一种磁头芯片智能测试系统技术方案

本发明专利技术的一种磁头芯片智能测试系统，中央处理器与外部的PC上位机相连，中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，机械转盘上设有测试座，测试座中设有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针；测试平台上设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯。本发明专利技术具有提高芯片测试过程的工作效率和可靠性的积极效果。

【技术实现步骤摘要】
一种磁头芯片智能测试系统
本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种磁头芯片智能测试系统。
技术介绍
随着自动控制领域发展迅速，各种控制芯片在市场中都占有着巨大的份额。在芯片导入市场之前，需要进行详细仔细的测试，以确保芯片功能的正确无误和性能的达标可靠。公司设计的磁头芯片，在出厂前要进行一次出场测试，芯片放进测试座里面，通过刷卡方式，测试芯片功能是否正常，如果采取人工方式，不仅效率低，而且成本又高，长期手工刷卡,刷卡速度不好掌控，手也受不起长时间这样反复动作，严重影响了芯片的测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的即在于提供一种磁头芯片智能测试系统及其测试方法，以达到提高芯片测试过程的智能化控制以及芯片测试效率的目的。本专利技术所提供的一种磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，其特征在于，所述的中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测试座相对应；第二机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与测试过的IC分类归放区相配合；磁条卡槽过第三机械臂与磁条卡槽相配合；NFC射频卡通过第四机械臂与NFC磁场线圈相配合，此外，测试平台上还设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯，其中，光敏传感器、距离传感器分别连接磁条卡槽、NFC磁场线圈，光敏传感器用于监控刷卡速度，距离传感器用于监控测试NFC射频卡刷卡时的高度，并分别连接中央处理器；扬声器、红绿双色指示灯分别与中央处理器相连，另外，PC上位机具有PC上位机软件，所述PC上位机软件上设有磁头芯片测试控制程序。进一步的，正常工作状态下的红绿双色指示灯的绿灯处于点亮状态。进一步的，所述测试座中分别有两个IC卡槽。进一步的，所述磁头芯片测试控制程序又包括测试控制程序以及报警控制程序。进一步的，所述测试控制程序为协调中央处理器与测试平台上的电路机构和机械机构之间工作的控制流程。进一步的，所述报警控制程序为当检测到测试条件不在设定的规范范围内，暂停所有机械操作，当前测试任务被挂起，同时红绿双色指示灯的红灯被点亮，扬声器报警，排查后通过PC上位机上的继续按键，被挂起的任务继续执行，红灯熄灭，扬声器关闭警报，同时绿灯点亮。本专利技术所提供的一种磁头芯片智能测试系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：通过第一机械臂上的两个吸嘴，同时吸取两个IC卡，并放置在与其距离最近的测试座里面，测试座装好了2个IC卡后，PC机通过中央处理器控制机械转盘操作，机械转盘带动其上的测量座逆时针转动120度，使安装两个IC卡的测试座，在机械转盘的带动下，转动至与机械下压块下方相对应的位置，机械下压块下压，使两个IC卡能与测试座中IC卡槽底部的探针接触良好，此时步骤二开始运行，进行刷卡测试；步骤2：两个磁条卡垂直固定在第三机械臂上，使其能在相对应的卡槽里来回进行刷卡操作，PC上位机启动刷磁条卡动作，通过第三机械臂，用事先设置好的速度做来往返两次刷卡测试，其中，刷卡速度通过光敏传感器进行监控，此时步骤三开始运行；步骤3：上位机启动刷NFC射频卡动作，两张NFC射频卡分别吸附至第四机械臂上，操作第四机械臂4，使两张NFC射频卡分别在相对应的在NFC磁场线圈上方事先设置好的高度位置，左右来回的移动，测试解码能力，其中，NFC射频卡在NFC磁场线圈上的高度由距离传感器进行监控，此时步骤四开始运行；步骤4：刷卡测试完成后处于机械下压块下方的测试座，在PC机的控制下，机械转盘带动其上的测量座再次逆时针转动120度，使经机械下压块下压后的测量座，转至距离第二机械臂最近的位置，第二机械臂上的吸嘴把测试完后的IC卡吸取出来并放置分类归放区进行分类归放，重新运行步骤1。进一步的，当检测到测试条件不在设定的规范范围内，暂停所有机械操作，当前测试任务被挂起，同时红绿双色指示灯的红灯被点亮，扬声器报警，排查后通过PC上位机上的继续按键，被挂起的任务继续执行，红灯熄灭，扬声器关闭警报，同时绿灯点亮。本专利技术所提供的一种磁头芯片智能测试系统及其测试方法，PC上位机上安装有PC上位机软件，PC上位机软件中设有磁头芯片测试控制程序，磁头芯片测试控制程序又包括测试控制程序以及报警控制程序。通过测试控制程序，能够同时接收两个IC卡解码打印出来的信息，并判断当前解码是否成功。同时还能够在上位机上实时显示测试信息，包括当前测试解码是否成功、当前刷卡速度、电压、高度等。当测试在所测总数量里面出现超过一半数量解码不成功时，通过报警控制程序，磁头芯片智能测试系统会暂停下来，并发出警报，让测试人员对设备进行排查问题，排查问题后，继续使用本系统进行测试，从而提高了磁头芯片自动测试的智能化。且在测试的过程中，可以随时按PC上位机上的暂停按键进行暂停，并通过PC上位机上的继续按键，继续执行，另外，所有机械操作都可以单步执行，以便在测试人员可以进行单步调试，对问题进行定位排查。综上所述，本专利技术具有提高芯片测试过程的工作效率和可靠性的积极效果。附图说明图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术的磁头芯片测试控制程序；图3为本专利技术的报警控制程序的流程图。具体实施方式下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述：如图1-3所示，本专利技术所提供的一种磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，同时，所述的中央处理器连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，通过电源模块，自动调节输出电压给测试座中IC卡槽。机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测试座相对应；第二机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与测试过的IC分类归放区相配合；磁条卡通过第三机械臂与磁条卡槽相配合；NFC射频卡通过第四机械臂与NFC磁场线圈相配合，此外，测试平台上还设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯，其中，光敏传感器、距离传感器分别连接磁条卡槽、NFC磁场线圈，光敏传感器用于监控刷卡速度，距离传感器用于监控测试NFC射频卡刷卡时的高度，并分别连接中央处理器；扬声器、红绿双色指示灯分别本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，其特征在于，所述的中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测试座相对应；第二机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与测试过的IC分类归放区相配合；磁条卡通过第三机械臂与磁条卡槽相配合；NFC射频卡通过第四机械臂与NFC磁场线圈相配合，此外，测试平台上还设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯，其中，光敏传感器、距离传感器分别连接磁条卡槽、NFC磁场线圈，光敏传感器用于监控刷卡速度，距离传感器用于监控测试NFC射频卡刷卡时的高度，并分别连接中央处理器；扬声器、红绿双色指示灯分别与中央处理器相连。...

【技术特征摘要】
1.一种磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，其特征在于，所述的中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭龙吉，
申请(专利权)人：吉安市井开区吉军科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西,36