基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置制造方法及图纸

技术编号:15594056 阅读:86 留言:0更新日期:2017-06-13 21:46
本发明专利技术属于空气颗粒物采样技术领域,尤其涉及一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置,包括储存工位箱体,所述储存工位箱体上带有电子制冷模块,所述储存工位箱体的上部和下部分别带有上通孔和下通孔,所述上通孔与密封盖配合,所述下通孔中与存储工位内胆配合,所述储存工位内胆由电机驱动其在直线轴承上上下移动,所述下通孔上放置一个上下贯通的存储工位膜桶,储存工位内胆深入到存储工位膜桶的内部。本装置设计了封闭的滤膜存储工位,利用半导体制冷技术,可以对温度进行调节,使温度维持在4℃或者20℃以下。

【技术实现步骤摘要】
基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置
本专利技术属于空气颗粒物采样
,尤其涉及一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置。
技术介绍
目前,环境空气PM10和PM2.5的测定(重量法)中提到,滤膜采集后,如不能立即称重,应在4℃条件下冷藏保存。针对自动换膜采样器,标准并未提及多滤膜在滤膜存储位置需要维持在什么温度范围内,所以大部分自动换膜采样器对滤膜的保存空间温度不做控制。但按照欧标(CEN12341:20145.1.8)要求,多滤膜系统,滤膜的保存空间温度应始终不大于20℃,防止被采集到的易挥发性物质的损失。因而亟待开发一种储存装置,能够方便快捷的将滤膜保存。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于克服上述技术的不足,而提供一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置。本专利技术为实现上述目的,采用以下技术方案:一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置,其特征在于:包括储存工位箱体,所述储存工位箱体上带有电子制冷模块,所述储存工位箱体的上部和下部分别带有上通孔和下通孔,所述上通孔与密封盖配合,所述下通孔中与存储工位内胆配合,所述储存工位内胆由电机驱动其在直线轴承上上下移动,所述下通孔上放置一个上下贯通的存储工位膜桶,储存工位内胆深入到存储工位膜桶的内部。本装置设计了封闭的滤膜存储工位,利用半导体制冷技术,可以对温度进行调节,使温度维持在4℃或者20℃以下。在滤膜保存空间的正上方,每次储存滤膜时电机带动储存工位内胆上升,从储存工位膜桶上升到上通孔的位置,放置滤膜后再下降到储存工位膜桶中,每次存储完滤膜后,加盖一个盖子,保证滤膜存储不受外界空气的影响,防止水分凝结。优选地,所述密封盖的两端分别与连接杆滑动配合,两个连接杆之间固定一个连接板,所述连接板的中部安装有直线电机,所述直线电机的输出端与所述密封盖连接,两个连接杆的上部固定在设备上。通过直线电机带动密封盖上下移动,密封盖的两端在连接杆的下部滑动,达到密封上通孔的目的。优选地,所述电子制冷模块通过铜管与导热块连接。调节储存工位箱体的温度。优选地,所述储存工位箱体上安装有工位门。便于取出滤膜。优选地,所述储存工位箱体内设有温湿度传感器。通过电子设备控制储存工位箱体内部的温度。本专利技术的有益效果是:相对于现有技术,基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置可以实现滤膜在特定温度范围内的存储,在国内标准不完善的情况下做出技术改变,既满足了欧标对滤膜存储的要求,又可以满足环境标准中滤膜低温冷藏保存的额外要求。同时,基于半导体制冷进行温度控制的自动换膜采样装置在拥有了温度可调基础上,可以应用于源解析采样和分析。附图说明图1是本专利技术的立体图;图2是本专利技术中装有储存工位膜桶的立体图;图3是本专利技术中另一个方向的立体图;图4是本专利技术的剖视图。具体实施方式下面结合附图及较佳实施例详细说明本专利技术的具体实施方式。