一种内存检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种内存检测方法及装置，其中，方法包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个待测内存颗粒的位置参数；并根据待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的有效访问区域，访问待测内存，并形成访问结果；S4：判断访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。通过本发明专利技术的技术方案，可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。

Memory detection method and device

The invention provides a memory detection method and device, the method: S0: make sure to be measured in memory corresponding to the same number of bits to be measured data failure memory particles, and determine each memory location to be measured particle parameters; and according to the number of memory particles to be measured to determine at least one detection parameters; S1: according to each test parameter, choose a non selected through a detection parameter; S2: according to the detection parameters, modify the effective access memory area to be tested; S3: according to the modified effective access area, access to the measured memory, and form the results of the visit; S4: the results of the visit is to access the default judgment results, if it is, then executing step S1; otherwise, step S5; S5: according to the test parameters, and each memory particles measured position parameters Fault memory particles are determined. Through the technical proposal of the invention, the memory particles of the memory can be detected more accurately.

【技术实现步骤摘要】
一种内存检测方法及装置
本专利技术涉及计算机
，特别涉及一种内存检测方法及装置。
技术介绍
随着内存技术朝着大容量方向的发展，一个内存通常可以包括多个rank，每一个rank通常可以包括多个内存颗粒。目前，利用业界通用的内存测试工具(比如，memtest86+以及RSTPro等)对待测内存进行测试时，仅需要将待测内存与处理器相连，则可在处理器上运行内存测试工具，以检测处理器的每一个数据位是否失效，进而将失效的数据位对应的每一个内存颗粒均确定为故障内存颗粒。由于同一个数据位可对应待测内存中的多个内存颗粒，而任意一个内存颗粒出现故障时，均会导致其对应的数据位失效，因此，上述技术方案确定的多个故障内存颗粒中可能存在未发生故障的内存颗粒，不能准确检测出内存的故障内存颗粒。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种内存检测方法及装置，可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。第一方面，本专利技术提供了一种内存检测方法，包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；S4：判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。优选地，所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由小到大的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；则，所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问成功；所述根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：按照由小到大的顺序，利用至少一个检测参数生成第一数据队列，以及，利用各个所述待测内存颗粒的位置参数生成第二数据队列；确定选择的检测参数在所述第一数据队列中的第一顺序位a；将所述第二数据队列中，位于第a个顺序位的位置参数确定为第一参考位置参数；将所述第一参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。优选地，所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由大到小的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；则，所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问失败；所述根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：按照由大到小的顺序，利用至少一个检测参数生成第三数据队列，以及，利用各个待测内存颗粒的位置参数生成第四数据队列；确定选择的检测参数在所述第三数据队列中的第二顺序位b；将所述第四顺序队列中，位于第b-1个顺序位的位置参数确定为第二参考位置参数；将所述第二参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。优选地，所述确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数，包括：确定待测内存对应的一个失效数据位，以及确定待测内存中内存颗粒的数量以及颗粒位宽；根据所述内存颗粒的数量、所述颗粒位宽及所述失效数据位，确定所述待测内存颗粒的数量，以及每一个所述待测内存颗粒分别对应的位置参数。优选地，所述根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域，包括：将所述待测内存的有效rank参数修改为选择的检测参数；所述根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，包括：根据修改后的有效rank参数，依次访问所述待测内存的前n+1个rank，其中，n为选择的检测参数。第二方面，本专利技术实施例提供了一种内存检测装置，包括：第一确定模块，用于确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；选择模块，用于根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；处理模块，用于根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；检测模块，用于根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；判断模块，用于判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则触发所述选择模块；否则，触发所述第二确定模块；第二确定模块，用于根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。优选地，所述选择模块，用于根据每一个检测参数的大小，按照由小到大的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；所述判断模块，用于判断所述访问结果是否为访问成功；所述第二确定模块，包括：第一构建单元、第一确定单元、第二确定单元和第三确定单元；其中，所述第一构建单元，用于按照由小到大的顺序，利用至少一个检测参数生成第一数据队列，以及，利用各个所述待测内存颗粒的位置参数生成第二数据队列；所述第一确定单元，用于确定选择的检测参数在所述第一数据队列中的第一顺序位a；所述第二确定单元，用于将所述第二数据队列中，位于第a个顺序位的位置参数确定为第一参考位置参数；所述第三确定单元，用于将所述第一参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。优选地，所述选择模块，用于根据每一个检测参数的大小，按照由大到小的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；所述判断模块，用于判断所述访问结果是否为访问失败；所述第二确定模块，包括：第二构建单元、第四确定单元、第五确定单元和第六确定单元；其中，所述第二构建单元，用于按照由大到小的顺序，利用至少一个检测参数生成第三数据队列，以及，利用各个待测内存颗粒的位置参数生成第四数据队列；所述第四确定单元，用于确定选择的检测参数在所述第三数据队列中的第二顺序位b；所述第五确定单元，用于将所述第四顺序队列中，位于第b-1个顺序位的位置参数确定为第二参考位置参数；所述第六确定单元，用于将所述第二参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。优选地，所述第一确定模块，包括：第七确定单元和第八确定单元；其中，所述第七确定单元，用于确定待测内存对应的一个失效数据位，以及确定待测内存中内存颗粒的数量以及颗粒位宽；所述第八确定单元，用于根据所述内存颗粒的数量、所述颗粒位宽及所述失效数据位，确定所述待测内存颗粒的数量，以及每一个所述待测内存颗粒分别对应的位置参数。优选地，所述处理模块，用于将所述待测内存的有效rank参数修改为选择的检测参数；所述检测模块，用于根据修改后的有效rank参数，依次访问所述待测内存的前n+1个rank，其中，n为选择的检测参数。本专利技术实施例提供了一种内存检测方法及装置，在该方法中，由于对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量即为待测内存的rank数量，同时，需要根据设置待测内存的有效访问区域才能访问待测内存，且访问待测内存的多个rank时具备设定的顺序；因此，可根据确定的对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量来确定至少一个检测参数(比如，待测内存颗粒的数量为2时，即待测内存的rank数量为2时，则可确定出检测参数为0和1；在待测内存颗粒的数量为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存检测方法，其特征在于，包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；S4：判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。

