一种用于中子散射实验的温度加载装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于中子散射实验的温度加载装置，所述装置包括由炉体腔体、入射窗口板、出射窗口板和水冷管组成的加热炉组件、由伺服电缸、样品台面和样品台底座组成的平移样品台组件、由升降气缸、高位置限位开关、低位置限位开关、活动支架和升降底座组成的气动升降支架组件。本发明专利技术的用于中子散射实验的温度加载装置中的加热炉开设样品装入孔，与气动升降支架组件配合使用可完成样品的加热炉的自动装载与卸载，再协调平移样品台组件的走位状态，能够实现在中子散（衍）射实验中对多个样品进行原位温度环境加载和样品间的自动切换，可有效降低实验人员的劳动强度、射线照射风险，缩短样品切换时间。

【技术实现步骤摘要】
一种用于中子散射实验的温度加载装置
本专利技术属于中子散（衍）射应用中的环境加载
，具体涉及一种用于中子散射实验的温度加载装置。
技术介绍
中子散（衍）射技术具有无损检测和深穿透特性，可对材料的内部微观结构、界面结构、内部缺陷等特性进行直接测量，而材料的很多特性会受到所处温度环境的影响而发生变化，为了研究温度对材料特性的影响，需要利用原位温度加载装置改变被测样品的温度环境，再使用中子散（衍）射谱仪测量材料受温度影响的变化机制。由于中子测量实验现场存在中子、伽玛射线，为了降低照射剂量，实验人员往往将多个样品放置在样品台上，通过改变样品台位置切换测量样品。而若开展多个样品的原位温度实验，则需要实验人员手动将多个测量样品依次放置于温度加载腔内，增加了实验人员的劳动强度、射线照射风险，同时较长的人工操作时间也造成了中子束流的浪费。目前，中子散（衍）射技术正处于起步阶段，原位环境设备的设计也较少。中国专利文献库公开了名称为《一种用于中子衍射技术的原位应力-温度加载装置》的中国专利（专利号：201310032334）和名称为《一种用于中子衍射的原位温度加载装置》的中国专利（专利号：2015本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于中子散射实验的温度加载装置，其特征在于：所述的装置包括加热炉、平移样品台、气动升降支架；所述的加热炉包括炉体腔体（1）、入射窗口板（2）、出射窗口板（3）、水冷管（4），所述的平移样品台包括伺服电缸（5）、样品台面（6）、样品台底座（12），所述的气动升降支架包括升降气缸（7）、高位置限位开关（8）、低位置限位开关（9）、活动支架（10）、升降底座（11）；所述的炉体腔体（1）上开设中子入射孔、中子出射孔，底部开设样品装入孔；其连接关系是，入射窗口板（2）、出射窗口板（3）分别固定在炉体腔体（1）的中子入射孔、中子出射孔的外部，水冷管（4）安装在炉体腔体（1）的样品装入孔的外部周边；样...

【技术特征摘要】
1.一种用于中子散射实验的温度加载装置，其特征在于：所述的装置包括加热炉、平移样品台、气动升降支架；所述的加热炉包括炉体腔体（1）、入射窗口板（2）、出射窗口板（3）、水冷管（4），所述的平移样品台包括伺服电缸（5）、样品台面（6）、样品台底座（12），所述的气动升降支架包括升降气缸（7）、高位置限位开关（8）、低位置限位开关（9）、活动支架（10）、升降底座（11）；所述的炉体腔体（1）上开设中子入射孔、中子出射孔，底部开设样品装入孔；其连接关系是，入射窗口板（2）、出射窗口板（3）分别固定在炉体腔体（1）的中子入射孔、中子出射孔的外部，水冷管（4）安装在炉体腔体（1）的样品装入孔的外部周边；样品台面（6）固定安装在伺服电缸（5）上，伺服电缸（5）安装在样品台底座（12）上，样品台底座（12）位于地面上；活动支架（10）与升降气缸（7）的活动端连接，高位置限位开关（8）、低位置限位开关（9）从上至下固定安装在升降气缸（7）的行程高位置、低位置，升降气缸（7）安装在升降底座（11）上；炉体腔体（1）上部与活动支架（10）固定连接，升降底座（11）位于伺服电缸（5）侧面的地面上，炉体腔体（1）位于样品台面（6）的正上方。2.根据权利要求1所述的用于中子散射实验的温度加载装置，其特征在于：所述的炉体腔体（...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞蓓蓓，孙光爱，李新喜，屠小青，闫冠云，王燕，黄朝强，龚建，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院核物理与化学研究所，
类型：发明
国别省市：四川,51