如图1-图4所示,一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置,包括储存工位箱体1,储存工位箱体采用独特的设计技术,一共三层结构,保证了制冷的效果;在储存工位箱体的正上方,每次存储完滤膜后,加盖一个盖子,保证滤膜存储不受外界空气的影响,防止水分凝结。所述储存工位箱体上带有电子制冷模块2,所述储存工位箱体的上部和下部分别带有上通孔3和下通孔4,所述上通孔与密封盖5配合,所述下通孔中与存储工位内胆6配合,所述储存工位内胆由电机驱动其在直线轴承7上上下移动,所述下通孔上放置一个上下贯通的存储工位膜桶8,储存工位内胆深入到存储工位膜桶的内部。本装置设计了封闭的滤膜存储工位,利用半导体制冷技术,可以对温度进行调节,使温度维持在4℃或者20℃以下。在滤膜保存空间的正上方,每次储存滤膜时电机带动储存工位内胆上升,从储存工位膜桶上升到上通孔的位置,放置滤膜后再下降到储存工位膜桶中,每次存储完滤膜后,加盖一个盖子,保证滤膜存储不受外界空气的影响,防止水分凝结。本装置首先设计了独立的卸膜装置,卸膜装置上加装密封盖,保证此装置在低温存储过程中的密封性。其次,本专利技术设计了一种驱动和控制电路,利用温度传感器检测与反馈信息,实时地调整卸膜装置内的温度范围。第三,此装置外加入温控器,利用温控器可以设置卸膜装置内的温度控制范围,通过控制电路和程序来实现,满足多种条件下滤膜存储的要求。为了保证储存工位箱体的密封性,所述密封盖的两端分别与连接杆9滑动配合,两个连接杆之间固定一个连接板10,所述连接板的中部安装有直线电机11,所述直线电机的输出端与所述密封盖连接,两个连接杆的上部固定在设备上。通过直线电机带动密封盖上下移动,密封盖的两端在连接杆的下部滑动,达到密封上通孔的目的。所述电子制冷模块通过铜管15与导热块12连接,调节储存工位箱体的温度。半导体制冷的发热一面,通过铜丝将热量导到机箱上进行散热,避免机箱内部温度过高。为了便于取出滤膜,所述储存工位箱体上安装有工位门13。为了控制储存工位箱体内部的温度,所述储存工位箱体内设有温湿度传感器14。通过电子设备控制储存工位箱体内部的温度。利用称重法进行颗粒物连续监测,还需要解决称重模块的温湿度问题,因为温湿度对称重结果的影响比较大。本系统基于传感器以及控制电路,设计了温度补偿技术、湿度平衡技术,很好地解决了温湿度对称重的影响。基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置可以实现滤膜在特定温度范围内的存储,在国内标准不完善的情况下做出技术改变,既满足了欧标对滤膜存储的要求,又可以满足环境标准中滤膜低温冷藏保存的额外要求。同时,基于半导体制冷进行温度控制的自动换膜采样装置在拥有了温度可调基础上,可以应用于源解析采样和分析。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置

【技术保护点】
一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置,其特征在于:包括储存工位箱体,所述储存工位箱体上带有电子制冷模块,所述储存工位箱体的上部和下部分别带有上通孔和下通孔,所述上通孔与密封盖配合,所述下通孔中与存储工位内胆配合,所述储存工位内胆由电机驱动其在直线轴承上上下移动,所述下通孔上放置一个上下贯通的存储工位膜桶,储存工位内胆深入到存储工位膜桶的内部。

【技术特征摘要】
1.一种基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置,其特征在于:包括储存工位箱体,所述储存工位箱体上带有电子制冷模块,所述储存工位箱体的上部和下部分别带有上通孔和下通孔,所述上通孔与密封盖配合,所述下通孔中与存储工位内胆配合,所述储存工位内胆由电机驱动其在直线轴承上上下移动,所述下通孔上放置一个上下贯通的存储工位膜桶,储存工位内胆深入到存储工位膜桶的内部。2.根据权利要求1所述的基于半导体制冷进行温度控制的滤膜存储装置,其特征在于:所述密封盖的两端分别与连接杆滑动配合...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈文亮樊海春汪锋丛凯俞晓涛陈占全
申请(专利权)人:天津同阳科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:天津,12

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