技术属性】
技术研发人员：王庆磊，
申请(专利权)人：北京神州泰岳软件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11