【技术特征摘要】
1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；S4：判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。2.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由小到大的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；则，所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问成功；所述根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：按照由小到大的顺序，利用至少一个检测参数生成第一数据队列，以及，利用各个所述待测内存颗粒的位置参数生成第二数据队列；确定选择的检测参数在所述第一数据队列中的第一顺序位a；将所述第二数据队列中，位于第a个顺序位的位置参数确定为第一参考位置参数；将所述第一参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。3.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由大到小的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；则，所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问失败；所述根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：按照由大到小的顺序，利用至少一个检测参数生成第三数据队列，以及，利用各个待测内存颗粒的位置参数生成第四数据队列；确定选择的检测参数在所述第三数据队列中的第二顺序位b；将所述第四顺序队列中，位于第b-1个顺序位的位置参数确定为第二参考位置参数；将所述第二参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。4.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，所述确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数，包括：确定待测内存对应的一个失效数据位，以及确定待测内存中内存颗粒的数量以及颗粒位宽；根据所述内存颗粒的数量、所述颗粒位宽及所述失效数据位，确定所述待测内存颗粒的数量，以及每一个所述待测内存颗粒分别对应的位置参数。5.根据权利要求1至4中任一所述的内存检测方法，其特征在于，所述根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域，包括：将所述待测内存的有效rank参数修改为选择的检测参数；所述根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，包括：根据修改后的有效rank参数，依次访问所述待测内存的前n+1个rank，其中，n为选择的检测参数。...

【专利技术属性】
技术研发人员：周茂庸，王为，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41